光耦自檢電路

① 怎樣設計一個電路測試光耦的好壞

用DC5V電源，經過一個電阻衰減，一個按鍵，接入光耦輸入其中一端，另一端接地，光耦輸出端一端經上拉電阻接+5V,另一端接LED顯示，LED-接地即可。
檢測：
1、比較法拆下懷疑有問題的光耦，用萬用表測量其內部二極體、三極體的正反向電阻值，用其與好的光耦對應腳的測量值進行比較，若阻值相差較大，則說明光耦已損壞。
2、數字萬用表檢測法下面以EL817光耦檢測為例來說明數字萬用表檢測的方法。檢測時將光耦內接二極體的＋端{1}腳和－端{2}腳分別插入數字萬用表的Hfe 的c、e插孔內，此時數字萬用表應置於NPN擋；然後將光耦內接光電三極體C極{5}腳接指針式萬用表的黑表筆，e極{4}腳接紅表筆，並將指針式萬用表撥在RX1k擋。這樣就能通過指針式萬用表指針的偏轉角度——實際上是光電流的變化，來判斷光耦的情況。指針向右偏轉角度越大，說明光耦的光電轉換效率越高，即傳輸比越高，反之越低；若表針不動，則說明光耦已損壞。
3、光電效應判斷法仍以EL817光耦合器的檢測為例，檢測電路如圖2所示。將萬用表置於RX1k電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端{4}、{5}腳；然後用一節1．5V的電池與一隻50～100Ω的電阻串接後，電池的正極端接EL817的{1}腳，負極端碰接{2}腳，或者正極端碰接{1}腳，負極端接{2}腳，這時觀察接在輸出端萬用表的指針偏轉情況。如果指針擺動，說明光耦是好的，如果不擺動，則說明光耦已損壞。萬用表指針擺動偏轉角度越大，表明光電轉換靈敏度越高。

② 使用光耦設計一種配合單片機的檢測電路,

Q? MOS 管部分模擬有漏電情況存在400uA左右(該mos管模擬該電路檢測其他電路系統功能)，想在P2.0網路檢測到高電平或者低電平兩種情況。單片機為3.3V
mos管是模擬被檢測電路通或斷的兩種情況，在斷開的情況下存在400uA左右的漏電

估計是你的MOS管有問題，不然漏電流不該這么大。可以通過這樣幾個方案解決：
1、更換MOS管。
2、改變電路結構，MOS管S接地，漏極接光耦發光二極體。
3、改換三極體，MOS管換成普通三極體。

③ PC817光耦如何檢測

「潮光光耦網」專注品牌高端光電耦合器。
第一類型的光電耦合器，輸入端工作壓降約為1.2V，輸入最大電流50mA，典型應用值為10 mA；輸出最大電流1A左右，因而可直接驅動小型繼電器，輸出飽合壓降小於0.4V。可用於幾十kHz較低頻率信號和直流信號的傳輸。對輸入電壓/電流有極性要求。當形成正向電流通路時，輸出側兩引腳呈現通路狀態，正向電流小於一定值或承受一定反向電壓時，輸出側兩引腳之間為開路狀態。
測量方法：
數字表二極體檔，測量輸入側正向壓降為1.2V，反向無窮大。輸出側正、反壓降或電阻值均接近無窮大；
指針表的x10k電阻檔，測其1、2腳，有明顯的正、反電阻差異，正向電阻約為幾十kΩ，反向電阻無窮大；3、4腳正、反向電阻無窮大；
兩表測量法。用指針式萬用表的x10k電阻檔（能提供15V 或9V、幾十μA的電流輸出），正向接通1、2腳（黑筆搭1腳），用另一表的電阻檔用x1k測量3、4腳的電阻值，當1、2腳表筆接入時，3、4腳之間呈現20kΩ左右的電阻值，脫開1、2腳的表筆，3、4腳間電阻為無窮大。
可用一個直流電源串入電阻，將輸入電流限制在10mA以內。輸入電路接通時，3、4腳電阻為通路狀態，輸入電路開路時，3、4腳電阻值無窮大。
3、4種測量方法比較准確，如用同型號光耦器件相比較，甚至可檢測出失效器件（如輸出側電阻過大）。
上述測量是滲喚新器件裝機前的必要過程。對上線不便測量的情況下，必要時也可將器件從電路中拆下，離線測量，進一步判斷器件的好壞。
在實際檢修中，離線電阻測量不是很便利，上電檢測則較為方便和准確。要採取措施，將輸入側電路變動一下，根據輸出側產生的相應的變化（或無變化），測量判斷該器件的好壞。即打破故障電路中的「平衡狀態」，使之出現「暫態失衡」，從而將故障原因暴露出來。光耦器件的輸入、輸出側在電路中串有限流電阻，在上電檢測中，可用減小（並聯型圓）電阻和加大電阻的方法（將其開路）等方法，配合輸出側的電壓檢測，判斷光耦卜喊塌器件的好壞。部分電路中，甚至可用直接短接或開路輸入側、輸出側，來檢測和觀察電路的動態變化，利於判斷故障區域和檢修工作的開展。
測量時的注意事項：光耦器件的一側可能與「強電」有直接聯系，觸及會有觸電危險，建議維修過程中為機器提供隔離電源！

④ 可以提供一個檢測4504高速光耦的好壞的電路嗎

光耦好壞的直接測量.我多年的測量經驗,先看圖如下.
用兩個萬用表,一個數字的一個指針的,指針的用電阻的*10檔,數字的用二極體檔.原理我不說了,大家自己想吧.用兩個手拿兩對表筆同時在路測(這個比沖漏較難,光耦拆下來更難,不過也是可以測出的),當指針表測上1,2時數字表顯示0.116(大概范圍),指針表離開時數字表馬上變或孫為1,這個光耦是好的,否則是壞的.
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⑤ 怎麼用光耦或者555晶元做一個比較簡單的市電檢測電路。就是220Vac接通得到一個電平，掉電馬上取得相反電平

請用交流檢測光耦 ACPL-217，

先用變壓器將 市電變弱 然後到ACPL-217 隔離 後邊 家反相器即可。

⑥ 怎麼檢測光耦的好壞

用兩個萬用表就可以測了。
光電耦合器由發光二極體和受光三極體封裝組成。如光電耦合器4N25，採用DIP－6封裝，共六個引腳，①、②腳分別為陽、陰極，③腳為空腳，④、⑤、⑥腳分別為三極體的e、c、b極。
以往用萬用表測光耦時，只分別檢測判斷發光二極體和受光三極體的好壞，對光耦的傳輸性能未進行判斷笑純。碰橘咐這里以光耦4N25為例，介紹一種測量光耦傳輸特性的方法。
1．
判斷發光二極體好壞與極性：用萬用表R×1k擋測量二極體的正、負向電阻，正向電阻一般為幾千歐到幾十千歐，反向電阻一般應為∞。測得電阻小的那次，紅筆接的是二極體的負極。
2．
判斷受光三極體的好壞與放大倍數：將萬用表開關從電阻擋撥至三極體hFE擋，使用NPN型插座，將E孔連接④腳發射極，C孔連接⑤腳集電極，B孔連接⑥腳基極，顯示值即為三極體的電流放大倍數。一般通用型光耦hFE值為一百至幾百，若顯示值為零或溢出為∞，則表明三極體短路或開路，已損壞。
3．
光耦傳輸特性的測量：測試具體接線見下圖，將數字萬用表開關撥至二極體擋位，黑筆接發射極，紅筆接集電極，⑥腳基極懸空。這時，表內基準電壓2．8V經表內二極體擋的測量電路，加到三極體的c、e結之間。但由於輸入二極體端無光電信號而不導通，液晶顯示器顯示溢出符號。當輸入端②腳插入E孔，①腳插入C孔的NPN插座時，表內基準電源2．8V經表內三極體hFE擋的測量電路，使發光二極體發光，受光三極體因光照而導通，顯示值由溢出符號瞬間變到188的示值。當斷開①腳陽極與C孔的插接時，顯示值瞬間從188示值又回到溢出符號。不同的光耦，傳輸特性與效率也不相同，可選擇示值稍小、顯示值穩定不跳動的光耦應用。
由於表內多使用9V疊層電池，故給輸入端二極體加電的時間伍彎不能過長，以免降低電池的使用壽命及測量精度，可採用斷續接觸法測量。
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⑦ 怎樣判斷光耦的好壞

方法：用數字萬用表的PN結測量端，紅表筆「電池+極」接光耦的「1」端，黑表筆「電池-極」接光耦的「2」端（即使光耦的發光二極體正向導通），用另一電表測量「3」「4」端電阻，斷開或接通輸入端（發光二極體端），輸出端電阻應有大幅度變化，說明改光耦是好的。另發光二極體端萬用表可用電池串限流電阻代替。

在彩電，顯示器等開關電源維修中如果光耦損壞，一定要用線性光耦代換。

常用的4腳線性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六腳線性光耦有：TLP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。

常用的4N25 4N264N354N36是不適合用於開關電源中的，因為這4種光耦均屬於非線性光耦。

(7)光耦自檢電路擴展閱讀：

光電耦合器分為兩種：一種為非線性光耦，另一種為線性光耦。

非線性光耦的電流傳輸特性曲線是非線性的，這類光耦適合於開關信號的傳輸，不適合於傳輸模擬量。常用的4N系列光耦屬於非線性光耦。

線性光耦的電流傳輸特性曲線接近直線，並且小信號時性能較好，能以線性特性進行隔離控制。常用的線性光耦是PC817A—C系列。

開關電源中常用的光耦是線性光耦。如果使用非線性光耦，有可能使振盪波形變壞，嚴重時出現寄生振盪，使數千赫的振盪頻率被數十到數百赫的低頻振盪依次為號調制。由此產生的後果是對彩電，彩顯，VCD，DCD等等，將在圖像畫面上產生干擾。

同時電源帶負載能力下降。在彩電，顯示器等開關電源維修中如果光耦損壞，一定要用線性光耦代換。常用的4腳線性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六腳線性光耦有：LP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不適合用於開關電源中的，因為這4種光耦均屬於非線性光耦。

由於光電耦合器的品種和類型非常多，在光電子DATA手冊中，其型號超過上千種，通常可以按以下方法進行分類：

⑴按光路徑分，可分為外光路光電耦合器（又稱光電斷續檢測器）和內光路光電耦合器。外光路光電耦合器又分為透過型和反射型光電耦合器。

⑵按輸出形式分，可分為：

a、光敏器件輸出型，其中包括光敏二極體輸出型，光敏三極體輸出型，光電池輸出型，光可控硅輸出型等。

b、NPN三極體輸出型，其中包括交流輸入型，直流輸入型，互補輸出型等。

c、達林頓三極體輸出型，其中包括交流輸入型，直流輸入型。

d、邏輯門電路輸出型，其中包括門電路輸出型，施密特觸發輸出型，三態門電路輸出型等。

e、低導通輸出型（輸出低電平毫伏數量級）。

f、光開關輸出型（導通電阻小於10Ω）。

g、功率輸出型（IGBT/MOSFET等輸出）。

⑶按封裝形式分，可分為同軸型，雙列直插型，TO封裝型，扁平封裝型，貼片封裝型，以及光纖傳輸型等。

⑷按傳輸信號分，可分為數字型光電耦合器（OC門輸出型，圖騰柱輸出型及三態門電路輸出型等）和線性光電耦合器（可分為低漂移型，高線性型，寬頻型，單電源型，雙電源型等）。

⑸按速度分，可分為低速光電耦合器（光敏三極體、光電池等輸出型）和高速光電耦合器（光敏二極體帶信號處理電路或者光敏集成電路輸出型）。

⑹按通道分，可分為單通道，雙通道和多通道光電耦合器。

⑺按隔離特性分，可分為普通隔離光電耦合器（一般光學膠灌封低於5000V，空封低於2000V）和高壓隔離光電耦合器（可分為10kV，20kV，30kV等）。

⑻按工作電壓分，可分為低電源電壓型光電耦合器（一般5～15V）和高電源電壓型光電耦合器（一般大於30V）。

光耦合器的主要優點是單向傳輸信號，輸入端與輸出端完全實現了電氣隔離，抗干擾能力強，使用壽命長，傳輸效率高。它廣泛用於電平轉換、信號隔離、級間隔離、開關電路、遠距離信號傳輸、脈沖放大、固態繼電器(SSR）、儀器儀表、通信設備及微機介面中。

由於光電耦合器的輸入阻抗與一般干擾源的阻抗相比較小，因此分壓在光電耦合器的輸入端的干擾電壓較小，它所能提供的電流並不大，不易使半導體二極體發光；由於光電耦合器的外殼是密封的，它不受外部光的影響；光電耦合器的隔離電阻很大（約1012Ω）、隔離電容很小（約幾個pF）所以能阻止電路性耦合產生的電磁干擾。

線性方式工作的光電耦合器是在光電耦合器的輸入端加控制電壓，在輸出端會成比例地產生一個用於進一步控制下一級的電路的電壓。

線性光電耦合器由發光二極體和光敏三極體組成，當發光二極體接通而發光，光敏三級管導通，光電耦合器是電流驅動型，需要足夠大的電流才能使發光二極體導通，如果輸入信號太小，發光二極體不會導通，其輸出信號將失真。在開關電源，尤其是數字開關電源中。

採用一隻光敏三極體的光耦合器，CTR的范圍大多為20%～300%（如4N35），而PC817則為80%～160%，達林頓型光耦合器（如4N30）可達100%～5000%。這表明欲獲得同樣的輸出電流，後者只需較小的輸入電流。因此，CTR參數與晶體管的hFE有某種相似之處。線性光耦合器與普通光耦合器典型的CTR-IF特性曲線。

普通光耦合器的CTR-IF特性曲線呈非線性，在IF較小時的非線性失真尤為嚴重，因此它不適合傳輸模擬信號。線性光耦合器的CTR-IF特性曲線具有良好的線性度，特別是在傳輸小信號時，其交流電流傳輸比（ΔCTR=ΔIC/ΔIF)很接近於直流電流傳輸比CTR值。因此，它適合傳輸模擬電壓或電流信號，能使輸出與輸入之間呈線性關系。這是其重要特性。

以下為光電耦合器的常用參數：

1 反向電流IR：在被測管兩端加規定反向工作電壓VR時，二極體中流過的電流。

2 反向擊穿電壓VBR：被測管通過的反向電流IR為規定值時，在兩極間所產生的電壓降。

3 正向壓降VF：二極體通過的正向電流為規定值時，正負極之間所產生的電壓降。

4 正向電流IF：在被測管兩端加一定的正向電壓時二極體中流過的電流。結電容CJ：在規定偏壓下，被測管兩端的電容值。

5 反向擊穿電壓V(BR)CEO：發光二極體開路，集電極電流IC為規定值，集電極與發射集間的電壓降。

6 輸出飽和壓降VCE(sat)：發光二極體工作電流IF和集電極電流IC為規定值時，並保持IC/IF≤CTRmin時（CTRmin在被測管技術條件中規定）集電極與發射極之間的電壓降。

7 反向截止電流ICEO：發光二極體開路，集電極至發射極間的電壓為規定值時，流過集電極的電流為反向截止電流。

8 電流傳輸比CTR：輸出管的工作電壓為規定值時，輸出電流和發光二極體正向電流之比為電流傳輸比CTR。

9 脈沖上升時間tr,下降時間tf：光耦合器在規定工作條件下，發光二極體輸入規定電流IFP的脈沖波，輸出端管則輸出相應的脈沖波，從輸出脈沖前沿幅度的10%到90%，所需時間為脈沖上升時間tr。從輸出脈沖後沿幅度的90%到10%，所需時間為脈沖下降時間tf。

10 傳輸延遲時間tPHL,tPLH：從輸入脈沖前沿幅度的50%到輸出脈沖電平下降到1.5V時所需時間為傳輸延遲時間tPHL。從輸入脈沖後沿幅度的50%到輸出脈沖電平上升到1.5V時所需時間為傳輸延遲時間tPLH。

11 入出間隔離電容CIO：光耦合器件輸入端和輸出端之間的電容值。

12 入出間隔離電阻RIO：半導體光耦合器輸入端和輸出端之間的絕緣電阻值。

13 入出間隔離電壓VIO：光耦合器輸入端和輸出端之間絕緣耐壓值.

⑧ 光耦怎麼測好壞，怎麼檢測光耦的好壞

提起光耦怎麼測好壞，大家都知道，有人問怎麼檢測光耦的好壞？另外，還有人想問光耦這么測量，才能知道好壞，你知道這是怎麼回事？其實光電耦合器怎麼檢測好壞？下面就一起來看看怎麼檢測光耦的好壞？希望能夠幫助到大家！

光耦怎麼測好壞

1、光耦怎麼測好壞:怎麼檢測光耦的好壞？

用兩個萬用表就可以測了。

光電耦合器由發光二極體和受光三極體封裝組成。如光電耦合器，採用DIP－6封裝，共六個引腳，①、②腳分別為陽、陰極，③腳為空腳，④、⑤、⑥腳分別為三極體的e、c、b極。光耦的4個腳怎樣區分好壞。

光電耦合器怎麼檢測好壞？

以往用萬用表測光耦時，只分別檢測判斷發光二極體和受光三極體的好壞，對光耦的傳輸性能未進行判斷。這里以光耦為例，介紹一種測量光耦傳輸特性的方法。判斷發光二極體好壞與極性：用萬用表R×1k擋測量二極體的正、負向電阻，正向電阻一般為幾千歐到幾十千歐，反向電阻一般應為∞。測得電阻小的那次，紅筆接的是二極體的負極。判斷受光三極體的好壞與放大倍數：將萬用表開關從電阻擋撥至三極體hFE擋，使用NPN型插座，將E孔連接④腳發射極，C孔連接⑤腳集電極，B孔連接⑥腳基極，顯示值即為三極體的電流放大倍數。一般通用型光耦hFE值為一百至幾百，若顯示值為零或溢出為∞，則表明三極體短路或開路，已損壞。光耦傳輸特性的測量：測試具體接線見下圖，將數字萬用表開關撥至二極體擋位，黑筆接發射極，紅筆接集電極，⑥腳基極懸空。這時，表內基準電壓2．8V經表內二極體擋的測量電路，加到三極體的c、e結之間。但由於輸入二極體端無光號而不導通，液晶顯示器顯示溢出號。當輸入端②腳E孔，①腳C孔的NPN插座時，表內基準電源2．8V經表內三極體hFE擋的測量電路，使發光二極體發光，受光三極體因光照而導通，顯示值由溢出號瞬間變到的示值。當斷開①腳陽極與C孔的插接時，顯示值瞬間從示值又回到溢出號。不同的光耦，傳輸特性與效率也不相同，可選擇示值稍小、顯示值穩定不跳動的光耦應用。

由於表內多使用9V疊層電池，故給輸入端二極體加電的時間不能過長，以免降低電池的使用壽命及測量精度，可採用斷續接觸法測量。查看原帖>>

2、光耦怎麼測好壞:光耦這么測量，才能知道好壞

一般來說，光耦的輸出級是光電三極體，其基極要靠輸入端的發光二極體來出基極電流（）如下圖）。給輸入端的發光二極體通以適當的電流時，好的光耦輸出級三極體就哪擾會導通。利用這個特性就可以初步判斷光耦的好壞，當然要看光耦的參數是否合指標還要進行多項測量。光耦817怎測好壞。

3、光耦怎麼測好壞:光電耦合器怎麼檢測好壞？

光電耦合器——又稱光耦合器或光耦，它屬於較新型的李寬旦電子產品，現在它廣泛應用於計算機、音……各種控制電路中。由於光耦內部的發光二極體和光敏三極體只是把電路前後級的電壓或電流變化，轉化為光的變化，二者之間沒有電氣連接，因此能有效隔路間的電位聯系，實現電路之間的可靠隔離。

判斷光耦的好壞，可在路測量其內部二極體和三極體的正反向電阻來確定。更可靠的檢測方法是以下三種。

1．比較法拆下懷疑有問題的光耦，用萬用表測量其內部二極體、三極體的正反向電阻值，用其與好的光耦對應腳的測量值進行比較，若阻值相差較大，則說明光耦已損壞。

2．數字萬用表檢測法下面以光耦檢測為例來說明數字萬用表檢測的方法，檢測電路如圖1所示。檢測時將光耦內接二極體的＋端{1}腳和－端{2}腳分別數字萬用表的Hfe的c、e插孔內，此時數字萬用表應置於NPN擋；然後將光耦內接光電三極體c極{5}腳接指針式萬用表的黑表筆，e極{4}腳接紅表筆，並將指針式萬用表撥在R×1k擋。這樣就能通過指針式萬用表指針的偏轉角度——實際上是光電流的變化，來判斷光耦的情況。指針向右偏轉角度越大，說明光耦的光電轉換效率越高巧笑，即傳輸比越高，反之越低；若表針不動，則說明光耦已損壞。top257yn電路圖。

3．光電效應判斷法仍以光耦合器的檢測為例，檢測電路如圖2所示。將萬用表置於R×1k電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端{4}、{5}腳；然後用一節1．5V的電池與一隻50～Ω的電阻串接後，電池的正極端接的{1}腳，負極端碰接{2}腳，或者正極端碰接{1}腳，負極端接{2}腳，這時觀察接在輸出端萬用表的指針偏轉情況。如果指針擺動，說明光耦是好的，如果不擺動，則說明光耦已損壞。萬用表指針擺動偏轉角度越大，表明光電轉換靈敏度越高。8腳光耦的檢測方法。

以上就是與怎麼檢測光耦的好壞？相關內容，是關於怎麼檢測光耦的好壞？的分享。看完光耦怎麼測好壞後，希望這對大家有所幫助！

⑨ 使用雙運放LM358和光耦實現電壓檢測電路，（檢測34V輸出，下限為23.8V，上限為44.2V）

Vref1和Vref2從9.1v的Vcc經R56~R58分壓取得，這兩個采樣電壓肯定小於9.1v，對±30%的34vVin比較時，上LM358的輸出永遠是高電平，沒有作用！
建議將Vin分壓到適當電壓值再輸入到LM358跟Vref1,Vref2比較。