⑴ CMOS電路基礎邏輯圖
一、按製造門的電路晶體管的不同分類:
1.MOS型:CMOS、NMOS、PMOS(主要用於數蔽拿字邏輯電路系統)
2.雙極型:TTL,ECL(Emitor-coupled logic:設計耦合邏輯門)
3.混合型:BiCOMS:主要用在射頻系統。
二、各不同晶體管邏輯門構成的電路特點:
1.BJT:高速,高驅能力。
2.CMOS:高密度,低功耗,低成本。
3.ECL:速度快但功耗高。
三、介紹CMOS基礎邏輯門電路:
一、CMOS反相器---非門
CMOS反相器電壓傳輸特性
CMOS電流傳輸特性:
特點:1.靜態功耗低 野並鏈頌孫
2.MOS管的導通電阻低,截止電阻高,帶電容負載能力強(時間常數=RC,導通電阻小,充放電時間短。)
3.輸入阻抗高,理論上可驅動任意數目同類門,而不會對輸出電平造成影響,但是,負載門輸入端具有雜散電容,負載門數目的增加將使反向器的負載電容增加,從而影響反相器開關速度。
二、與非門1
三.半加器:
⑵ CMOS門電路的特點
與TTL相比,CMOS的輸入阻抗高,使其扇出能力比TTL強。
此外,其閾值電壓專與電源電壓有正比關系,比如低屬電平閾值0.3VDD,高電平閾值0.7VDD。
TTL輸入端可以開路,相當於輸入高電平,而CMOS輸入端不允許開路,否則可能會造成電路不穩定甚至損壞,一般需要上拉或下拉電阻。
(2)cmos邏輯門電路擴展閱讀:
CMOSRAM晶元由系統通過一塊後備電池供電,因此無論是在關機狀態中,還是遇到系統掉電情況,CMOS信息都不會丟失。
由於CMOSRAM晶元本身只是一塊存儲器,只具有保存數據的功能,所以對CMOS中各項參數的設定要通過專門的程序。
早期的CMOS設置程序駐留在軟盤上的(如IBM的PC/AT機型),使用很不方便。現在多數廠家將CMOS設置程序做到了BIOS晶元中,在開機時通過按下某個特定鍵就可進入CMOS設置程序而非常方便地對系統進行設置,因此這種CMOS設置又通常被叫做BIOS設置。
⑶ CMOS門電路能實現邏輯與嗎
可能來題目寫的不是很清晰,分源2種吧
1】換成用CMOS電路構成的邏輯門來實現
2】可以。
CMOS可以直接搭成與非門,如果要搭建與門則需要在與非門後再加個反相器。
以兩輸入與非門為例,最上一條線為電源,兩個PMOS串聯,下面為兩個NMOS並聯,最下面為地,分析一下可知結果為AB的與非。
實現基本和常用邏輯運算的電子電路,叫邏輯門電路。
在數字電路中,所謂「門」就是只能實現基本邏輯關系的電路。
⑷ 門電路工作原理
第五節 CMOS邏輯門電路
http://www.fjtu.com.cn/fjnu/courseware/0321/course/_source/web/lesson/char2/j6.htm 看看把
CMOS邏輯門電路是在TTL電路問世之後 ,所開發出的第二種廣泛應用的數字集成器件,從發展趨勢來看,由於製造工藝的改進,CMOS電路的性能有可能超越TTL而成為佔主導地位的邏輯器件 。CMOS電路的工作速度可與TTL相比較,而它的功耗和抗干擾能力則遠優於TTL。此外,幾乎所有的超大規模存儲器件 ,以及PLD器件都採用CMOS藝製造,且費用較低。
早期生產的CMOS門電路為4000系列 ,隨後發展為4000B系列。當前與TTL兼容的CMO器件如74HCT系列等可與TTL器件交換使用。下面首先討論CMOS反相器,然後介紹其他CMO邏輯門電路。
MOS管結構圖
MOS管主要參數:
1.開啟電壓VT
·開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極S和漏極D之間開始形成導電溝道所需的柵極電壓;
·標準的N溝道MOS管,VT約為3~6V;
·通過工藝上的改進,可以使MOS管的VT值降到2~3V。
2. 直流輸入電阻RGS
·即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比
·這一特性有時以流過柵極的柵流表示
·MOS管的RGS可以很容易地超過1010Ω。
3. 漏源擊穿電壓BVDS
·在VGS=0(增強型)的條件下 ,在增加漏源電壓過程中使ID開始劇增時的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS
·ID劇增的原因有下列兩個方面:
(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿
(2)漏源極間的穿通擊穿
·有些MOS管中,其溝道長度較短,不斷增加VDS會使漏區的耗盡層一直擴展到源區,使溝道長度為零,即產生漏源間的穿通,穿通後
,源區中的多數載流子,將直接受耗盡層電場的吸引,到達漏區,產生大的ID
4. 柵源擊穿電壓BVGS
·在增加柵源電壓過程中,使柵極電流IG由零開始劇增時的VGS,稱為柵源擊穿電壓BVGS。
5. 低頻跨導gm
·在VDS為某一固定數值的條件下 ,漏極電流的微變數和引起這個變化的柵源電壓微變數之比稱為跨導
·gm反映了柵源電壓對漏極電流的控制能力
·是表徵MOS管放大能力的一個重要參數
·一般在十分之幾至幾mA/V的范圍內
6. 導通電阻RON
·導通電阻RON說明了VDS對ID的影響 ,是漏極特性某一點切線的斜率的倒數
·在飽和區,ID幾乎不隨VDS改變,RON的數值很大 ,一般在幾十千歐到幾百千歐之間
·由於在數字電路中 ,MOS管導通時經常工作在VDS=0的狀態下,所以這時的導通電阻RON可用原點的RON來近似
·對一般的MOS管而言,RON的數值在幾百歐以內
7. 極間電容
·三個電極之間都存在著極間電容:柵源電容CGS 、柵漏電容CGD和漏源電容CDS
·CGS和CGD約為1~3pF
·CDS約在0.1~1pF之間
8. 低頻雜訊系數NF
·雜訊是由管子內部載流子運動的不規則性所引起的
·由於它的存在,就使一個放大器即便在沒有信號輸人時,在輸 出端也出現不規則的電壓或電流變化
·雜訊性能的大小通常用雜訊系數NF來表示,它的單位為分貝(dB)
·這個數值越小,代表管子所產生的雜訊越小
·低頻雜訊系數是在低頻范圍內測出的雜訊系數
·場效應管的雜訊系數約為幾個分貝,它比雙極性三極體的要小
一、CMOS反相器
由本書模擬部分已知,MOSFET有P溝道和N溝道兩種,每種中又有耗盡型和增強型兩類。由N溝道和P溝道兩種MOSFET組成的電路稱為互補MOS或CMOS電路。
下圖表示CMOS反相器電路,由兩只增強型MOSFET組成,其中一個為N溝道結構,另一個為P溝道結構。為了電路能正常工作,要求電源電壓VDD大於兩個管子的開啟電壓的絕對值之和,即
VDD>(VTN+|VTP|) 。
1.工作原理
首先考慮兩種極限情況:當vI處於邏輯0時 ,相應的電壓近似為0V;而當vI處於邏輯1時,相應的電壓近似為VDD。假設在兩種情況下N溝道管 TN為工作管P溝道管TP為負載管。但是,由於電路是互補對稱的,這種假設可以是任意的,相反的情況亦將導致相同的結果。
下圖分析了當vI=VDD時的工作情況。在TN的輸出特性iD—vDS(vGSN=VDD)(注意vDSN=vO)上 ,疊加一條負載線,它是負載管TP在 vSGP=0V時的輸出特性iD-vSD。由於vSGP<VT(VTN=|VTP|=VT),負載曲線幾乎是一條與橫軸重合的水平線。兩條曲線的交點即工作點。顯然,這時的輸出電壓vOL≈0V(典型值<10mV ,而通過兩管的電流接近於零。這就是說,電路的功耗很小(微瓦量級)
下圖分析了另一種極限情況,此時對應於vI=0V。此時工作管TN在vGSN=0的情況下運用,其輸出特性iD-vDS幾乎與橫軸重合 ,負載曲線是負載管TP在vsGP=VDD時的輸出特性iD-vDS。由圖可知,工作點決定了VO=VOH≈VDD;通過兩器件的電流接近零值 。可見上述兩種極限情況下的功耗都很低。
由此可知,基本CMOS反相器近似於一理想的邏輯單元,其輸出電壓接近於零或+VDD,而功耗幾乎為零。
2.傳輸特性
下圖為CMOS反相器的傳輸特性圖。圖中VDD=10V,VTN=|VTP|=VT=
2V。由於 VDD>(VTN+|VTP|),因此,當VDD-|VTP|>vI>VTN 時,TN和TP兩管同時導通。考慮到電路是互補對稱的,一器件可將另一器件視為它的漏極負載。還應注意到,器件在放大區(飽和區)呈現恆流特性,兩器件之一可當作高阻值的負載。因此,在過渡區域,傳輸特性變化比較急劇。兩管在VI=VDD/2處轉換狀態。
3.工作速度
CMOS反相器在電容負載情況下,它的開通時間與關閉時間是相等的,這是因為電路具有互補對稱的性質。下圖表示當vI=0V時 ,TN截止,TP導通,由VDD通過TP向負載電容CL充電的情況。由於CMOS反相器中,兩管的gm值均設計得較大,其導通電阻較小,充電迴路的時間常數較小。類似地,亦可分析電容CL的放電過程。CMOS反相器的平均傳輸延遲時間約為10ns。
二、CMOS門電路
1.與非門電路
下圖是2輸入端CMOS與非門電路,其中包括兩個串聯的N溝道增強型MOS管和兩個並聯的P溝道增強型MOS管。每個輸入端連到一個N溝道和一個P溝道MOS管的柵極。當輸入端A、B中只要有一個為低電平時,就會使與它相連的NMOS管截止,與它相連的PMOS管導通,輸出為高電平;僅當A、B全為高電平時,才會使兩個串聯的NMOS管都導通,使兩個並聯的PMOS管都截止,輸出為低電平。
因此,這種電路具有與非的邏輯功能,即
n個輸入端的與非門必須有n個NMOS管串聯和n個PMOS管並聯。
2.或非門電路
下圖是2輸入端CMOS或非門電路。其中包括兩個並聯的N溝道增強型MOS管和兩個串聯的P溝道增強型MOS管。
當輸入端A、B中只要有一個為高電平時,就會使與它相連的NMOS管導通,與它相連的PMOS管截止,輸出為低電平;僅當A、B全為低電平時,兩個並聯NMOS管都截止,兩個串聯的PMOS管都導通,輸出為高電平。
因此,這種電路具有或非的邏輯功能,其邏輯表達式為
顯然,n個輸入端的或非門必須有n個NMOS管並聯和n個PMOS管並聯。
比較CMOS與非門和或非門可知,與非門的工作管是彼此串聯的,其輸出電壓隨管子個數的增加而增加;或非門則相反,工作管彼此並聯,對輸出電壓不致有明顯的影響。因而或非門用得較多。
3.異或門電路
上圖為CMOS異或門電路。它由一級或非門和一級與或非門組成。或非門的輸出。而與或非門的輸出L即為輸入A、B的異或
如在異或門的後面增加一級反相器就構成異或非門,由於具有的功能,因而稱為同或門。異成門和同或門的邏輯符號如下圖所示。
三、BiCMOS門電路
雙極型CMOS或BiCMOS的特點在於,利用了雙極型器件的速度快和MOSFET的功耗低兩方面的優勢,因而這種邏輯門電路受到用戶的重視
。
1.BiCMOS反相器
上圖表示基本的BiCMOS反相器電路,為了清楚起見,MOSFET用符號M表示BJT用T表示。T1和T2構成推拉式輸出級。而Mp、MN、M1、M2所組成的輸入級與基本的CMOS反相器很相似。輸入信號vI同時作用於MP和MN的柵極。當vI為高電壓時MN導通而MP截止;而當vI為低電壓時,情況則相反,Mp導通,MN截止。當輸出端接有同類BiCMOS門電路時,輸出級能提供足夠大的電流為電容性負載充電。同理,已充電的電容負載也能迅速地通過T2放電。
上述電路中T1和T2的基區存儲電荷亦可通過M1和M2釋放,以加快
電路的開關速度。當vI為高電壓時M1導通,T1基區的存儲電荷迅速消散。這種作用與TTL門電路的輸入級中T1類似。同理 ,當vI為低電壓時,電源電壓VDD通過MP以激勵M2使M2導通,顯然T2基區的存儲電荷通過M2而消散。可見,門電路的開關速度可得到改善。
2.BiCMOS門電路
根據前述的CMOS門電路的結構和工作原理,同樣可以用BiCMOS技術實現或非門和與非門。如果要實現或非邏輯關系,輸入信號用來驅動並聯的N溝道MOSFET,而P溝道MOSFET則彼此串聯。正如下圖所示的
2輸入端或非門。
當A和B均為低電平時,則兩個MOSFET MPA和MPB均導通,T1導通而MNA和MNB均截止,輸出L為高電平。與此同時,M1通過MPA和MpB被VDD所激勵,從而為T2的基區存儲電荷提供一條釋放通路。
另一方面,當兩輸入端A和B中之一為高電平時 ,則MpA和MpB的通路被斷開,並且MNA或MNB導通,將使輸出端為低電平。同時,M1A或M1B為T1的基極存儲電荷提供一條釋放道路。因此 ,只要有一個輸入端接高電平,輸出即為低電平。
四、CMOS傳輸門
MOSFET的輸出特性在原點附近呈線性對稱關系,因而它們常用作模擬開關。模擬開關廣泛地用於取樣——保持電路、斬波電路、模數和數模轉換電路等。下面著重介紹CMOS傳輸門。
所謂傳輸門(TG)就是一種傳輸模擬信號的模擬開關。CMOS傳輸門由一個P溝道和一個N溝道增強型MOSFET並聯而成,如上圖所示。TP和TN是結構對稱的器件,它們的漏極和源極是可互換的。設它們的開啟電壓|VT|=2V且輸入模擬信號的變化范圍為-5V到+5V 。為使襯底與漏源極之間的PN結任何時刻都不致正偏 ,故TP的襯底接+5V電壓,而TN的襯底接-5V電壓 。兩管的柵極由互補的信號電壓(+5V和-5V)來控制,分別用C和表示。
傳輸門的工作情況如下:當C端接低電壓-5V時TN的柵壓即為-5V,vI取-5V到+5V范圍內的任意值時,TN均不導通。同時,TP的柵壓為+5V
,TP亦不導通。可見,當C端接低電壓時,開關是斷開的。
為使開關接通,可將C端接高電壓+5V。此時TN的柵壓為+5V ,vI在-5V到+3V的范圍內,TN導通。同時TP的棚壓為-5V ,vI在-3V到+5V的范圍內TP將導通。
由上分析可知,當vI<-3V時,僅有TN導通,而當vI>+3V時,僅有TP導通當vI在-3V到+3V的范圍內,TN和TP兩管均導通。進一步分析
還可看到,一管導通的程度愈深,另一管的導通程度則相應地減小。換句話說,當一管的導通電阻減小,則另一管的導通電阻就增加。由於兩管系並聯運行,可近似地認為開關的導通電阻近似為一常數。這是CMOS傳輸出門的優點。
在正常工作時,模擬開關的導通電阻值約為數百歐,當它與輸入阻抗為兆歐級的運放串接時,可以忽略不計。
CMOS傳輸門除了作為傳輸模擬信號的開關之外,也可作為各種邏輯電路的基本單元電路。
⑸ cmos門電路怎麼判斷輸出狀態
ttl門電路的輸入端懸空時相當於高電平輸入輸入端接有電阻時其電阻阻值大於1.4k時該端也相當於高電平電阻值小於0.8k時該端才是低電平。而cmos邏輯門電路輸入端弊激不管是接大電阻還是接小電阻該端都相當於低電平租升襪即地電位。按照這個原則判斷笑慧很清晰了
⑹ 下圖的cmos門電路的邏輯功能是什麼
最直接的方法當然是列真值表:
Z=A'B'C'D'+A'BC'D'+AB'C'D'=A'C'D'+B'C'D'
分析:
首先觀察PMOS部分伍敬歲:
如果D=0且C=0且B=0,則Z=1,即B'C'D'=1時Z=1;
如果D=0且C=0且A=0,則Z=1,即A'C'D'=1時Z=1;
因此Z=A'C'D'+B'C'D'
再觀察NMOS部分:
如果D=1,則Z=0,即D=1時Z'=1
如果C=1,則Z=0,即稿唯C=1時Z'=1
如果B=1且腔睜A=1,則Z=0,即AB=1時Z'=1
因此Z'=AB+C+D,化為Z=(A'+B')C'D'=A'C'D'+B'C'D'
所以該電路邏輯式為:Z=A'C'D'+B'C'D'。
⑺ 為什麼要在CMOS邏輯門電路輸入和輸出端加保護和緩沖電路
《數字電子技術基礎(第洞衫世2版)學習指導與解題指南》
另外,CMOS門電路輸出的低電平也受輸入端數目的影響納肢。輸入端數越多,則串聯的NMOS管越多,輸出的低電平電壓也越高。為了避免經過多次串、並聯後帶來的電平平移和對輸出特性的影響,實際的CMOS門電路常常引入反相器塌猜作為每個輸入端和輸出端的緩沖器,大大改善了CMOS門電路的電氣特性(比如電壓傳輸特性、輸入特性、輸出特性、動態特性等)。
⑻ 邏輯門電路的詳細介紹
CMOS門電路
由單極型MOS管構成的門電路稱為Mos門電路。MOS電路具有製造工藝簡單、功耗低、集成度高、電源電壓使用范圍寬、抗干擾能力強等優點,特別適用於大規模集成電路。MOS門電路按所用MOS管的不同可分為三種類型:第一種是由PMOS管構成的PMOS門電路,其工作速度較低;第二種是由NMOS管構成的NMOS門電路,工作速度比PMOS電路要高,但比不上TTL電路;第三種是由PMOS管和NMOS管兩種管子共同組成的互補型電路,稱為CMOS電路,CMOS電路的優點突出,其靜態功耗極低,抗干擾能力強,工作穩定可靠且開關速度也大大高於NMOS和PMOS電路,故得到了廣泛應用。
MOS管主要參數
1、開啟電壓VT
·開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極S和漏極D之間開始形成導電溝道所需的柵極電壓;
·標準的N溝道MOS管,VT約為3~6V;
·通過工藝上的改進,可以使MOS管的VT值降到2~3V。
2、直流輸入電阻RGS
·即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比
·這一特性有時以流過柵極的柵流表示
·MOS管的RGS可以很容易地超過1010Ω。
3、漏源擊穿電壓BVDS
·在VGS=0(增強型)的條件下,在增加漏源電壓過程中使ID開始劇增時的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS
·ID劇增的原因有下列兩個方面:(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿,(2)漏源極間的穿通擊穿。
·有些MOS管中,其溝道長度較短,不斷增加VDS會使漏區的耗盡層一直擴展到源區,使溝道長度為零,即產生漏源間的穿通,穿通後,源區中的多數載流子,將直接受耗盡層電場的吸引,到達漏區,產生大的ID4、柵源擊穿電壓BVGS
·在增加柵源電壓過程中,使柵極電流IG由零開始劇增時的VGS,稱為柵源擊穿電壓BVGS。
5、低頻跨導gm
·在VDS為某一固定數值的條件下,漏極電流的微變數和引起這個變化的柵源電壓微變數之比稱為跨導
·gm反映了柵源電壓對漏極電流的控制能力
·是表徵MOS管放大能力的一個重要參數
·一般在十分之幾至幾mA/V的范圍內
6、導通電阻RON
·導通電阻RON說明了VDS對ID的影響,是漏極特性某一點切線的斜率的倒數
·在飽和區,ID幾乎不隨VDS改變,RON的數值很大,一般在幾十千歐到幾百千歐之間
·由於在數字電路中,MOS管導通時經常工作在VDS=0的狀態下,所以這時的導通電阻RON可用原點的RON來近似
·對一般的MOS管而言,RON的數值在幾百歐以內
7、極間電容
·三個電極之間都存在著極間電容:柵源電容CGS、柵漏電容CGD和漏源電容CDS
·CGS和CGD約為1~3pF
·CDS約在0.1~1pF之間
8、低頻雜訊系數NF
·雜訊是由管子內部載流子運動的不規則性所引起的
·由於它的存在,就使一個放大器即便在沒有信號輸人時,在輸出端也出現不規則的電壓或電流變化
·雜訊性能的大小通常用雜訊系數NF來表示,它的單位為分貝(dB)
·這個數值越小,代表管子所產生的雜訊越小
·低頻雜訊系數是在低頻范圍內測出的雜訊系數
·場效應管的雜訊系數約為幾個分貝,它比雙極性三極體的要小
CMOS反相器
CMOS邏輯門電路是在TTL電路問世之後,所開發出的第二種廣泛應用的數字集成器件,從發展趨勢來看,由於製造工藝的改進,CMOS電路的性能有可能超越TTL而成為佔主導地位的邏輯器件。CMOS電路的工作速度可與TTL相比較,而它的功耗和抗干擾能力則遠優於TTL。此外,幾乎所有的超大規模存儲器件,以及PLD器件都採用CMOS藝製造,且費用較低。早期生產的CMOS門電路為4000系列,隨後發展為4000B系列。當前與TTL兼容的CMO器件如74HCT系列等可與TTL器件交換使用。MOSFET有P溝道和N溝道兩種,每種中又有耗盡型和增強型兩類。由N溝道和P溝道兩種MOSFET組成的電路稱為互補MOS或CMOS電路。CMOS反相器電路,由兩只增強型MOSFET組成,其中一個為N溝道結構,另一個為P溝道結構。為了電路能正常工作,要求電源電壓VDD大於兩個管子的開啟電壓的絕對值之和,即VDD>(VTN+|VTP|)。
CMOS門電路
1、與非門電路:包括兩個串聯的N溝道增強型MOS管和兩個並聯的P溝道增強型MOS管。每個輸入端連到一個N溝道和一個P溝道MOS管的柵極。當輸入端A、B中只要有一個為低電平時,就會使與它相連的NMOS管截止,與它相連的PMOS管導通,輸出為高電平;僅當A、B全為高電平時,才會使兩個串聯的NMOS管都導通,使兩個並聯的PMOS管都截止,輸出為低電平。因此,這種電路具有與非的邏輯功能,即n個輸入端的與非門必須有n個NMOS管串聯和n個PMOS管並聯。
2.或非門電路:包括兩個並聯的N溝道增強型MOS管和兩個串聯的P溝道增強型MOS管。當輸入端A、B中只要有一個為高電平時,就會使與它相連的NMOS管導通,與它相連的PMOS管截止,輸出為低電平;僅當A、B全為低電平時,兩個並聯NMOS管都截止,兩個串聯的PMOS管都導通,輸出為高電平。因此,這種電路具有或非的邏輯功能,其邏輯表達式為。顯然,n個輸入端的或非門必須有n個NMOS管並聯和n個PMOS管並聯。比較CMOS與非門和或非門可知,與非門的工作管是彼此串聯的,其輸出電壓隨管子個數的增加而增加;或非門則相反,工作管彼此並聯,對輸出電壓不致有明顯的影響。因而或非門用得較多。
3、異或門電路:它由一級或非門和一級與或非門組成。或非門的輸出。而與或非門的輸出L即為輸入A、B的異或如在異或門的後面增加一級反相器就構成異或非門,由於具有的功能,因而稱為同或門。
CMOS傳輸門
MOSFET的輸出特性在原點附近呈線性對稱關系,因而它們常用作模擬開關。模擬開關廣泛地用於取樣——保持電路、斬波電路、模數和數模轉換電路等。下面著重介紹CMOS傳輸門。所謂傳輸門(TG)就是一種傳輸模擬信號的模擬開關。CMOS傳輸門由一個P溝道和一個N溝道增強型MOSFET並聯而成,如上圖所示。TP和TN是結構對稱的器件,它們的漏極和源極是可互換的。設它們的開啟電壓|VT|=2V且輸入模擬信號的變化范圍為-5V到+5V。為使襯底與漏源極之間的PN結任何時刻都不致正偏,故TP的襯底接+5V電壓,而TN的襯底接-5V電壓。兩管的柵極由互補的信號電壓(+5V和-5V)來控制,分別用C和表示。傳輸門的工作情況如下:當C端接低電壓-5V時TN的柵壓即為-5V,vI取-5V到+5V范圍內的任意值時,TN均不導通。同時、TP的柵壓為+5V,TP亦不導通。可見,當C端接低電壓時,開關是斷開的。為使開關接通,可將C端接高電壓+5V。此時TN的柵壓為+5V,vI在-5V到+3V的范圍內,TN導通。同時TP的棚壓為-5V,vI在-3V到+5V的范圍內TP將導通。由上分析可知,當vI<-3V時,僅有TN導通,而當vI>+3V時,僅有TP導通當vI在-3V到+3V的范圍內,TN和TP兩管均導通。進一步分析還可看到,一管導通的程度愈深,另一管的導通程度則相應地減小。換句話說,當一管的導通電阻減小,則另一管的導通電阻就增加。由於兩管系並聯運行,可近似地認為開關的導通電阻近似為一常數。這是CMOS傳輸門的優點。在正常工作時,模擬開關的導通電阻值約為數百歐,當它與輸入阻抗為兆歐級的運放串接時。可以忽略不計。CMOS傳輸門除了作為傳輸模擬信號的開關之外,也可作為各種邏輯電路的基本單元電路。