電路板元件維修測試用什麼

『壹』 電路板測試需要學些什麼

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用在系統可編程模擬器件實現雙二階型濾波器 2006-2-4
可編程模擬IC之考慮 2006-2-4
可編程邏輯器件的發展歷程及概述 2006-2-4
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上海集成電路行業協會會員名單 2006-2-4
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從P4看CPU 30年――歷程篇 2006-2-4
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集成電路測試員成產業支撐 2006-2-2
電容器的型號命名方法 2006-2-2
電容的類別和符號 2006-2-2
電容的類別和符號 2006-2-2
二極體 三極體 MOS器件基本原理 2006-2-2
常用電工維修工具及使用 2006-2-2
錫和零件的短路 2006-2-2
繼電器基礎 2006-2-2
常用電阻的技術特性 2006-2-2
變壓器的基本知識 2006-2-2
PLC軟元件在電氣系統可靠性設計中的應用 2006-2-2
江蘇省集成電路測試服務中心在園區成立 2006-2-2
復旦大學＜集成電路測試和可測試設計>課程要求 2006-2-2
測試硬體簡介－－－探針卡(prober card) 2006-2-2
測試硬體簡介－－－測試手臂(handler and prober) 2006-2-2
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『貳』 電路板維修一般需要知道什麼面試和考試有哪些問題比較重要啊

這個要看你，去維修什麼線路板了，先了解一下，對方生產的什麼產品，找找相關版的專業書籍權看看。
面試問你不一定都是專業方面的問題，但是技術問題肯定有涉及到的，比如比過去的從業經歷，培訓經歷，所學專業等等。
考試應該是理論型的東西，多些吧。但是現在招工難招，想應該不會太難吧，走個過場而已，再說也不是研發設計，維修需要的是有理論和大量的實際經驗。
從容面對吧。

『叄』 電路板上元器件怎麼測試好壞

電容，用指針復式萬用表制置於「交流10V」檔進行測量。10V、50Hz交流電壓可通過電源變壓器將交流220V市電降壓後獲得。用任一表筆與被測電容相串聯，然後並接於10V、50Hz交流電壓上，從萬用表電容刻度即可直接讀出被測電容器的容量。如果表針不動，說明該電容器已斷路或失效。如果表針指示值與電容器的標稱值相差很大，也說明該電容器已損壞

『肆』 用什麼工具來測試電路板哪個位置元器件損壞我小白不懂勿噴，說的越詳細越好

萬用表是一個很好的檢測工具。元件好壞的話，第一是眼觀，如無明顯燒焦或者裂開就應該根據故障可能的部位進行元件代換來排除，如果靠量電壓的話首先你要知道那個點的電壓多少才算正常，不知道的話你是沒辦法判斷的。快易購電子元器件搜索為您解答

『伍』 維修電路板需要那些專業工具

指針抄，數字萬用表及電烙鐵，熱風槍，電橋示波器信號發生器等等。

線路板按層數來分的話分為單面板，雙面板，和多層線路板三個大的分類。

1、雙面板為單面板的延伸，當單層布線不能滿足電子產品的需要時，就要使用雙面板了。雙面都有覆銅有走線，並且可以通過過孔來導通兩層之間的線路，使之形成所需要的網路連接。

2、多層板具有三層以上的導電圖形層與其間的絕緣材料以相隔層壓而成，且其間導電圖形按要求互連的印製板。多層線路板是電子信息技術向高速度、多功能、大容量、小體積、薄型化、輕量化方向發展的產物。

(5)電路板元件維修測試用什麼擴展閱讀：

電路板的檢測修理：

1、帶程序的晶元：對於電路板上帶有電池的晶元不要輕易將其從板上拆下來。

2、復位電路：待修電路板上有大規模集成電路時，應注意復位問題。在測試前最好裝回設備上，反復開，關機器試一試，以及多按幾次復位鍵。

3、三.功能與參數測試 ：<測試儀>對器件的檢測，僅能反應出截止區，放大區和飽和區。但不能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數值等，同理對TTL數字晶元而言，也只能知道有高低電平的輸出變化。而無法查出它的上升與下降沿的速度.。

『陸』 電路板上晶元壞了怎麼用萬用表測量

萬能表無法測量晶元的質量。

集成電路測晶元的質量：

檢查電源：用萬用表直接測量VCC和GND電平，以滿足要求。如果VCC與5V或3.3V的偏差過大，請檢查7805或其他穩壓器和濾波器電路的輸出。

檢查晶體振盪器：您可以更改晶體數量以重試。

檢查RESET引腳電平邏輯，注意所使用的型號是高電平復位還是低電平復位。

如果程序在設計時從擴展外部ROM運行，請檢查EA引腳。

檢查MCU是否損壞或無法下載快閃記憶體。最好嘗試新晶元。

如果確定上述要點是正確的，則可以合理地說硬體應該正常運行。

然後基本確定控製程序的問題，反復跟蹤keil中的調試器，注意調用子程序後是否預期工作寄存器組，累加器，DPTR等。

(6)電路板元件維修測試用什麼擴展閱讀：

測量時要注意以下八項：

萬用表應具有較大的內阻，小於被測電路電阻的10倍，以免造成較大的測量誤差。

通常，每個電位計都旋轉到中間位置。如果是電視機，信號源應使用標准彩條信號發生器。

測試導線或探頭應防滑。可以使用以下方法防止筆滑動：取自行車的閥芯並將其放在手錶的尖端，並將手錶的尖端長到約0.5mm，這可以使手錶的尖端與測試點保持良好接觸，並能有效防止打滑。即使碰到相鄰的點，它也不會被短路。

當引腳的測量電壓與正常值不匹配時，應根據引腳電壓是否對ic的正常工作和其他引腳電壓的相應變化產生重要影響進行分析， ic可以判斷。

ic引腳電壓受外圍元件的影響。當外圍元件泄漏，短路，開路或可變值，或外圍電路連接到電阻可變的電位器時，電位器滑動臂的位置不同，這將改變引腳電壓。

如果每個引腳的電壓正常，通常認為ic是正常的;如果ic引腳電壓異常，應從最大偏離正常值開始檢查外部元件是否有故障。如果沒有故障，ic可能會被損壞。 。

對於動態接收設備，如電視機，當沒有信號時，每個引腳的電壓都不同。如果發現引腳的電壓沒有變化，則變化很大，並且信號大小的變化和可調節元件的位置不會改變，並且可以確定ic損壞。

對於具有多種工作模式的設備，如錄像機，在不同的工作模式下，每個引腳的電壓都不同。

『柒』 電路板維修要用什麼設備和儀器儀表

萬用表，電烙來鐵，直流電壓源源，電流源，比較高級有示波器，
小工具：螺絲刀，斜口鉗，尖嘴鉗。

電路板維修工具儀器儀表一 指針萬用表與數字萬用表指針萬用表是一種平均值式儀表，其指針擺動的過程比較直觀，其擺動速度幅度有時也能比較客觀地反映了被測量的大小，所以讀數直觀形象。數字萬用表是瞬時取樣式儀表，一般0 3秒取一次樣來顯示測量結果，有時每次取樣結果只是十分相近，這對於讀取結果就不如指針式方便。指針式萬用表一般內阻較小，數字式萬用表內阻往往在1M歐或更大，對被測電路的影響可以更小，得到更高的靈敏度測量精度較高。

『捌』 電路板測試方法

當前常用檢測方法如下：

1. 人工目測：
使用放大鏡或校準的顯微鏡，利用操作人員視覺檢查來確定電路板合不合格，並確定什麼時候需進行校正操作，它是最傳統、最主要的檢測方法。它的主要優點是低的預先成本和沒有測試夾具，而它的主要缺點是人的主觀誤差、長期成本較高、不連續的缺陷發覺、數據收集困難等。目前由於PCB的產量增加，PCB上導線間距與元件體積的縮小，這個方法變得越來越不可行。
2. 在線測試（ICT,In Ciruit Testing）
ICT通過對電性能的檢測找出製造缺陷以及測試模擬、數字和混合信號的元件，以保證它們符合規格，己有針床式測試儀（Bed of Nails Tester）和飛針測試儀(Flying Probe Tester)等幾種測試方法。ICT的主要優點是每個板的測試成本低、數字與功能測試能力強、快速和徹底的短路與開路測試、編程固件、缺陷覆蓋率高和易於編程等。主要缺點是，需要測試夾具、編程與調試時間、製作夾具的成本較高，使用難度大等問題。
3. 功能測試（Functional Testing）
功能系統測試是在生產線的中間階段和末端利用專門的測試設備，對電路板的功能模塊進行全面的測試，用以確認電路板的好壞。功能測試可以說是最早的自動測試原理，它基於特定板或特定單元，可用各種設備來完成。有最終產品測試（Final Proct Test）、最新實體模型（Hot Mock-up）和「堆砌式』』測試（『Rack and Stack』 Test）等類型。功能測試通常不提供用於過程改進的腳級和元件級診斷等深層數據，而且需要專門設備及專門設計的測試流程，編寫功
能測試程序復雜，因此不適用於大多數電路板生產線。
4. 自動光學檢測
也稱為自動視覺檢測，是基於光學原理，綜合採用圖像分析、計算機和自動控制等多種技術，對生產中遇到的缺陷進行檢測和處理，是較新的確認製造缺陷的方法。AOI通常在迴流前後、電氣測試之前使用，提高電氣處理或功能測試階段的合格率，此時糾正缺陷的成本遠遠低於最終測試之後進行的成本，常達到十幾倍。
5. 自動X光檢查（AXI，Automatic X-ray Inspection）
AXI利用不同物質對X光的吸收率的不同，透視需要檢測的部位，發現缺陷。主要用於檢測超細間距和超高密度電路板以及裝配工藝過程中產生的橋接、丟片、對准不良等缺陷，還可利用其層析成像技術檢測IC晶元內部缺陷。它是現時測試球柵陣列（BGA，Ball Grid Array）焊接質量和被遮擋的錫球的唯一方法。在最新的用於線路板組裝的AXI系統中，如Feinfocus，Phoenix Xray等公司的最新產品，不僅可以進行2D的透視檢測，通過樣品傾斜，「側視」的X光甚至可以給出3D的檢測信息。它的主要優點是能夠檢測BGA焊接質量和嵌人式元件、無夾具成本；主要缺點是速度慢、高失效率、檢測返工焊點困難、高成本、和長的程序開發時間。
6. 激光檢測系統
它是PCB測試技術的最新發展。它利用激光束掃描印製板，收集所有測量數據，並將實際測量值與預置的合格極限值進行比較。這種技術己經在光板上得到證實，正考慮用於裝配板測試，速度己足夠用於批量生產線。快速輸出、不要求夾具和視覺非遮蓋訪問是其主要優點；初始成本高、維護和使用問題多是其主要缺點。
從上面的6種目前常用的PCB檢測手段，可以發現AOI自動光學檢測設備和任何基於視覺的檢測系統一樣，只能檢測用視覺可以看出的故障，對於短路和斷路之類的瑕疵，只能用電氣測試法來加以解決。相對人的肉眼這種原始的視覺檢測手段，AOI是自動化的檢測手段，其檢測的效率高許多，和可靠性也穩定得多。

『玖』 電路板的常用檢修方法

電路板檢修方法

在測試檢修種類繁多的電路板時，有許多方法可供選用，通常不僅僅是根據具體電子設備的某一種故障情形，選擇一種適合的測試檢修方法，往往是一種故障需要交叉組合地選擇幾種方法進行之。雖然電路板的測試檢修方法有許多種，但是，在種類繁多的電路板測試檢修過程中，通常採用的測試檢修方法基本上是相同的。下面介紹電子設備的基本測試檢修方法，供讀者在進行電路板測試檢修工作時選用，或組合選用時參考。

一、直覺檢查法：這種方法是指在不採用任何儀器設備、不焊動任何電路元器件的情況下，憑人的直覺—視覺、嗅覺、聽覺、和觸覺來檢查待修電路板故障所在的一種方法。直覺檢查法是最簡單的一種設備故障的方法。該法又可以分為通電檢查方法和不通電檢查法兩種。

二、信號尋跡法：這種方法是使用單一的測試信號，藉助測試儀器（如示波器、電子電壓表等），由前向後逐級進行檢查（尋跡）。該法能深入地定量檢查各級電路，能迅速地確定發生故障的部位。

三、信號注入法：此法是使用外部信號源的不同輸出信號作為已知測試信號，並利用被檢電子設備的終端指示器表明測試結果。檢查時，根據具體要求，選擇相應的信號源，獲得不同指標的已知信號；由後級向前級檢查，即從被檢設備的終端指示器的輸入端開始注入已知信號，然後依次由後級電路向前級電路推移。把已知的、不同測試信號分別注入至各級電路的輸入端，同時觀察被檢設備終端面指示器的反應是否正常，以此作為確定故障存在的部位和分析故障發生的原因的依據。

四、同類對比法：指將待檢的電路板與同類型號的、能正常工作的電子設備進行比較、對照的一種方法。通常是通過對整機或對有疑問的相關電路的電壓、波形、對地電阻、元器件參數等進行比較對照，從比對的數值差別之中找出故障。這是一種極有價值的電子設備檢修方法，特別適用於數字設備和以微處理器為基礎的設備檢測。

五、波形觀察法：這是一種對電子設備的動態測試法。它藉助示波器，觀察電子設備故障部位
或相關部位的波形；並根據測試得到的波形形狀、幅度參數、時間參數與電子設備正常波形參數的差異，分析故障原因，採取檢修措施。波形觀察法是一種十分重要的、能定量的測試檢修方法。

六、參數測試法：就是運用儀器儀表，測試電子設備電路中的電壓值、電流值、元件數值 、器件參數等的一種電子設備故障檢查方法。通常，在不通電的情況下測量電阻值；在通電的情況下測量電壓值、電流值；或拆下元器件測量其相關的參數。

七、交流短路法：又稱電容旁路法，是一咱利用適當容量和耐壓的電容器，對被檢電子設備電路的某一部位進行旁路檢查的方法。這是一種比較簡便迅速的故障檢查方法。交流短路法適用於判斷電子設備電路中產生電源干擾和寄生振盪的電路部位。

八、分隔測試法：又稱電路分割法，就是把電子設備內與故障相關的電路，合理地、一部分一部分地分隔開來，以便明確故障所在的電路范圍的一種故障檢查方法。該法是通過多次的分隔檢查，肯定一部分電路，否定一部分電路，這樣一步一步地縮小故障可能發生的所在電路范圍，直至找到故障位置。

九、更新替換法：是一種將正常的元件、器件或部件，去替換被檢設備系統或電路中的相關元件、器件或部件，以確定被檢設備故障元件、器件或部件的一種方法。特別是在現代電子設備的測試檢修過程中，元器件、印刷電路板和組件的更新替換。

十、內部調整法：是指通過調節電路設備的內部可調元件（俗稱半調整元件，如半調整電位器、半調整電容器、半調整電感器等），使電子設備恢復正常性能指標的方法。