⑴ 請問這個光線檢測電路中的元件作用和原理
1，線路一共三部分組成，電壓跟隨+差分放大+電壓調整輸出
2，U1A，U1B是電壓跟隨器，提高輸內入阻抗容，增強驅動輸出能力
3，U1C是差分放大，放大倍數是10倍，反饋電阻R2/輸入電阻R1
4，U1D電壓輸出調整，通過電位器R12調節電壓，U2A跟隨器驅動，設置參考點電壓
從而實現是輸出電壓調整例如輸入電壓0.4-1V 可以設計調整到0-5V電壓變化。具體
可以參考TI 有一本Op AMP裡面有詳細公式講解
⑵ 怎樣設計一個電路測試光耦的好壞
用DC5V電源，經過一個電阻衰減，一個按鍵，接入光耦輸入其中一端，另一端接地，光耦輸出端一端經上拉電阻接+5V,另一端接LED顯示，LED-接地即可。
檢測：
1、比較法拆下懷疑有問題的光耦，用萬用表測量其內部二極體、三極體的正反向電阻值，用其與好的光耦對應腳的測量值進行比較，若阻值相差較大，則說明光耦已損壞。
2、數字萬用表檢測法下面以EL817光耦檢測為例來說明數字萬用表檢測的方法。檢測時將光耦內接二極體的＋端{1}腳和－端{2}腳分別插入數字萬用表的Hfe 的c、e插孔內，此時數字萬用表應置於NPN擋；然後將光耦內接光電三極體C極{5}腳接指針式萬用表的黑表筆，e極{4}腳接紅表筆，並將指針式萬用表撥在RX1k擋。這樣就能通過指針式萬用表指針的偏轉角度——實際上是光電流的變化，來判斷光耦的情況。指針向右偏轉角度越大，說明光耦的光電轉換效率越高，即傳輸比越高，反之越低；若表針不動，則說明光耦已損壞。
3、光電效應判斷法仍以EL817光耦合器的檢測為例，檢測電路如圖2所示。將萬用表置於RX1k電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端{4}、{5}腳；然後用一節1．5V的電池與一隻50～100Ω的電阻串接後，電池的正極端接EL817的{1}腳，負極端碰接{2}腳，或者正極端碰接{1}腳，負極端接{2}腳，這時觀察接在輸出端萬用表的指針偏轉情況。如果指針擺動，說明光耦是好的，如果不擺動，則說明光耦已損壞。萬用表指針擺動偏轉角度越大，表明光電轉換靈敏度越高。
⑶ 利用光電管設計一套檢測光強的檢測電路，並簡單描述出電路的功能
一、這里的電橋的四個橋臂分別是
FET
R2
Rw的中心滑動端以上的電阻
Rw的中心滑動端以下的電阻和R3
二、FET是場效應管
三、在光照下，光敏二極體導通，因此A點的電壓會下降，由於A點電壓就是場效應管的柵極電壓，柵極電壓下降會使場效應管的導通程度下降，導通溝道電阻增加，這就是R2上電流減小的原因。由於場效應管柵極和源極之間的電阻極大，幾乎等於絕緣狀態，所以A點和B點之間沒有電流流過。流過R2的電流來自場效應管的漏極。無論光照強度大小有無，R2隻要有電流，都是從電源E正極經開關K、場效應管漏極、場效應管源極、R2，然後再返回電源E的負極。