❶ 充電樁bst電流過大是啥意思
充電樁bst電流過大是線路中的電流一般增加幾倍至幾十倍。充電樁電流過大應該立即停止使用,給車充電,提示電流過大,首先檢查一下充電樁的線路有沒有問題,有沒有短路的現象,如果沒有的話,就要去看一下這個充電樁的內在的問題,檢查一下,一定要仔細檢查,電流過大容易發生短路造成火災,排查一下。
充電樁bst工作原理
電動汽車充電樁的控制電路主要由嵌入式ARM處理器完成,用戶可自助刷卡進行用戶鑒權,余額查詢,計費查詢等功能,也可提供語音輸出介面,實現語音交互,包括按時計費充電,按電量充電,自動充滿,按里程充電,電動汽車充電機控制器與集中器利用CAN匯流排進行數據交互,集中器與伺服器平台利用有線互聯網或無線GPRS網路進行數據交互,為了安全起見,電量計費和金額數據實現安全加密。
❷ 求基於BST技術的PCB測試方法
目前隨著使用大規模集成電路的產品不斷出現,相應的PCB的安裝和測試工作已越來越困難。雖然PCB的測試仍然使用在線測試技術這一傳統方法,但是這種方法由於晶元的小型化及封裝而變得問題越來越多。現在一種新的測試技術——邊界掃描測試技術已逐步得到發展,大多數的ASIC電路和許多中等規模的設備已開始利用邊界掃描測試技術進行設計。BST技術是按照IEEE1149.1標准,提供了一套完整的測試方案。在實際的測試中,它不需要藉助於復雜和昂貴的測試設備,並且提供一種獨立於電路板技術的測試方法。採用邊界掃描測試技術進行集成電路設計和PCB設計,其最大的優點是測試過程簡單,顯著地減少了生產、實驗、使用和維修過程中的測試診斷時間,從而極大地降低了成本。文章引自深圳宏力捷電子!
1 BST的基本組成
BST電路按照IEEE1149.1標准構成,其中含有測試存取通道TAP及控制器、指令寄存器IR和測試數據寄存器組TDR。測試存取通道TAP是一個5芯引腳(其中l芯為復位端)的連接器。TAP控制器是一個16狀態的狀態機,可產生時鍾信號和各種控制信號(即產生測試、移位、捕獲和更新等信號),從而使指令或測試數據移入相應的寄存器,並控制邊界掃描測試的各種工作狀態。
1.1測試時鍾輸入端TCK
TCK信號允許集成電路IC的邊界掃描部分與系統內的時鍾同步並獨立工作。
1.2測試方式選擇輸入端TMS
測試方式選擇TMS引腳為控制信號,其決定TAP控制器的工作狀態。TMS須在TCK的上升沿之前建立。
1.3測試數據輸入端TDI
在測試時鍾脈沖TCK的上升沿,通過TDI串入的數據移入指令寄存器或測試數據寄存器,TAP控制器決定移入的數據是指令或測試數據。
1.4測試數據輸出端TDO
在測試時鍾脈沖TCK的下降沿,通過TDO從指令寄存器或測試數據寄存器串出數據,TAP控制器決定串出的數據是指令或測試數據。
2 PCB的測試系統
2.1 測試系統結構
其硬體包含通用的PC機、BST測試儀和串列BST信號電纜(含有4路信號的匯流排,其圖中數字含義如下:1為TDI、2為TCK、3為TMS、4為TDO)。測試儀通過標准並口與PC機連接,通過串列信號電纜與PCB上的測試存取口TAP相連。
假設PCB上有A、B、C三個模塊,模塊可以是由單個晶元或多個晶元構成的。它們是按IEEE1149.1標准設計的,即在晶元的I/O管腳處增加BS寄存器(模塊中虛線經過的位置),可進行邊界掃描測試。若所設計的數字系統或設備有多塊PCB,可通過串列信號電纜與PCB相連。使用者可以通過編程來靈活選擇需測試的晶元、模塊或整個PCB。
2.2 測試系統原理
測試者可根據PCB的網表和器件模型,利用PC機軟體編程自動生成檢測電路故障的測試圖形。PC機應有兩個至少32位I/O管腳的插板,這樣可形成32位讀/寫管腳,方便讀和寫操作。
測試軟體應包括預處理器和執行單元。其中預處理器讀出測試圖形並獲取這些圖形可能的關系,得到的結果是一組文件,包括存儲和控制信息。執行單元裝入上述文件,然後執行測試。過程為先讀存儲信息,把數據置於輸入埠,從適當的輸出埠讀取數據,並同預期的結果進行比較。若發現故障,將產生一個故障報告,並標明故障的位置,最後加入診斷程序,給出故障的具體位置。
2.3測試內容
·測試PCB的I/O管腳的連線。因為PCB的I/O管腳為測試儀提供了唯一的存取通道;
·測試PCB上IC晶元的完整性,在晶元的裝配過程中,IC晶元或許己損壞。可採用內建自測試和內部測試,以驗證晶元的好壞;
·測試PCB上IC晶元互連的開路與短路故障,可採用外部測試加以驗證:
·測試PCB上匯流排的完整性,通過其測試可檢測與匯流排相連的IC晶元I/O管腳是否存在開路故障。
隨著BST技術的不斷發展,PCB測試將逐步完善。由於可編程集成電路的大量使用,PCB測試的靈活性和適用性將會提高,而相應的測試系統的成本將會減少。設計者可以在PCB上全部採用可編程邏輯的集成電路,只要通過軟體編程即可修改晶元邏輯,從而做成通用的PCB,使PCB電路板可以完成不同的功能。這樣邊界掃描測試技術將使得PCB測試更加方便快捷,極大地降低測試成本。
❸ 圖中是一個開關電源IC的電路。哪位大俠能幫我詳細講解一下圈紅圈的電容跟二極體的作用
這個電容和二極體,後面都帶了一個BST,全稱是Boost-trap,自舉電路,這是一個典型的BUCK電路,開關管是NMOS管,因此它的GATE驅動電壓必須高於VIN才能夠導通,但是在輸入端,沒有電壓能夠高於VIN,因此需要一個自舉電路產生一個高於VIN的電壓,來驅動NMOS管。
具體的原理就是在SW為低時,由DRV腳為CBST充電3.3V,當需要將NMOS管導通時,將CBST的負端短路到VIN,這樣CBST的正端電壓,也就是BST腳的電壓就會比VIN高3.3V。DBST的作用是保證在CBST抬高到VIN以上時,不會有反向的電流從CBST再流回DRV腳。
❹ 倍斯特移動電源BST-0168可以給什麼東西充電,蘋果和安卓手機都插不了,是給平板充電的嗎
內部的充電控制電路壞了,它們用的都是體積極小的貼片元件,無法修,稍微懂點電子技術的可以去網上購買這型號的成品板來自己換,不會的就只能扔了再買整個的移動電源了.
❺ 引腳圖標示vin,bst,sw,fb,en是什麼意思
一、這是開關電源晶元控制腳標志:
1、EN 使能腳,一般高電平使晶元工作。
2、VIN 電源輸入
3、BS 自升壓腳,
4、SW 開關控制腳
5、FB 輸出電壓反饋腳
6、COMP比較器輸入
7、N/C 晶元內未連接
8、N SS 電源地。
二、正確標注應該是Vin,V代表電壓,in代表輸入,所以Vin就代表電壓輸入端。
Ref一般表示參考信號,EN一般表示使能。
(5)bst電路擴展閱讀:
開關電源晶元可分為AC/DC電源晶元和DC/DC電源晶元兩大類,DC/DC變換器現已實現模塊化,且設計技術及生產工藝在國內外均已成熟和標准化,並已得到用戶的認可,但AC/DC的模塊化,因其自身的特性使得在模塊化的進程中,遇到較為復雜的技術和工藝製造問題。
AC/DC電源晶元變換是將交流變換為直流,其功率流向可以是雙向的,功率流由電源流向負載的稱為「整流」,功率流由負載返回電源的稱為「有源逆變」。
AC/DC變換器輸入為50/60Hz的交流電,因必須經整流、濾波,因此體積相對較大的濾波電容器是必不可少的,同時因遇到安全標准(如UL、CCEE等)及EMC指令的限制(如IEC、、FCC、CSA),交流輸入側必須加EMC濾波及使用符合安全標準的元件,這樣就限制AC/DC電源體積的小型化。
❻ 電路中,VA=1.8V,VP=3.6V,VBST=8V,這里的VA、VP、VBST是什麼意思
VA=1.8V,VP=3.6V,VBST=8V,這里的VA、VP、VBST應該是指電路中點A、P、BST相對於參考點(GND)的電位。
❼ 有沒有大佬可以告訴我這個電路是怎麼工作的,是一個穩壓電路,能詳細說一下圖中部件的工作原理么,謝謝了
1、你這個圖是錯的,SW和BST的位置錯了,續流二極體D4的位置錯了,應該接在L1的左邊對地
2、這圖是個典型的開關斬波BUCK電路,搜索相關資料學習就行
❽ 筆記本的主板電路路線是怎麼走的
筆記本是否有時鍾信號電壓該電壓一般等於時鍾電路供電的2分子1 (如供電為3.3V 那麼時鍾信號電壓應為1.65v)
6.P4與迅馳CPU時鍾信號電壓為0.4-0.9V
筆記本的硬啟動過程
插上電源適配器使機器在待機狀態 按下電源開關如果整機供電系統正常 那麼供電晶元(MAX1632 MAX1711)PG信號產生分別送到南橋 北橋 CPU 南橋接到PG信號後 就會產生2路時鍾控制晶元CPU-STOP PCI-STOP送到時鍾晶元 時鍾晶元工作正常後 就會產生各路時鍾信號 送到主板的各個電路 其中一路時鍾送到南橋 南橋接到時鍾信號後就會產生出2路復位信號 分別為PCI-BST DRV-RST 去復位主板上的各個電路 其中一路PCI RST 去復位北橋 當BQ接到復位信號後 產生CPU RST 去復位CPU 當CPU接到復位信號後表示硬啟動完成。
筆記本軟啟動過程
一.CPU定址過程 可以由MINI槽上的測試點表示(目的測NQ BQ之間數據傳輸)
1.NQ發過來的PCI RST復位 2.FRAME(幀周期信號) 3.IROY(主設備准備好信號) 4.IRDY(從設備准備好信號)
註:BQ到NQ PCI匯流排是測不到的 但PCI匯流排上掛著其他設備 這些設備接到匯流排上 和BQ NQ是關聯的 所以測這些設備上的信號 也就等於測NQ與BQ之間的通信
開機後復位燈閃一下 就證明NQ已發出復位信號了 復位信號有了 不一定時鍾正常應查一下 但大多說機器是先有供電後時鍾後復位
IROY IRDY 工作正常時 這3個燈應該閃 開機這3個燈都閃幾下 證明CPU NQ BQ都已經工作了 如果一個都不閃要查CPU NQ BQ 還要查內存所以閃的話證明內存也無問題
筆記本測試卡主要修軟啟動部分時使用
復位信號測試點:
1.MINI 26腳PCI RST 復位後電壓3.3V恆定 2.硬碟1腳DRV RST復位後電壓5V恆定 3.南橋虛焊無復位4.固件中心2腳PCI RST
BIOS晶元:
BIOS即基本輸入輸出系統 它是固化主板上的ROM晶元 BIOS 晶元內的一組程序為計算機提供最低級最直接的硬體控制與支持 計算機的每次原始啟動操作都是依靠固化在BIOS晶元內的程序完成的 雖然它是軟體程序卻相當與計算機軟體與硬體之間的橋梁 這里就不多說了
介面電路
1.並口(列印機口) 共25腳
1-17腳是信號線對地數值基本相差不大 都在600左右 一般通過排感直接連接I/O晶元 有33歐左右 如果阻值相差太大 則I/O晶元壞 阻值中間有緩沖器 在開機後1-17腳上都有5V電壓 如電壓不正常為I/O壞
..後8腳為接地線
2.COM口 共9腳 8個信號線 1個地線
打電阻20K歐檔對地測阻值有3/5規律 3根對地阻值無窮大 5根對地阻值為5K歐
加電測電壓3根信號電壓為-5V 5根電壓為0V 串口是通過串口晶元到I/O的
3.VGA介面(外接顯示器)
對地測試阻值 RGB信號對地阻值基本相等 在80歐左右 行場同步信號對地阻值基本相等 阻值在600歐左右
在開機後 用示波器測 RGB信號在行場同步信號應有脈沖波形輸出
有的筆記本必須按組合鍵 才能輸出到顯示器(註:實際維修中介面虛焊較高)
4.USB介面 故障最高
5V供電對地阻值500多歐 2. 2根數據線對地阻值一樣340歐
USB故障:1. USB對5V段對地阻短路造成1632 5對地短路開不了機 換USB介面
2.USB信號線斷開L1 L2至270排阻至NQ
3.USB口接地斷開 L3
4.USB口供電損壞
5.48M USB時鍾損壞 斷線(很少)
5. 鍵盤滑鼠口(與鍵盤晶元相連)
4腳供電對地數值600左右 1和5腳數據線對地數值一樣
6. 內存 內存工作條件1.供電SD 3.3V DDR 2.5V 測內存槽邊的電容就行了 2.時鍾SD是61腳有1.6V
❾ eda中bst是什麼意思
邊界掃描測試(Boundary Scan Test)
邊界掃描(Boundary Scan)測試發展於上個世紀90年代,隨著大規模集成電路的出現,印製電路板製造工藝向小,微,薄發展,傳統的ICT 測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由於晶元的引腳多,元器件體積小,板的密度特別大,根本沒有辦法進行下探針測試。一種新的測試技術產生了,聯合測試行為組織(Joint Test Action Group)簡稱JTAG 定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。
這一般都是大學EDA測試題吧?
❿ 尋求電路板抄板工具,即,能將圖片轉換成電路的軟體
是PCB板子的掃描圖片嗎?轉成原理圖要經過兩步
第一步,把板子的掃描圖片變成PCB文件
第二步,把PCB文件變成原理圖文件
有一個很好的抄板工具,你試下,叫Quickpcb的,直接打開掃描彩圖抄板,操作方式跟PROTEL相似,且最終導出的文件格式與主流電路設計軟體兼容的。精度很高,而且很容易學,你到他們網上下一個試下,http://www.bstbit.com,在線的人多,有時候要刷新一下。
抄板是讓人感覺最繁瑣最麻煩的,這個工具用起來給人感覺還比較舒服,順手。