『壹』 在對5v電源供電下的數字電路系統測試時,若需提供連續脈沖,應選用TTL信號還是方波信號，為什麼
用 TTL 信號。
數字電路的輸出、輸入信號有嚴格的規范，5V 電源的數字電路默認是 TTL 標准。
而方波信號的幅度與直流電平是可以調整的，容易出錯或者漂移。
『貳』 用數字電路實現6PIN之間任意兩者短路都能測試出來
可以做，我說方法，你自己畫圖吧。
十進制分配器4017的任意6個輸出串接6個二極體，二極體陽極接4017，陰極分別接2*3PIN的座子各針（檢測時）；
每個二極體兩端（陰極和陽極）分別接一異或門的兩輸入端；
各異或門的輸出接LED串510電阻到地（LED陽極接異或門的輸出）；
4017的脈沖輸入端接一脈沖信號（4017的其它輸入端得處理），脈沖產生電路就自己畫吧（方法很多，頻率要求不嚴）。
通電後若沒有短路，LED就都不亮；只要有短路，2*3PIN短路的針對應的LED就會亮（脈沖頻率高時）或閃（脈沖頻率低時）。
『叄』 數字電路模擬軟體
Multisim
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NI Multisim 10用軟體的方法虛擬電子與電工元器件，虛擬電子與電工儀器和儀表，實現了「軟體即元器件」、「軟體即儀器」。NI Multisim 10是一個原理電路設計、電路功能測試的虛擬模擬軟體。
NI Multisim 10的元器件庫提供數千種電路元器件供實驗選用，同時也可以新建或擴充已有的元器件庫，而且建庫所需的元器件參數可以從生產廠商的產品使用手冊中查到，因此也很方便的在工程設計中使用。
NI Multisim 10的虛擬測試儀器儀表種類齊全，有一般實驗用的通用儀器，如萬用表、函數信號發生器、雙蹤示波器、直流電源；而且還有一般實驗室少有或沒有的儀器，如波特圖儀、字信號發生器、邏輯分析儀、邏輯轉換器、失真儀、頻譜分析儀和網路分析儀等。
NI Multisim 10具有較為詳細的電路分析功能，可以完成電路的瞬態分析和穩態分析、 時域和頻域分析、器件的線性和非線性分析、電路的雜訊分析和失真分析、離散傅里葉分析、電路零極點分析、交直流靈敏度分析等電路分析方法，以幫助設計人員分析電路的性能。
NI Multisim 10可以設計、測試和演示各種電子電路，包括電工學、模擬電路、數字電路、射頻電路及微控制器和介面電路等。可以對被模擬的電路中的元器件設置各種故障，如開路、短路和不同程度的漏電等，從而觀察不同故障情況下的電路工作狀況。在進行模擬的同時，軟體還可以存儲測試點的所有數據，列出被模擬電路的所有元器件清單，以及存儲測試儀器的工作狀態、顯示波形和具體數據等。
NI Multisim 10有豐富的Help功能，其Help系統不僅包括軟體本身的操作指南，更要的是包含有元器件的功能解說，Help中這種元器件功能解說有利於使用EWB進行CAI教學。另外，NI Multisim10還提供了與國內外流行的印刷電路板設計自動化軟體Protel及電路模擬軟體PSpice之間的文件介面，也能通過Windows的剪貼板把電路圖送往文字處理系統中進行編輯排版。支持VHDL和Verilog HDL語言的電路模擬與設計。
利用NI Multisim 10可以實現計算機模擬設計與虛擬實驗，與傳統的電子電路設計與實驗方法相比，具有如下特點：設計與實驗可以同步進行，可以邊設計邊實驗，修改調試方便；設計和實驗用的元器件及測試儀器儀表齊全，可以完成各種類型的電路設計與實驗；可方便地對電路參數進行測試和分析；可直接列印輸出實驗數據、測試參數、曲線和電路原理圖；實驗中不消耗實際的元器件，實驗所需元器件的種類和數量不受限制，實驗成本低，實驗速度快，效率高；設計和實驗成功的電路可以直接在產品中使用。
NI Multisim 10易學易用，便於電子信息、通信工程、自動化、電氣控制類專業學生自學、便於開展綜合性的設計和實驗，有利於培養綜合分析能力、開發和創新的能力。
Tina Pro
http://www.verycd.com/topics/2802827/
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〖主要特色: 〗
1、模擬, 數字以及混合模式模擬
2、強有力的編輯工具 (電路圖, 連線表, 文本, 方程, 和激勵編輯器)
3、完善的說明介紹 (可定製的說明包括波特圖，牛克斯圖，組滯，極和零點，瞬時響應，數字波形，為後加工結果用的翻譯器及其他)
〖高級特色: 〗
1、放置匯流排
2、電氣規則核查(ERC)
3、材料單(BOM)
4、分級設計
5、帶版本控制的成套設計
6、網路分析
7、網路分析器和頻譜分析器
8、帶S-參數模型的RF元件
9、屏幕自定義選項(定義背景，元件顏色等)
10、15,000+ 內置元件模型
11、帶參數設計的微波傳輸帶元件
11、為Spice和S參數用的擴展了的存儲庫管理器
12、邏輯轉換和簡化
13、子迴路 (從電路圖或Spice子迴路創建你自己的元件)
14、電路圖形符號編輯器 (創建你自己的電路圖符號)
15、元件工具條編輯器 (追加你的新元件到TINA的圖形元件條)
16、參數提取器 (從測量或目錄數據中創建元件模型)
17、Spice存儲庫管理器 (向TINA的Spice存儲庫追加更多的模型或創建你自己的Spice存儲庫)
18、符號分析 (以閉形式的表達式顯示結果)
19、傅立葉分析 (傅立葉頻譜，傅立葉級數和失真)
20、雜訊分析 (雜訊頻譜，信號對雜訊比及其他)
21、公差分析 (蒙特卡羅[Monte-Carlo]和最壞情形[worst-case]分析)
22、最優化 (尋找預定目標和靈敏度)
23、虛擬設備 (萬用表，示波器，信號發生器，信號分析器，邏輯分析器)
24、實時測試與測量
25、教學和訓練工具 (問題解答和故障排除)
『肆』 數字集成電路測試中的直流參數測試項目包括哪些
包括 1. 開路/短路測試(輸入箝（同鉗，qian)位電壓VIK的測試）
開短路測試（又稱OPEN/SHORT 測試，O/S測試，continuity test 或contact test），主要是用於測試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，具體點說就是測試一個電子器件應該連接的地方是否連接，如果沒有連接上就是開路，如果不應該連接的地方連接了就是短路。通常都會被放測試程序的最前面。
2.輸出高低電平（VOH/VOL)測試
VOH/VOL測試的目的是檢查器件在指定電壓下輸出電流的能力。輸入端在施加規定的電平信號下，使輸出端位邏輯高/低電平時的電壓。VCC通常位規定范圍的最小值，測試使用IFVM（加恆流測電壓）方式，對於VOH測試，在輸出端抽取規定范圍的IOH，其餘輸出端開路，同時測量該輸出端的電壓VOH。同理對於測量VOL時候，抽取IOL，測量到的電壓就為VOL。這兩個參數的測試主要時檢查器件的抗干擾能力。
3.輸入高/低(IIH/IIL)電流測試
輸入端在輸入規定的電壓值VIH/VIL時候，測量到流入輸入端的電流值IIH/IIL。目的是檢查DUT的輸入負載特性。這個參數主要時驗證器件接受邏輯值1和0的能力。
4.輸入漏電流II測試
所謂泄漏電流是指在沒有故障施加電壓的情況下，電氣中帶相互絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過其周圍介質或絕緣表面所形成的電流稱為泄漏電流。輸入端在輸入最大電壓VL時流入被測試器件的電流。VCC設定為規范中的最大值。和測量輸入高低電流方法一樣，只是加壓和測量的電流值不一樣。其餘輸入端加規定電平。輸出端開路。IL用於檢查器件的扇入負載的特性。泄漏電流實際上就是電氣線路或設備在沒有故障和施加電壓的作用下，流經絕緣部分的電流。因此，它是衡量電器絕緣性好壞的重要標志之一，是產品安全性能的主要指標。檢測的意義在於判斷產品耐高壓的安全性。
5.輸出短路電路IOS測試（output short circuit current test)
輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出埠處於短路狀態時的電流。
6.輸出高阻電流（IOZH/IOZL）
IOZL指的是一個低電平施加在一個處於高阻態的輸出管腳上，管腳上產生的漏電流，與之類似，IOZH指的是一個高電平施加在一個處於高阻態的輸出管腳上，管腳上產生的漏電流。
7.電源電流測試
電源電流測試包括IDD總電流測試（IDD Gross Current），IDD靜態電流測試（IDD static Current），IDDQ測試，動態IDD測試（Dynamic Current）。在輸入端施加規定的電平使輸出端為邏輯高高電平，此時流經器件電源輸入端的電流為ICCH，同理當輸出端表現為邏輯低電平時，對應為ICCL。此測量用於檢查器件的功耗。
『伍』 如何用萬用表測量數字集成電路的好壞
集成電路則是將晶體管、電阻、電容等元件和導線通過半導體製造工藝做在一塊矽片上而成為一個不可分割的整體電路。在這里，主要介紹利用萬用表對集成電路進行檢測原理和一般方法，然後再介紹數字電路好壞的具體檢測方法。 一、檢測原理和一般方法 1.檢測非在路集成電路本身好壞的准確方法 非在路集成電路是指與實際電路完全脫開的集成電路。按照廠家給定的測試電路、測試條件，逐項進行測試，在大多數情況下既不現實，也往往是不必要的。在家電修理或一般性電子製作過程中，較為常用而且准確的方法是焊接在實際電路上試一試。具體做法是：在一台工作正常的、應用該型號集成電路的電視機、收錄機或其他設備上，先在印刷電路板的對應位置焊接上一隻集成電路座，在斷電的情況下小心地將檢測的集成電路插上，接通電源。若電路工作不正常，說明該集成電路性能不好或者是壞的。顯然，這種檢測方法的優點是准確、實用，對引腳數目少的小規模集成電路比較方便，但是對引腳數目很多的集成電路，不僅焊接的工作量大，而且往往受客觀條件的限制，容易出錯，或不易找到合適的設備或配套的插座等。 2.檢測非在路集成電路好壞的簡便方法 使用萬用表測量集成電路各引腳對其接地引腳（俗稱接地腳）之間的電阻值。具體方法如下：將萬用表撥在R1×1kΩ檔或R×100Ω、R×10Ω檔）一般不用R×10kΩ、R×1Ω）上，先讓紅表筆接集成電路的接地腳，且在整個測量過程中不變。然後利用黑表筆從其第1隻引腳開始，按著1、2、3、4……的順序，依次測出相對應的電阻值。用這種方法可得知：集成電路的任一隻引腳與其接地引腳之間的值不應為零或無窮大（空腳除外）；多數情況下具有不對稱的電阻值，即正、反向（或稱黑表筆接地、紅表筆接地）電阻值不相等，有時差別小一些，有時差別懸殊。這一結論也可以這樣敘述：如果某一隻引腳與接地腳之間，應當具有一定大小的電阻值，而現在變為0或∞，或者其正反向電阻應當有明顯差別，而現在變為相同或差別的規律相反，則說明該引腳與接地引腳之間存有短路、開路、擊穿等故障。顯然，這樣的集成電路是壞的，或者性能已變差。這一結論就是利用萬表檢測集成電路好壞的根據。 二、數字集成電路的檢測 數字集成電路輸出與輸入之間的關系並不是放大關系，而是一種邏輯關系。輸入條件滿足時，輸出高電平或低電平。對數字集成電路進行檢測，就是檢測其輸入引腳與輸出引腳之間邏輯關系是否存在。由於數字集成電路種類太多，完成的邏輯功能又多種多樣，逐項測量其指標高低是不現實的。比較簡便易行的方法是，用萬用表測量集成電路各引出腳與接地引腳之間的正、反向電阻值——內部電阻值，並與正品的內部電阻值相比較，便能很快確定被測集成電路的好壞。實踐證明，這種檢測數字集成電路好壞的方法是行之有效的，既適用於早期生產的TTL型數字電路，也適用於近幾年生產的MOS集成電路。 在數字電中，最基本的邏輯電路是門電路。用門電路可以組成各種各樣的邏輯電路，因而門電路在數字電路中應用最多，在實驗教學中，一些門電路的損壞是在所難免的。基於這個原因，有必要對門電路進行檢測。在這里，主要介紹利用萬用表對門電路的好壞的檢測原理和一般方法。門電路的基本形式有「與」門、「非」門、「或」門、「與非」門、「或非」門。下面主要介紹「與非」門電路的檢測方法。典型TTL「與非」門的主要參數見附表。 1.電源引腳與接地引腳的檢測 「與非」門電路及其他數字電路電源引腳與接地引腳的安排方式有兩種：左上角最邊上的一隻為電源引腳，右下角最邊上的一隻為接地腳如圖1所示；上邊中間一隻為電源引腳；下邊一隻為接地腳，如圖2所示。這兩種引腳的安排方式，前一種最多，後一種較少。數字集成電路電源引腳與接地引腳之間，其正、反向電阻值一般有明顯的差別。紅表筆接電源引腳、黑表筆接地引腳測出的電阻為幾千歐，紅表筆接地引腳、黑表筆接電源引腳測出的電阻為十幾歐、幾十千歐甚至更大。根據這兩種方法，一般就不難檢測出其電源引腳和接地腳。 2.輸入引腳與輸出引腳的檢測 根據門電路輸入短路電流值不大於2.2mA，輸出低電平電壓不大於0.35V的特點，即可方便地檢測出它的輸入引腳和輸出引腳。將待檢測門電路電源引腳接+5V電壓，接地引腳按要求接地，然後利用萬用表依次測量各引腳與接地腳之間的短路電流，如圖3所示。若其值低於2.2mA，則說明該引腳為其輸入引腳，否則便是輸出引腳；另外，當「與非」門的輸入端懸空時，相當於輸入高電平，此時其輸出端應為低電平，根據這一點可進一步核實一下它的輸出引腳。具體方法是，將萬用表撥在直流10V檔，測量輸出引腳的電壓值，此值應低於0.4V。 對CMOS與非門電路，用萬用表R×1kΩ檔，以黑表筆接其接地引腳，用紅表筆依次測量其他各引腳對接地腳之間的電阻值，其中阻值稍大的引腳為與非門的輸入端，而阻值稍小的引腳則為其輸出端。這種方法同樣適用於或非門、與門、反相器等數字電路。 3.同一組「與非」門輸入、輸出引腳的檢測 將「與非」門的電源引腳接5V電壓，接地引腳按要求正確接地。萬用表撥在直流10V檔，黑表筆接地、紅表筆接其任一個輸出引腳。用一根導線，依次將其輸入引腳與地短路，並注意觀察輸出電壓的變化。所有能使輸出引腳電壓由低電平變為高電平的輸入引腳，便是同一個「與非」門的輸入引腳。然後將紅表筆移到另一輸出引腳上，重復上述實驗，便可找出與該輸出端相對應的所有輸入引腳，它們便組成了另一個「與非」門。有幾個輸出引腳，就說明該集成電路由幾個「與非」門組成。 4.幾項具體技術指標的測量 （1）輸出高電平UOH和關門電平UOFF 測量電路如圖4所示，使0.8V電壓依次接各輸入端，UOH為2.7～3.2V時為合格，同時說明其關門電平UOFF≥0.8V。UOH低於2.7V的相應輸入端應剪掉不用。 （2）輸出低電平UOL和開門電平UON 測量電路如圖5所示。UOL≤0.35V時為合格，同時說明UON≤1.8V。圖中當其扇出系數N=8時，取RL=360Ω；當N=15時，取RL=200Ω。 （3）空載導通電流IE1和空載截止電流IE2。 測量電路分別如圖6、7所示。單個「與非」門要求IEI≤7.5mA、IE2≤3.5mA。 （4）輸入短路電流 IIS和輸入漏電流IIH。 測量電路分別如圖8、9所示。一般要求IIS≤1.5mA，IIH≤70μA。
『陸』 鄭州大學遠程教育學院電路 數字電子 在線測試題答案 只求答案
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