數字電路參數_關於集成電路參數的問題

㈠數字電路的基本參數是什麼

在數字電子技術中，被傳遞、加工和處理的信號時數字信號，這類信號的特點是
在時間上專和幅值上都是屬斷續變化的離散信號。其高電平和低電平常用0和1來表示。用於傳遞、加工和處理數字信號的電路，稱作數字電路。
數字電路可分為分立元件電路和集成元件電路兩大類。
是一個比較籠統的概念，要有針對性的元件才會有基本參數！

㈡數字電路做時鍾要圖要參數

圖

㈢邏輯值0,1如何在數字電路中體現，用74晶元參數列表為例解釋一下

在數字電路中是用輸入/輸出的電壓高低來體現的，通常叫電平。
當電壓低於1V時，稱為低電平，表示邏輯0。
當電壓高於2V時，稱為高電平，表示邏輯1。
這個電平也稱為TTL電平。

㈣什麼是數字電路，什麼是模擬電路，區別在哪裡

簡單地說就是：數字電路的輸入和輸出電壓值要麼與電源電壓接近，要麼與0V接近，只有這兩種情況。而模擬電路的輸入和輸出會在電源電壓和0V之前連續變化。

㈤數字邏輯晶元中經常有這兩個參數如下,分別代表什麼意思呢

LSTTL 是低功耗TTL的意思，TTL是一種邏輯門電路
Loads 是負載的意思，是Load的復數形式

第一個就是有10個LSTTL類型的負載
第二個就是有15個LSTTL類型的負載

㈥數字集成電路測試中的直流參數測試項目包括哪些

包括 1. 開路/短路測試(輸入箝（同鉗，qian)位電壓VIK的測試）
開短路測試（又稱OPEN/SHORT 測試，O/S測試，continuity test 或contact test），主要是用於測試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，具體點說就是測試一個電子器件應該連接的地方是否連接，如果沒有連接上就是開路，如果不應該連接的地方連接了就是短路。通常都會被放測試程序的最前面。
2.輸出高低電平（VOH/VOL)測試
VOH/VOL測試的目的是檢查器件在指定電壓下輸出電流的能力。輸入端在施加規定的電平信號下，使輸出端位邏輯高/低電平時的電壓。VCC通常位規定范圍的最小值，測試使用IFVM（加恆流測電壓）方式，對於VOH測試，在輸出端抽取規定范圍的IOH，其餘輸出端開路，同時測量該輸出端的電壓VOH。同理對於測量VOL時候，抽取IOL，測量到的電壓就為VOL。這兩個參數的測試主要時檢查器件的抗干擾能力。
3.輸入高/低(IIH/IIL)電流測試
輸入端在輸入規定的電壓值VIH/VIL時候，測量到流入輸入端的電流值IIH/IIL。目的是檢查DUT的輸入負載特性。這個參數主要時驗證器件接受邏輯值1和0的能力。
4.輸入漏電流II測試
所謂泄漏電流是指在沒有故障施加電壓的情況下，電氣中帶相互絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過其周圍介質或絕緣表面所形成的電流稱為泄漏電流。輸入端在輸入最大電壓VL時流入被測試器件的電流。VCC設定為規范中的最大值。和測量輸入高低電流方法一樣，只是加壓和測量的電流值不一樣。其餘輸入端加規定電平。輸出端開路。IL用於檢查器件的扇入負載的特性。泄漏電流實際上就是電氣線路或設備在沒有故障和施加電壓的作用下，流經絕緣部分的電流。因此，它是衡量電器絕緣性好壞的重要標志之一，是產品安全性能的主要指標。檢測的意義在於判斷產品耐高壓的安全性。
5.輸出短路電路IOS測試（output short circuit current test)
輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出埠處於短路狀態時的電流。
6.輸出高阻電流（IOZH/IOZL）
IOZL指的是一個低電平施加在一個處於高阻態的輸出管腳上，管腳上產生的漏電流，與之類似，IOZH指的是一個高電平施加在一個處於高阻態的輸出管腳上，管腳上產生的漏電流。
7.電源電流測試
電源電流測試包括IDD總電流測試（IDD Gross Current），IDD靜態電流測試（IDD static Current），IDDQ測試，動態IDD測試（Dynamic Current）。在輸入端施加規定的電平使輸出端為邏輯高高電平，此時流經器件電源輸入端的電流為ICCH，同理當輸出端表現為邏輯低電平時，對應為ICCL。此測量用於檢查器件的功耗。

㈦電路的基本參數

模擬電路參數種類眾多

1 數據採集器

實踐表明，採用機內測試技術能較大程度提高設備的可靠性和可維修性。

目前，一些有高可靠性要求的模擬電路也開始採用BIT技術。由於數據採集器中包含大量模擬電路和數字電路，使得在這類設備上採用BIT技術具有一定的難度。以邊界掃描BS(Boundary-Scan)為主的BIT設計技術在數字電路的檢測方面已經非常成熟，但其模擬電路的測試還不是很完善，因為模擬電路故障診斷存在以下一些難題：

(1) 模擬電路參數種類眾多，而且元件參數存在容差，使得許多診斷方法失去了准確性和穩定性。

(2) 模擬電路的多樣性以及電參數模擬困難造成模擬的模型適應性有限。

(3) 為保證模擬電路的精度，通常只有少量可及埠和節點可以測量，故障診斷的信息量不夠，造成故障定位的不確定性和模糊性。

(4) 模擬電路故障種類眾多，原因復雜，易出現新類型未記錄的故障。

數據採集器的模擬電路在檢測過程中除了需要考慮上述的因素外，還要關注其放大器的增益精度、輸入雜訊水平、零點飄移、共模抑制比、建起時間、頻率響應等採集器的性能參數。

2 數據採集器模擬部分自檢測原理

2.1 數據採集器模擬部分的結構和易發故障分析

數據採集器是對多路模擬電壓信號進行測量、轉換的電子設備，是模擬、數字電路的混合產品。其模擬部分的基本組成可分為：多路開關、可編程放大器(PGA)、共模抑制電路、低通濾波電路和A／D轉換等幾個部分。其中可編程放大器容易出現的故障有零點漂移、增益誤差、共模抑制比下降等。隨著時間和工作環境的變化，電路元件自身的一些特性也會發生變化，可能導致上述故障的出現，而這些故障對數據採集器的測量精度會造成很大影響。

濾波器的元件參數變化會導致濾波器頻率特性發生變化，同時在時域上也會對電路的建起時間產生不利的影響，從而影響了數據採集器的精度。因此為了保證測量數據的精度應及時對這些故障進行檢測。

㈧常用模擬電路的主要技術參數

㈨關於集成電路參數的問題

常用4000系列數字電路的中文名稱資料
型號器件名稱廠牌備注
CD4000 雙3輸入端或非門+單非門 TI
CD4001 四2輸入端或非門 HIT/NSC/TI/GOL
CD4002 雙4輸入端或非門 NSC
CD4006 18位串入/串出移位寄存器 NSC
CD4007 雙互補對加反相器 NSC
CD4008 4位超前進位全加器 NSC
CD4009 六反相緩沖/變換器 NSC
CD4010 六同相緩沖/變換器 NSC
CD4011 四2輸入端與非門 HIT/TI
CD4012 雙4輸入端與非門 NSC
CD4013 雙主-從D型觸發器 FSC/NSC/TOS
CD4014 8位串入/並入-串出移位寄存器 NSC
CD4015 雙4位串入/並出移位寄存器 TI
CD4016 四傳輸門 FSC/TI
CD4017 十進制計數/分配器 FSC/TI/MOT
CD4018 可預制1/N計數器 NSC/MOT
CD4019 四與或選擇器 PHI
CD4020 14級串列二進制計數/分頻器 FSC
CD4021 08位串入/並入-串出移位寄存器 PHI/NSC
CD4022 八進制計數/分配器 NSC/MOT
CD4023 三3輸入端與非門 NSC/MOT/TI
CD4024 7級二進制串列計數/分頻器 NSC/MOT/TI
CD4025 三3輸入端或非門 NSC/MOT/TI
CD4026 十進制計數/7段解碼器 NSC/MOT/TI
CD4027 雙J-K觸發器 NSC/MOT/TI
CD4028 BCD碼十進制解碼器 NSC/MOT/TI
CD4029 可預置可逆計數器 NSC/MOT/TI
CD4030 四異或門 NSC/MOT/TI/GOL
CD4031 64位串入/串出移位存儲器 NSC/MOT/TI
CD4032 三串列加法器 NSC/TI
CD4033 十進制計數/7段解碼器 NSC/TI
CD4034 8位通用匯流排寄存器 NSC/MOT/TI
CD4035 4位並入/串入-並出/串出移位寄存 NSC/MOT/TI
CD4038 三串列加法器 NSC/TI
CD4040 12級二進制串列計數/分頻器 NSC/MOT/TI
CD4041 四同相/反相緩沖器 NSC/MOT/TI
CD4042 四鎖存D型觸發器 NSC/MOT/TI
CD4043 4三態R-S鎖存觸發器("1"觸發) NSC/MOT/TI
CD4044 四三態R-S鎖存觸發器("0"觸發) NSC/MOT/TI
CD4046 鎖相環 NSC/MOT/TI/PHI
CD4047 無穩態/單穩態多諧振盪器 NSC/MOT/TI
CD4048 4輸入端可擴展多功能門 NSC/HIT/TI
CD4049 六反相緩沖/變換器 NSC/HIT/TI
CD4050 六同相緩沖/變換器 NSC/MOT/TI
CD4051 八選一模擬開關 NSC/MOT/TI
CD4052 雙4選1模擬開關 NSC/MOT/TI
CD4053 三組二路模擬開關 NSC/MOT/TI
CD4054 液晶顯示驅動器 NSC/HIT/TI
CD4055 BCD-7段解碼/液晶驅動器 NSC/HIT/TI
CD4056 液晶顯示驅動器 NSC/HIT/TI
CD4059 「N」分頻計數器 NSC/TI
CD4060 14級二進制串列計數/分頻器 NSC/TI/MOT
CD4063 四位數字比較器 NSC/HIT/TI
CD4066 四傳輸門 NSC/TI/MOT
CD4067 16選1模擬開關 NSC/TI
CD4068 八輸入端與非門/與門 NSC/HIT/TI
CD4069 六反相器 NSC/HIT/TI
CD4070 四異或門 NSC/HIT/TI
CD4071 四2輸入端或門 NSC/TI
CD4072 雙4輸入端或門 NSC/TI
CD4073 三3輸入端與門 NSC/TI
CD4089 二進制比例乘法器
CD4093 四2輸入端施密特觸發器 NSC/MOT/ST
CD4094 8位移位存儲匯流排寄存器 NSC/TI/PHI
CD4095 3輸入端J-K觸發器
CD4096 3輸入端J-K觸發器
CD4097 雙路八選一模擬開關
CD4098 雙單穩態觸發器 NSC/MOT/TI
CD4099 8位可定址鎖存器 NSC/MOT/ST
CD40100 32位左/右移位寄存器
型號器件名稱廠牌備注
CD40101 9位奇偶較驗器
CD40102 8位可預置同步BCD減法計數器
CD40103 8位可預置同步二進制減法計數器
CD40104 4位雙向移位寄存器
CD40105 先入先出FI-FD寄存器
CD40106 六施密特觸發器 NSC\TI
CD40107 雙2輸入端與非緩沖/驅動器 HAR\TI
CD40108 4字×4位多通道寄存器
CD40109 四低-高電平位移器
CD40110 十進制加/減,計數,鎖存,解碼驅動 ST
CD40147 10-4線編碼器 NSC\MOT
CD40160 可預置BCD加計數器 NSC\MOT
CD40161 可預置4位二進制加計數器 NSC\MOT
CD40162 BCD加法計數器 NSC\MOT
CD40163 4位二進制同步計數器 NSC\MOT
CD40174 六鎖存D型觸發器 NSC\TI\MOT
CD40175 四D型觸發器 NSC\TI\MOT
CD40181 4位算術邏輯單元/函數發生器
CD40182 超前位發生器
CD40192 可預置BCD加/減計數器(雙時鍾) NSC\TI
CD40193 可預置4位二進制加/減計數器 NSC\TI
CD40194 4位並入/串入-並出/串出移位寄存 NSC\MOT
CD40195 4位並入/串入-並出/串出移位寄存 NSC\MOT
CD40208 4×4多埠寄存器
CD4501 4輸入端雙與門及2輸入端或非門
CD4502 可選通三態輸出六反相/緩沖器
CD4503 六同相三態緩沖器
CD4504 六電壓轉換器
CD4506 雙二組2輸入可擴展或非門
CD4508 雙4位鎖存D型觸發器
CD4510 可預置BCD碼加/減計數器
CD4511 BCD鎖存,7段解碼,驅動器
CD4512 八路數據選擇器
CD4513 BCD鎖存,7段解碼,驅動器(消隱)
CD4514 4位鎖存,4線-16線解碼器
CD4515 4位鎖存,4線-16線解碼器
CD4516 可預置4位二進制加/減計數器
CD4517 雙64位靜態移位寄存器
CD4518 雙BCD同步加計數器
CD4519 四位與或選擇器
CD4520 雙4位二進制同步加計數器
CD4521 24級分頻器
CD4522 可預置BCD同步1/N計數器
CD4526 可預置4位二進制同步1/N計數器
CD4527 BCD比例乘法器
CD4528 雙單穩態觸發器
CD4529 雙四路/單八路模擬開關
CD4530 雙5輸入端優勢邏輯門
CD4531 12位奇偶校驗器
CD4532 8位優先編碼器
CD4536 可編程定時器
CD4538 精密雙單穩
CD4539 雙四路數據選擇器
CD4541 可編程序振盪/計時器
CD4543 BCD七段鎖存解碼,驅動器
CD4544 BCD七段鎖存解碼,驅動器
CD4547 BCD七段解碼/大電流驅動器
CD4549 函數近似寄存器
CD4551 四2通道模擬開關
CD4553 三位BCD計數器
CD4555 雙二進制四選一解碼器/分離器
CD4556 雙二進制四選一解碼器/分離器
CD4558 BCD八段解碼器
CD4560 "N"BCD加法器
CD4561 "9"求補器
CD4573 四可編程運算放大器
CD4574 四可編程電壓比較器
CD4575 雙可編程運放/比較器
CD4583 雙施密特觸發器
CD4584 六施密特觸發器
CD4585 4位數值比較器
CD4599 8位可定址鎖存器
CD22100 4×4×1交*點開關

江蘇XX供電公司馬德明

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