❶ 什麼是sps
❷ 在印製電路板的同一面,允許先迴流焊,後對THC進行波峰焊的工藝流程嗎我知道是不允許 為什麼
你這問的是不是在印製線路板的同一面能否先迴流焊工藝再插件波峰焊工藝。這個要回看你答迴流焊用於用的是什麼材料了,如果是錫膏迴流焊肯定不行,融化後的錫膏如遇高溫焊錫還會融化,SMT元件都掉了。有一種紅膠工藝就行,先用紅膠把smt元件固定然後再用波峰焊工藝上錫。波峰焊和迴流焊工藝順序
❸ 蘇泊爾電磁爐C21S51電路圖上ZD3的穩壓管是多少伏的
你把圖紙給我,或者我想你既然問多少伏那麼你一定是懂電路的,或許這個管子燒了你可以取下來再用萬用表量一下就知道大概了。
❹ 製造企業中常用到的英文縮寫有哪些
RM(raw material):原材料
PP(purchased parts):外購件
FP(finished procts):完工產品
QTY(quantity):數量
品質人員名稱類
QC quality control 品質管理人員
FQC final quality control 終點質量管理人員
IPQC in process quality control 製程中的質量管理人員
OQC output quality control 最終出貨質量管理人員
IQC incoming quality control 進料質量管理人員
TQC total quality control 全面質量管理
POC passage quality control 段檢人員
QA quality assurance 質量保證人員
OQA output quality assurance 出貨質量保證人員
QE quality engineering 品質工程人員
品質保證類
FAI first article inspection 新品首件檢查
FAA first article assurance 首件確認
CP capability index 能力指數 媵
CPK capability process index 模具製程能力參數
SSQA standardized supplier quality audit 合格供貨商品質評估
FMEA failure model effectiveness analysis 失效模式分析
FQC運作類
AQL Acceptable Quality Level 運作類允收品質水準
S/S Sample size 抽樣檢驗樣本大小
ACC Accept 允收
REE Reject 拒收
CR Critical 極嚴重的
MAJ Major 主要的
MIN Minor 輕微的
Q/R/S Quality/Reliability/Service 品質/可靠度/服務
P/N Part Number 料號 藊
L/N Lot Number 批號
AOD Accept On Deviation 特采
UAI Use As It 特采
FPIR First Piece Inspection Report 首件檢查報告
PPM Percent Per Million 百萬分之一
製程統計品管專類
SPC Statistical Process Control 統計製程管制
SQC Statistical Quality Control 統計質量管理
GRR Gauge Reproctiveness & Repeatability 量具之再制性及重測性判斷量可靠與否
DIM Dimension 尺寸
DIA Diameter 直徑
N Number 樣品數
其它品質術語類
QIT Quality Improvement Team 品質改善小組
ZD Zero Defect 零缺點
QI Quality Improvement 品質改善
QP Quality Policy 目標方針
TQM Total Quality Management 全面品質管理
RMA Return Material Audit 退料認可
7QCTools 7 Quality Control Tools 品管七大手法
通用之件類
ECN Engineering Change Notice 工程變更通知(供貨商)
ECO Engineering Change Order 工程改動要求(客戶)
PCN Process Change Notice 工序改動通知
PMP Proct Management Plan 生產管制計劃
SIP Standard Inspection Procere 製程檢驗標准程序
SOP Standard Operation Procere 製造作業規范
❺ γ輻射儀
γ輻射儀是用於γ射線總量測量的輕便型儀器,在地質找礦和環境γ輻射監測中得到廣泛應用。
(一)FD-3013型數字式γ輻射儀
該儀器是具有典型意義輕便輻射儀,1998年出產,是地質找礦中常用的儀器。儀器的結構原理框圖如圖4-5-1所示。探測器由NaI(Tl)和GDB-35光電倍增管組成。電脈沖信號輸出,首先經過放大器、甄別器。本儀器的甄別閾為40 keV,即能量小於40 keV的低能γ射線不記錄,能量大於40 keV的γ射線通過處理後進行記錄。
圖4-5-1 FD-3013數字輻射儀結構原理框圖
儀器的探測靈敏度為5 s-1(cps)/10-6(eU)(平衡鈾含量),即岩石、土壤中每10-6(eU)能產生每秒5個計數。分頻器實質上是一個除法器,通過微調時鍾電路,使每5 cps輸出一次10-6eU信號;經過選通門最後在顯示器上讀出的是以10-6eU為單位的鈾含量值。
顯示器為四位液晶顯示器。定時器給出選定的測量時間信號。報警器根據設定的計數率信號以及計數溢出、電池電壓不足等進行報警。
儀器適應工作溫度為:-10~+50℃;耗電為150 mW,用兩節一號電池供電,可用40 h。
國外使用的類似儀器很多,如美國的GR-101A型γ輻射儀,用250°率表顯示讀數,讀數精確;探測器為3.8 cm×3.8 cm NaI(Tl),閾壓為50 keV。儀器適用於踏勘普查,以尋找異常為目標的野外γ測量儀,儀器重1.25 kg,改進後的GR-110為四位液晶顯示器讀數的數字γ輻射儀(Geo-Metrics公司生產),探測器為13 cm3的NaI(Tl)晶體。該儀器設有兩個閾值,分別為0.08 MeV和0.4 MeV。在鈾礦山或高γ場中使用0.4 MeV。又如印度常用的數字式γ輻射儀,使用φ4 cm×5 cm NaI(Tl)晶體,每10-6eU(鈾含量)產生的每秒脈沖計數可在1~10之間調節,儀器直接讀出平衡鈾含量值。儀器體積小(8 cm×12 cm×18cm),使用方便。
(二)FD-3014積分γ能譜儀
儀器的整體結構原理與FD-3013類似,其主要差別在甄別器閾電壓可調。可以分別測量不同能量閾的γ射線總計數,可以定性地分別測量鈾含量和釷含量。如果將閾電壓調在40 keV位置,則儀器與FD-3013一樣。如果將閾電壓調至1.65 MeV,測量的是鈾(Rac1.76 MeV)和釷(ThC112.62 MeV)的特徵γ射線的總計數率;再將閾電壓調至2.5 MeV,測量的只是釷的特徵γ射線計數率;兩者相減即為鈾的特徵γ射線計數率。通過分頻器,可以分別給出鈾、釷含量。
類似這種輕便型積分γ能譜儀,如加拿大的UG-130 型單道積分γ能譜儀和GRS-400型積分γ能譜儀,兩者的NaI(Tl)晶體大小不同,均設有5 個閾電壓位置。GIS-5型積分γ能譜儀,使用方形NaI(Tl)晶體,總體積為82 cm3;有四個固定電壓位置,可以分別測量γ射線總計數率和鈾、釷、鉀含量。閾電壓分配如表4-5-1所列。
表4-5-1 閾電壓與測量譜段
(三)ZDD3901建材放射性檢測儀
該儀器屬於γ射線輻射儀,使用φ30 mm×50 mm NaI(Tl)晶體。其特點是在探測器外加厚度為1cm的圓形鉛室,降低周圍環境γ輻射本底。本儀器主要用作天然石材工程板(30 cm×30 cm×2 cm)現場放射性測量,根據《建築材料放射性核素限量》GB6566—2001標准對石材工程板進行放射性檢測分類。
1)工程板γ射線劑量率≤0.1 μGy/h,相當於A類。相對誤差好於±30%。
2)γ射線劑量率在0.1~1 μGy/h范圍,相當於B類。相對誤差不超過±20%。
3)劑量率超過1 μGy/h,為C類。相對誤差好於±15%。
(四)CKL-3120 X-γ劑量率儀
主要用於環境X-γ射線空氣吸收劑量率的測量。儀器輕便,可用於空氣吸收劑量率測量,也可用於固定場所連續監測。儀器的原理結構,如圖4-5-2所示。探測器用的是φ70 mm×70 mm的塑料閃爍體,與光電倍增管配合,輸出脈沖信號輸入AD變換器,目的是將模擬信號轉變為數字信號,再輸入到CPU(單片機)進行處理。為適應多種需要,自動給出測量數據的平均值、變異系數、測量時間及日期等。
圖4-5-2 CKL-3120 X-γ劑量率儀原理框圖
儀器主要性能指標如下。
1)能量范圍和響應:25~100 keV時,對137Cs參考源輻射響應的差別≤±20%;100 keV~3.0 MeV時,對137Cs參考源輻射響應≤±5%。
2)有效量程:10 nGy/h~100 mGy/h。
3)儀器連續工作8 h,指示值變化限值<±10%。
4)適應溫度范圍:-5~50℃,誤差不超過±25%。
❻ kong電視黑屏了一開機沒有畫面和聲音
保修期內拿售吧液晶電視電腦或者顯示器般都要專業員修理自般少拆;朘??某??某接觸吧
27
第五章 8TT9 機芯數字板電路故障檢修要點
4435 款電
關(內部集
場效應管)
集電路用於
控制LCD 驅
板供電否
通損壞通
引起機
THC63LVDM8
3R LVDS 信
號發射器損壞
通引起黑
屏、干擾
U36 魔畫芯
片用於六基色
信號變換處理
損壞通引
起黑屏或水印
干擾
V1 用於魔畫晶元產鍾損壞通
引起黑屏或七彩屏
PCF8574I2C總
線I/O 擴展口損壞
通引起黑屏
25128AN
用於存儲
魔畫程
序損壞
通引
起黑屏
U33、U34
頻器損壞通
引起黑屏
1501A50 用於
12→5V損
壞通引起
黑屏、指示燈
善、綠屏
HC02A 異或
門損壞引
起機
74HC573 鎖
存器損壞
引起機
W49F002 本
機FLASH
損壞通引
起機
Y1 損壞通
引起黑屏
THC63LVBF84
B LVDS 信
號接收器損壞
通引起黑
屏、干擾
TS66U 用於圖
像縮放損壞通
引起黑屏
或七彩屏
PI5V330Q 損壞
通引起
高清或VGA
HC14 損壞通
引起VGA
PI5V330Q 用於
AV、色差、USB
視頻信號切換
TMP93VS45F
微處理器用
於整電路
控制損壞通
引起機
20MHz 提供給CPU
基準鍾損壞通
引起機
4435 用於
控制主板
供電損壞
通引起
機
24C64 數據存儲器
損壞通引起黑
屏、少視頻、存台
M12116161
A 態同
步存儲器
損壞通
引起TV、
AV、S、色
差狀態
現干擾
14.318MHz
提供給V12
晶元基準
鍾損壞
通引起
TV、AV、S、
色差狀態
黑屏
DPTV6930
視頻數字處理
晶元損壞通
引起機
黑屏TV、AV、
S、色差狀態
圖像
28
創維8TT3/8TT9 機芯圖像信號流程及原理簡介
、8TT3/8TT9 機芯圖像信號流程
8TT3/8TT9機芯圖像信號流程框圖:
8TT3/8TT9 機芯圖像信號流程框圖
原理簡介
高頻電視信號進入高頻經高頻內部電路處理視頻信號送V12 晶元另外
AV、S 端、YCbCr 信號送V12 晶元四路信號V12 晶元經內部電路信號選擇、適
放、A/D 變換變數字視頻信號數字視頻信號經數字梳狀濾波、彩色解碼、隔行逐行
變換、變頻、縮放、態畫質改善等處理R、G、B 行場同步信號送MST9151B另外
VGA、YCbCr 信號經PI5V330Q 切換選信號送MST9151BDVI 信號直接送MST9151B
三路信號經MST9151B 內部電路信號選擇、適處理、A/D 變換、圖像縮放LVDS 信
號送LVDS信號接收器THC63LVDF84B其轉變TMDS 信號TMDS信號經魔畫六基色處理
輸TMDS 信號LVDS信號發射器THC63LVDM83R其轉變LVDS 信號LVDS 信號送顯示屏
內驅電路驅顯示屏顯示圖像
8TT3 與8TT9 機芯區別
8TT3機芯外接YCbCr信號直接送V12晶元8TT9機芯外接YCbCr信號與USB板YCbCr
信號首先需要經PI5V330Q 切換選擇送V12 晶元兩機芯其電路都
二、8TT3/8TT9 機芯伴音信號流程
8TT3/8TT9機芯伴音信號流程框圖:
8TT3/8TT9 機芯伴音信號流程框圖
原理簡介
高頻電視信號進入高頻經高頻內部電路處理音頻信號TV、AV、S 端、YCbCr、
YPbPr、VGA、USB音頻信號送BBE1144經內部電路音效處理輸左、右聲道音頻信
號經耳機插孔(耳機插入信號短接耳機)送功放電路TDA2616 進行功率放功放電
路輸左、右聲道信號送揚聲器推揚聲器發聲音
29
創維8TT9機芯USB 板電路故障檢修要點
CS4334 音
頻D/A 變換
器損壞通
引起聲
音
AML3298 微
處理器、解碼
體晶元用於
媒體文件進
行解碼損壞通
引起圖
像、聲音
AML3298
晶振損
壞通引
起USB
工作
M12164164
A 解碼器
外掛存儲
器損壞通
引起
圖像、聲
音
74HC14
微處理器
復位晶元
損壞通
引起USB
工作異
29LV160
FLASH損
壞通引
起USB工作
異
TDI242
USB2.0 接
口集電
路損壞通
引起
USB 工作異
24C01 程
序存儲器
損壞通
引起USB工
作異
1501A50
12V→5V變
換電路損
壞通引
起USB
工作
C4558 運
算放器
用於音頻信
號放
損壞通
引起聲
音
30
創維8TT3/8TT9 機芯高頻板電路故障檢修要點
高頻調諧器(5200-380651-12)損壞通
引起台、少台、TV伴音、黑屏
4435 伴音功放
供電控制
實現關機靜音
NJM1144 音
效處理集電
路損壞通
引起伴音、噪
聲、伴音失真
TDA2616 伴
音功放損壞通
引起伴
音、伴音失真
31
創維8TT9機芯魔畫板電路故障檢修要點
U36 魔畫晶元用於六基
色變換損壞通引起黑
屏、水印干擾
THC63LVDM83R LVDS
信號發射器損壞通引
起黑屏、干擾
PCF8574
I2C 匯流排
I/O 擴展口
損壞通
引起黑屏
25128AN用
於存儲魔畫
晶元工作
軟體損壞
通引起
黑屏
25128AN 用於存儲魔畫芯
片工作軟體損壞通
引起黑屏
V910(40MHz)用於給魔
畫晶元提供鍾損壞通
引起黑屏、七彩屏
U910、U911
頻器損壞通
引起黑屏
THC63LVB
F84B
LVDS 信
號接收器
損壞通
引起黑屏或
干擾
32
創維8TT3機芯數字板電路故障檢修要點
1501A50 用於
12→5V損
壞通引起
黑屏、指示燈
閃爍、綠屏
HC02A異或
門損壞通
引起
機
Y1 損壞通
引起黑屏
MST9151 用於
圖像縮放損壞
通引起黑
屏或七彩屏
PI5V330Q 損壞
通引起
高清或VGA
74HC14 損壞通
引起
VGA
TMP93VS45FCPU
用於控制整電路板
邏輯序損壞通
引起機
20MHz 提供給
CPU 基準鍾
損壞通引
起機
4435 用於
控制主板
供電損壞
通引起
機
24C64 數據
存儲器損壞
通引起黑
屏、少視頻、
存台
M12116161A
態同步存
儲器損壞通
引起TV、
AV、S、色差
狀態現干
擾
14.318MHz
提供給V12
晶元基準
鍾損壞
通引起
TV、AV、S、
色差狀態
黑屏
DPTV6930 視頻
數字處理晶元損
壞通引起
機黑屏TV、AV、
S、色差狀態圖
像
4435 款集
場效應管
電關用
於控制LCD驅
板供電
否通損壞
通引起
機
74HC573A 鎖存器
損壞通引起
機
W49F002 本
機FLASH
損壞通引
起機
33
創維8TT3/8TT9 機芯調試說明
1、工廠模式
進入:首先電視機音量減00按住面板音量減鍵鬆手緊接著按
遙控器屏顯鍵即進入
退:交流關機即
2、白平衡調整
工廠模式菜單按菜單鍵直現菜單:
MST9151 ADJUST
PAGE **
ADDRESS **
VALUE **
AUTO ADJUST **
R GAIN **
G GAIN **
B GAIN **
R OFFSET **
G OFFSET **
B OFFSET **
游標移AUTO ADJUST 選項按音量加鍵即進行自白平衡調整其選項用於手
調整
3、字元位置調整
工廠模式菜單按菜單鍵直現菜單:
OSD POSITION
OSD HS **
OSD VS **
OSD WIDTH **
OSD HEIGHT **
SCR LSHIFT **
SCR USHIFT **
SCR RSHIFT **
SCR DSHIFT **
根據字元具體位置調整OSD POSITION 各項保證各字元屏幕適位置
4、化模式
首先TV 狀態進入工廠模式按靜音鍵即進入化模式;化模式按
待機鍵即退化模式
5、24C64 初始化
進入工廠模式按菜單鍵直現菜單:
E2PROM ADJUST
PAGE 00
ADDRESS 00
VALUE 00
ADDRESS 項改10VALUE 項改03交流關機再機即完初始化初始化VGA
YPbPr狀態現偏色需要進行自白平衡調整
34
創維8TT3/8TT9 機芯故障實例
1、故障現象:自關機
故障原:V12 晶元虛焊
2、故障現象:待機機
故障原:U7(74HC573A)損壞
3、故障現象:花屏(所信號輸入都)
故障原:FLASH損壞
4、故障現象:VGA、YPbPr 狀態圖像
故障原:U12(PI5V330Q)損壞
5、故障現象:黑屏
故障原:V12 損壞
6、故障現象:高清狀態畫面其狀態干擾
故障原:V12 外掛SDRAM 損壞
7、故障現象:存台
故障原:24C64損壞
8、故障現象:綠屏
故障原:24C64損壞
9、故障現象:機
故障原:U7(74HC573A)損壞
10、故障現象:機指示燈閃爍
故障原:U21 擊穿V12 損壞
11、故障現象:剛機黑屏
故障原:Y1(14.318MHz)損壞
12、故障現象:黑屏
故障原:V904(40MHz)損壞
13、故障現象:菜單內紅色豎條干擾圖像(VGA )
故障原:U4/U5損壞
14、故障現象:圖像黑點干擾(VGA、HDTV 狀態現象)
故障原:U8/U11 損壞
15、故障現象:冷機機黑屏變花屏化段間即(VGA )
故障原:TSU66A 損壞
16、故障現象:AV 狀態黑屏干擾VGA狀態切
故障原:Y1(14.318MHz)外接C39 漏電
17、故障現象:指示燈亮黃色機
故障原:CPU 外接20MHz損壞
18、故障現象:機
故障原:復位三極體Q5 損壞
19、故障現象:少台
故障原:高頻損壞
20、故障現象:黑屏
故障原:高頻損壞
21、故障現象:伴音
故障原:U704(7809)損壞
35
創維8TT6機芯數字板電路故障檢修要點
THC63LVDF84
LVDS 信號發
射器損壞通
引起黑屏、馬
賽克現象
TSU66A 用於各輸
入信號進行A/D 變
換、圖像縮放、同
圖像顯示格式處
理損壞通引起
黑屏、馬賽克、
TV/AV/VGA
TVP5147 數字
彩色解碼器損
壞通引起
機、TV/AV/S
端黑屏、圖
像、馬賽克現象
AP1501
12V→5V變
換電路損壞
通引起
機
4435 用於
控制供電
否通損
壞通引
起機
24C32 程
序存儲器
損壞通
引起
機、黑屏現
象
W79E632
微處理器損
壞通引起
機、按鍵
或遙控失靈
36
創維8TT6機芯高頻板電路故障檢修要點
JS-6BT/11A2 都旭光公司產體
化高頻調諧器損壞通引起台、少台、
機、TV 聲、TV雜音
LM358 運放
電路用於放
音頻信號損壞
通引起TV
聲
1144 音效處理集
電路損壞通
引起聲、雜音、竄
音、機
TPA1517 功
放損壞通
引起聲、雜
音
37
創維8TT6 機芯逆變電路故障檢修要點
C34、C35、C36
高壓電容損壞通
引起光、屏
幕亮即滅
T04、T05、T06
變壓器損壞通
引起光、屏幕
亮即滅
IC02、IC03 MOS
管損壞通引
起光、機
IC01 背光控制電
路用於控制MOS
管否工作損壞
通引起光
IC04、IC05 MOS
管損壞通引
起光、機
T01、T02、T03
變壓器損壞通
引起光、屏幕
亮即滅
C31、C32、C33
高壓電容損壞通
引起光、屏
幕亮即滅
38
創維8TT6 機芯故障實例
、高頻板見故障
1、故障現象:搜台
故障原:數高頻JS-6B1/11A2 壞
2、故障現象:聲音
故障原:數TPA1517 壞少數1144壞
3、故障現象:雜音
故障原:數1144 或其外圍濾波電容損壞
4、故障現象:機
故障原:匯流排短路高頻損壞
5、故障現象:雜音
故障原:TPA1517 接良
6、故障現象:TV聲
故障原:LM358損壞
二、主板見故障
1、故障現象:TV、AV、S-VIDEO
故障原:TVP5147 損壞(插信號黑屏插信號藍屏)
2、故障現象:TV 搜台黑屏閃爍
故障原:數高頻匯流排故障比短路、路
3、故障現象:機
故障原:TVP5147 損壞(測TVP5147 匯流排電壓偏低)
4、故障現象:機
故障原:數CPU損壞
5、故障現象:黑屏
故障原:數TSU66A、LVDS 發射集電路、供電電路損壞(按遙控或鍵控待機鍵若
待機則排除軟體故障)
6、故障現象:機
故障原:TVP51473.3V 供電電路路(測量24C32 5、6 腳電壓4.27V、4.26V(偏高)
測量屏供電12V、背光控制0.22V)
三、背光板見故障
1、故障現象:光
故障原:F01 路
2、故障現象:光
故障原:IC01 損壞
❼ 液晶電視開機屏幕閃爍、黑屏,但聲音正常
1、如果是帶有遙控的電視機,由於CPU晶元出現故障,導致亮度失控而失去圖像是有專可能的,或屬者是顯像管束電流過大引起保護電路動作。
2、有正常的電視節目的聲音,但是屏幕是黑屏狀態。這說明高頻、中頻和伴音電路是在正常的工作狀態,沒有什麼行輸出電路沒有短路性的故障。如果屏幕可以顯示電視機設置菜單,那這種問題是很可能因為伴音分離到視放這一段。
3、有可能是主板與液晶屏的連接排線介面虛了,開機之後溫度上來了膨脹致使接觸又好了,就恢復正常了,有可能是數據排線的問題。
(7)thc電路擴展閱讀
液晶電視黑屏問題根源的判斷方法:
1、燈管點亮後大概會有一秒到兩秒的延遲然後才熄滅,那這屬於過壓保護;如果燈管點亮後立即熄滅、沒有延遲,那就是過流保護。
2、也可通過背光控制集成電路極限電壓腳電壓來進行判斷,正常情況下在該電壓腳電壓超過極限值時自動進行保護、低於極限時顯示正常。所以用戶可以認為的將該電壓腳短路到地,強制其工作。如果是過壓保護的話那這是燈管被點亮之後不會熄滅;如果燈管被點亮之後再度熄滅,就是過流保護。
參考資料教你液晶電視維修小竅門-人民網
❽ SMA、SMT、SMC、SMD、THT、THC、THD的含義是什麼
1、脊髓性肌肉萎縮症(英語:Spinal muscular atrophy,簡寫為SMA),是一種遺傳性神經疾病。
2、SMT是表面組裝技術(表面貼裝技術)(Surface Mounting Technology的縮寫),稱為表面貼裝或表面安裝技術。是目前電子組裝行業里最流行的一種技術和工藝。
3、SMC單分子免疫檢測技術(Single Molecule Counting)是蛋白生物標志物檢測領域的突破性新技術。利用激光聚焦於愛里斑中單個熒游標記分子,人類首次實現了在單分子水平對蛋白進行計量,並造就了1000倍於ELISA技術的超高檢測靈敏度。
4、SMD:它是Surface Mounted Devices的縮寫,意為:表面貼裝器件,它是SMT(Surface Mount Technology)元器件中的一種。在電子線路板生產的初級階段,過孔裝配完全由人工來完成。
5、THT是一種通孔技術,通孔技術就是把元器件插到電路板上,然後再用焊錫焊牢。
6、THC(Terminal Handling Charge-集裝箱碼頭裝卸作業費)。早在1997年,一些班輪公司就在中國的廣東、廣西、雲南和海南地區向外貿貨主收取ORC(Origin Receiving Charge始發地收貨費)。
7、THD諧波失真是指輸出信號比輸入信號多出的諧波成分。諧波失真是系統不是完全線性造成的。所有附加諧波電平之和稱為總諧波失真。總諧波失真與頻率有關。一般說來,1000Hz頻率處的總諧波失真最小,因此不少產品均以該頻率的失真作為它的指標。
(8)thc電路擴展閱讀
SMD的特點:
1、組裝密度高、電子產品體積小、重量輕,貼片元件的體積和重量只有傳統插裝元件的1/10左右,一般採用SMT之後,電子產品體積縮小40%~60%,重量減輕60%~80%。
2、可靠性高、抗振能力強。焊點缺陷率低。
3、高頻特性好。減少了電磁和射頻干擾。
4、易於實現自動化,提高生產效率。降低成本達30%~50%。節省材料、能源、設備、人力、時間等。
❾ 我看到許多晶元的PLL電源管腳要濾波,如THC63LVD103D晶元的PLL—VDD管腳,需要如圖這樣的濾波。
PLL電路供給的電源要精準是一個方面。
另一方面,正因為PLL是模擬信號才要濾波,對數字內電路來說,電源不好一般容不會導致電平高低發生改變,但對模擬信號來說,電源紋波可以直接疊加在模擬信號上,會導致信號相位雜訊很大。有時在PLL電路中為了改變相噪特性,甚至採用有源濾波方式處理電源。
❿ 氡子體的測定
氡子體產物指氡的短壽命子體218Po、214Pb、214Bi、214Po(可分別用RaA、RaB、RaC、RaC'表示);氡子體為固態粒子,常用過濾器濾取一定體積的空氣來收集氡子體。然後用α計數器測量濾料上的放射性,計算出總α潛能濃度或各個子體的濃度。通常用高效濾料對空氣中存在的混合氡子體采樣,再用高效率低本底探測器測量沉積於濾料上的放射性活度。氡子體的測量方法有很多種,如α徑跡蝕刻法、α潛能法、三段法、氡釷子體潛能二段法、α能譜法和γ能譜法等。根據國家標准GB/T14582—93《環境空氣氡的標准測量方法》的規定,適用於環境空氣氡子體測量方法見表66.12。
表66.12 環境空氣氡子體測量方法
續表
66.4.3.1 累積測量方法
(1)α徑跡蝕刻法
α徑跡蝕刻法有主動式和被動式兩種,用於被動式氡探測有以下幾種方式:杯式、「裸露」式和靜電收集式。裸露式最簡單,直接將固體徑跡探測器懸掛在空氣中,與空氣直接接觸,但這種測量方式的准確度差。杯式的徑跡密度與氡的暴露量之間有良好的線性關系,缺點是靈敏度低。靜電收集式需要配以高壓直流電源和乾燥劑,不過它的靈敏度高,准確度也較好,不僅可用於室內氡及子體濃度的測量,也可用於室外氡及子體濃度測量。主動式又可分泵抽和加靜電場兩種。
用α徑跡蝕刻法測量氡子體的方法常採用測量方案主要有兩種:一是利用氡及其子體衰變釋放的粒子具有不同能量的特點,在徑跡探測片前面加不同厚度的吸收層進行能量甄別,分別測量222Rn、RaA(218Po)、RaC(214Po)在空氣中的濃度。另一種是採用兩個探測器,其中一個帶過濾膜+探測片讀數只有氡的貢獻;一個不帶過濾膜,探測片讀數是氡及其子體的聯合貢獻。顯然後者較前者簡便,但數據准確度稍差。
α徑跡蝕刻法的原理和方法見66.4.1.1中徑跡刻蝕法。
(2)氡子體累積采樣單元(TLD)法
α熱釋光法的工作原理是利用對α靈敏的熱釋光片(如CaSO4∶Dy)製成一定厚度和形狀的探測器,放置於待測場所後,氡就會通過自由擴散進入收集室內,衰變產生的新一代子體(主要是218Po)所發射的α粒子穿過磷光體時,被釋光片記錄下來。暴露一定時間後,用熱釋光劑量儀測量熱釋光片,得到的計數正比於氡的積分濃度。由放置時間即可求出某時間段內氡的平均濃度。
熱釋光測量裝置由熱釋光片、加熱單元、光電器件和測量及記錄單元等部分組成。如美國西門子公司生產的CaSO4(Dy)熱釋光探測器,裝在高強度塑料杯內(兩者合在一起稱為探杯或收集室)。CaSO4(Dy)探測器實際上是一塊厚僅76×10-6m(或13.4/cm2)的薄膜。典型的α粒子的能量為5.5MeV,在這種薄膜中的射程為5.5mg/cm2或(31×10-6m)。因此這種探測器能把射入其中的α粒子能量完全吸收,而對於宇宙射線、β和γ輻射則不靈敏。該探測器對α輻射的靈敏度約為其他本底輻射的200倍(按相同量相比)。
方法的優點是成本低廉,小型無源,無雜訊;雖然精度比徑跡法稍差,但其數據的讀出卻方便得多,適用於大規模的氡水平調查。缺點是熱釋光法探測器的響應受環境溫度和風速的影響較大,使用時應選擇適當的位置或採取簡單的遮擋以使空氣流穩定。
66.4.3.2 瞬時測量法
收集氡子體的方法很多,在瞬時測量中最常用的還是濾膜取樣,即用纖維過濾器取一定體積的空氣,收集氡子體,然後用貝特曼方程描述濾膜上氡子體的變化規律,並建立相應的子體測量公式。其基本方法是建立3個方程,解出3個未知數。只要選擇一定的采樣時間和測量時間,求出相應的時間因子,代入基本公式就可導出一系列測量各自氡子體濃度公式,進而建立相應的測量方式。
(1)馬爾柯夫α潛能法
α潛能是指氡子體由RaA(218Po)完全衰變為210Pb的過程中發射出來的α粒子能量的總和,單位體積空氣中氡子體的α潛能值稱為氡子體α潛能濃度,單位為J/m3。
α潛能法是氡子體潛能測量的快速方法,從采樣到測量結束僅需要15min。氡子體潛能值計算公式如下:
岩石礦物分析第三分冊有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析
式中:Cp為子體的潛能濃度,MeV/m3;40.3為平衡比修正因子;N7~10為試樣在7~10min的α凈計數率;v為采樣流速,m3/min;E為儀器的計數效率,%;η為濾膜的過濾效率,%;Kα為濾膜對α粒子的自吸收修正因子。
(2)三段法
三段法是由托馬斯建立的氡子體測量方法,利用常規濾膜采樣收集氡子體。它是氡子體濃度的標准測量方法,可測出222Rn三個子體(RaA、RaB、RaC)的單獨濃度。采樣5min,測量采樣後(2~5min、6~20min、21~30min)濾膜上的α計數。
三段法只測量222Rn子體濃度,忽略220Rn子體的影響。測量222Rn各衰變產物218Po(RaA),214Pb(RaB),214Bi(RaC)可按以下公式算:
岩石礦物分析第三分冊有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析
式中:CRaA、CRaB、CRaC分別為空氣試樣中218Po、214Pb和214Bi的放射性濃度,Bq/m3;v為采樣流速,m3/min;E為α計數效率,0.30;η為濾膜的過濾效率;G為α計數率,min-1;K為濾膜自吸收修正系數;R為本底計數率。
(3)五段法
五段法是由三段法發展而來,根據放置不同時間測量,可以分別得到222Rn子體和220Rn子體濃度。五段法是包括測量釷子體(ThB,ThC),用下式計算218Po(RaA)、214Pb(RaB)、214Bi(RaC)、212Pb(ThB)、212Bi(ThC)的放射性濃度(Bq/m3):
CRaA=[4.2635N1-2.0821N2+1.9880N3-0.0947N4+0.04792N5]/VEF
CRaB=[-0.3335N1-0.0233N2+0.2976N3-0.1422N4+0.0786N5]/VEF
CRaC=[-0.0199N1+0.3497N2+0.4612N3-0.1040N4+0.0636N5]/VEF
CThB=[0.000185N1-0.000222N2+0.000444N3-0.001184N4+0.00507N5]/VEF
CThC=[-0.0214N1+0.029193N2-0.05635N3+0.140563N4-0.08225N5]/VEF
式中:CRaA、CRaB、CRaC分別為222Rn子體218Po、214Pb、214Bi的放射性濃度,Bq/m3;CThB、CThC分別為釷子體212Pb、212Bi的放射性濃度,Bq/m3;V為采樣流速,m3/min;E為α計數效率;F為濾膜的過濾效率和自吸收因子;N1、N2、N3、N4、N5分別為5個測量時段的α計數率,min-1。
222Rn子體潛能濃度的計算:
岩石礦物分析第三分冊有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析
220Rn子體潛能濃度的計算:
岩石礦物分析第三分冊有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析
式中:潛能濃度Eα的單位為10-4μJ/m3。
(4)α能譜法
α能譜法的工作原理是不同能量的α粒子入射探測器後,探測器會產生不同幅度的脈沖響應,多個不同能量的α粒子入射探測器便構成α能譜,經過譜分析便可得到不同222Rn、220Rn子體的濃度。圖66.16為在真空環境下測得的222Rn、220Rn子體α能譜。
圖66.16 α能譜峰示意圖
α能譜法測量由於能對α粒子能量進行鑒別,因此能夠迅速、准確地測量222Rn、220Rn子體,而且222Rn、220Rn子體的測量互不幹擾。在一個未知環境下,一方面只要在對應8.78MeV的220Rn子體道上有計數存在,就可以判定環境中有220Rn子體存在,再通過1~2h的監測就可以得出220Rn子體濃度;另一方面無論環境中有無222Rn子體存在,它都可以在30min內獲得222Rn子體的濃度。
測量裝置
測量氡子體的儀器有多種型號,常用的有:FD-3015、RD-1、FT-648、FD-140、KF-6693、KF662D等。這類儀器的一般結構由空氣采樣和測量兩部分組成,采樣器由放有采樣濾膜的采樣頭、采樣泵和流量控制3部分組成。測量部分有α探測器、電荷靈敏放大器、甄別電路、控制電路和計數電路、顯示電路等。
測量步驟
(1)α潛能法
α潛能法的測量程序如下:以流速v(m3/min)采樣5min,在采樣結束後7~10min內對試樣進行α計數,其積分計數記為N7~10。
(2)三段法
三段法應以一定量的流速v(L/min)采空氣樣5min,采樣結束後在2~5min、6~20min、21~30min三段時間間隔內測量試樣的α計數,分別記為G(2,5)、G(6,21)、G(21,30)(min-1)。
(3)五段法
五段法的測量程序如下:以v流速(L/min)采樣30min,在取樣結束後第2~5min、6~20min、21~30min、200~300min、366~566min的五段時間間隔內測量取樣濾膜上的α計數。計數率分別記為:N1、N2、N3、N4、N5。
(4)α能譜法
首先通過濾膜采樣裝置以一定的流量過濾待測空氣,將空氣中的222Rn、220Rn子體收集在采樣濾膜上,然後將濾膜放入α能譜儀,按一定的測量程序如Marts、Jonassen測量程序,在幾段時間內統計222Rn、220Rn子體對應的各α能量峰計數。再聯立222Rn、220Rn子體的Bateman衰變特徵方程組來求解222Rn、220Rn子體水平。222Rn子體的特徵能量峰包括:RaA(218Po)6.0MeV、RaC'(214Po)7.69MeV;220Rn子體的特徵能量峰包括:ThC″(208Tl)6.05MeV、ThC'(212Pb)8.78MeV。
刻度
利用標准氡室對氡子體測量儀進行刻度的方法與刻度氡測量儀的方法相同。因為氡子體在空氣中以氣溶膠狀態存在,容易沉積在固體表面而離開氣相,這樣就難以利用母子體衰變的關系得到准確可靠的氡子體標准樣。因此只能用絕對測量方法對氡子體測量儀進行刻度。這就需要准確獲得影響測量的各種因子後,才能根據測量方法的原理計算出刻度系數。
各種刻度系數的標定或測定簡介如下:
(1)探測效率的標定
用長半衰期核素的α標准面源(241Am、239Pu或238U均可)標定儀器的探測效率,要做到輻射源與探測器間的距離盡可能的短,以保證在低能的α粒子射程之內,並減少幾何條件帶來的誤差。
(2)采樣流量的測定
所用的流量計需用標准裝置修正;對於濾膜對氣流的阻力造成下游氣流的負壓須對轉子流量計作讀數校正。
(3)過濾效率的測定
不同型號的濾膜、放置幾層濾膜都會對濾膜過濾效率有影響,須進行過濾效率的測定;常用的濾料有合成纖維(過氯乙烯樹脂纖維和聚丙烯纖維等)、玻璃纖維和微孔濾料。後兩者過濾效率接近100%。測定過濾效率的方法是用兩張同質量的濾料,重疊在一起,進行過濾效率的測定。
(4)自吸收因子的測定
一般情況下,微孔濾膜(孔徑0.8μm)自吸收因子接近1。自吸收的測定方法是:按規定條件采空氣樣,將氡子體收集在濾料上,30min後,以相同幾何條件,依次快速測量濾膜正反兩面、與正面加一同類濾料的空白濾料的α計數,分別得到C1、C2和C3,則自吸收因子K可用下式計算。
岩石礦物分析第三分冊有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析
式中:K為自吸收因子;C1為濾膜正面的α計數;C2為濾膜反面的α計數;C3為正面加蓋同類空白濾膜後的α計數。