❶ 探針是什麼呀
probe
定義1：(1)分子生物學和生物化學實驗中用於指示特定物質(如核酸、蛋白質、細胞結構等)的性質或物理狀態的一類標記分子。(2)一些儀器的探測器。如pH探頭、離子探頭等。所屬學科：生物化學與分子生物學（一級學科）；方法與技術（二級學科）
定義2：用生物素或放射性元素標記的核苷酸片段。所屬學科： 水產學（一級學科）；水產生物育種學（二級學科）
定義3：在分子雜交中用來檢測互補序列的帶有標記的單鏈DNA或RNA片段。所屬學科：細胞生物學（一級學科）；細胞生物學技術（二級學科）
定義4：在分子雜交中用來檢測互補序列的帶有標記的單鏈DNA或RNA片段。所屬學科：遺傳學（一級學科）；分子遺傳學（二級學科）
試驗探針
1、 試具A探針：ZLT-I01
產品概述：
符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標准要求。用於防止手背觸及的防護檢驗。
●可訂制帶50±5N推力。
2、 標准試驗指：ZLT-I02
產品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標准要求。用於防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
●可訂制帶10±1N推力。
3、直徑50圓擋板標准試驗指：ZLT-I02A
產品概述：
符合GB4706-1：20.2、IEC60335-1：20.2條款要求，擋板為直徑50㎜圓擋板，其他尺寸與ZLT-I02相同。
4、直徑125大擋板試驗指：ZLT-I02B
產品概述：
符合GB4706-30：20.2、IEC60335-2-14：20.2條款要求，擋板為直徑125㎜圓擋板，從試驗指尖端到擋板距離為100㎜，其他尺寸與ZLT-I02相同。
5、試具C探針：ZLT-I03
產品概述：
符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標准要求。用於防止手持工具觸及的防護檢驗。
●可訂制帶3±0.3N推力。
7、 試具D探針：ZLT-I04
產品概述：
符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標准要求。用於防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。
●可訂制帶1±0.1N推力。
8、 試驗鋼球：ZLT-I05
產品概述：
符合IEC61032圖5試具1、IEC60529IP1、GB4208IP1 等標准要求， 直徑為50+0.05。用以檢驗防止直徑大於等於50㎜的固異物進入設備內部。
●可訂制帶手柄。
8、試驗鋼球：ZLT-I06
產品概述：
符合IEC61032圖6試具2、IEC60529IP2、GB4208IP2 等標准要求,直徑為12.5+0。2。用以檢驗防止直徑大於等於12.5的固異物進入設備內部。
● 可訂制帶手柄。
9、試驗直指：ZLT-I07/I07A
產品概述：
符合IEC61032圖7試具11、GB/T16842試具11、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000、IEC60335、GB4706等標准要求。用於檢驗防止人體觸及部件，也可用於檢驗外殼的孔或外殼內部擋板的機械強度。
ZLT-I07A帶有非圓形限位板，其他尺寸與ZLT-I07相同。
●可訂制帶10～50N推力，型號：ZLT-TZ1
●可訂制帶10～75N推力，型號：ZLT-TZ2
●可訂制帶 5～30N推力，型號：ZLT-TZ3
10、試驗長銷：ZLT-I08
產品概述：
符合IEC61032圖8試具12、GB/T16842試具12等標准要求，用於檢驗帶電部件或機械部件是否被觸及。
11、 試驗銷：ZLT-I09
產品概述：
符合IEC61032圖9試具13、GB/T16842試具13、IEC60950圖2B、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標准，用於檢驗0類設備和Ⅱ類設備中危險的帶電部件是否被觸及。
12、 試具14探針：TZL-I10
產品概述：
符合IEC61032圖10試具14要求，用於檢驗通過電氣插座的防護外罩能否觸及內部的危險帶電部件，配尼龍手柄。
13、 試具17探針：ZLT-I11
產品概述：
符合IEC61032圖11試具17要求，用於檢驗電動玩具的帶電部件是否被觸及，配尼龍手柄。
14、 兒童試驗指：ZLT-I12
產品概述：
符合IEC61032圖12試具18要求，用於模擬大於36個月而小於14歲的兒童是否觸及危險部件。
15、 兒童試驗指：ZLT-I13
產品概述：
符合IEC61032圖13試具19要求，用於模擬36個月及以下的兒童是否觸及危險部件。
16、 試具31探針：ZLT-I14
產品概述：
符合IEC61032圖14試具31、GB/T16842試具31要求，用於檢驗殘剩餘食品處理裝置的碾磨系統的危險機械部件是否被觸及。
17、 試具32探針：ZTL-I15
產品概述：
符合IEC61032圖15試具32、GB/T16842試具32要求，用於檢驗風扇外罩的防止觸及危險機械部件的作用，配尼龍手柄。
18、 試驗探針：ZLT-I16
產品概述：
符合IEC61032圖16試具41、GB/T16842試具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標准要求，用於檢驗灼熱部件被觸及。
19、 試具43探針：ZLT-I17
產品概述：
符合IEC61032圖17試具43、GB/T16842試具43等標准要求，用於檢驗固定式或攜帶型可見熱輻射取曖器的保護。
20、 試驗鉤：ZLT-I18
產品概述：
符合GB8898圖4、IEC60065圖4等標准要求，用於檢驗危險帶電零部件是否被觸及。
21、 天線同軸插座機械試驗用試驗插頭：ZLT-I19
產品概述：
符合GB8898圖8、IEC60065圖8等標准要求，用於檢驗安裝在設備上而且裝有將危險帶電件與可觸及零部件隔離的零部件或元器件的天線同軸插座，其結構應能承受在預期使用時可能會遇到的機械應力。
22、 帶推力試驗探針：ZLT-I20
產品概述：
符合GB2099-2008圖9、IEC60884圖9等標准要求，用於檢驗帶保護門的插座的帶電部件是否觸及。
●尺寸：3×1㎜，長80㎜，20N推力。
23、 帶推力試驗探針：ZLT-I21
產品概述：
符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標准要求，用於對帶保護門的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗。
●尺寸：直徑1㎜，長80㎜，1N推力。
24、 試驗指甲：ZLT-I22
產品概述：
符合IEC60335圖7、GB4706.1圖7等標准要求，適用於對電擊水或接觸運動部件的不可拆卸零件能否經受得住正常使用中出現的機械應力，達到規定防護等級進行測試的設備，可施加10N、20N、30N三種測試力。
25、試驗探頭：ZLT-I23
產品概述：
符合IEC60950圖2C、GB4943圖2C、IEC60065、GB8898等標准要求，用於對信息技術設備的TNV電路的裸露部件是否有足夠的保護。
26、直徑8試驗探棒：ZLT-P01
產品概述：
符合IEC60335-2-14：20.102、GB4706-30：20.102等標准條款要求，直徑:8㎜，長:80㎜，配手柄。
27、直徑75鋼球探針：ZLT-P02
產品概述：
符合IEC60335-2-24：21.102條款、GB4703.13:21.102條款要求，用於檢驗家電產品上的燈是否合格。
●鋼球直徑：75㎜，可訂制帶手柄。
28、劃痕工具：ZLT-P03
產品概述：
符合IEC60335-2-24圖102、GB4706.13圖102等標准要求，用於對家電中所有受保護冷卻系統的易觸及元件表面，包括與受保護冷卻系統緊密接觸的易觸及表面進行刮擦試驗。
29、試具探針：ZLT-P04
產品概述：符合IEC60065：9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等標准條款要求。
●尺寸：直徑4㎜，長100㎜。
30、直徑3試驗探針：ZLT-P05
產品概述：
符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706：22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等標准要求，用於對操作微波爐的隱蔽的門聯鎖裝置。
●尺寸：直徑3㎜，長100㎜。
❷ 要用測試探針的是什麼工廠
測試探針的用途較廣，根據電子測試的用途，可將探針分為：
光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路測試探針；
在線測試探針：PCB線路板安裝元器件後的測試探針；
微電子測試探針：即晶圓測試或晶元IC測試探針。
根據測試探針的種類，可分為：
1.ICT探針：主要用於在線電路測試和功能測試，也稱ICT測試和FCT測試，是目應用較多的一種探針。
2.界面探針：非標準的探針，一般是為少數做大型測試機台的客戶定做的，用於測試機台與測試夾具的接觸點和面。
3.微型探針：兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm。
4.開關探針：開關探針單獨一支探針有兩路電流。
5.高頻探針：用於測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的，還有500MHz不帶屏蔽圈的。
6.旋轉探針：彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用於OSP處理過的PCBA測試。
7.高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps。
8.半導體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大於10GHz,50Ω characteristic。
9.電池接觸探針：一般用於優化接觸效果，穩定性好和壽命長。
10.汽車線束測試探針：專業用於汽車線束通斷檢測，直徑在1.0-3.5mm之間，電流在3-50A。
除了以上幾種類型的探針外，還有比較少用的溫度探針，Kelvin探針等。
以上提到的需要用到測試治具和需要進行電子測試的都會用到測試探針。大電流彈片微針模組是測試探針的一種，在電子測試中，用於手機電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測試。
❸ 有哪些公司用探針
地質勘探公司等有關勘探工作的單位使用探針，還有製造勘探儀器的工廠供配套用
❹ 探針有哪些種類可以運用在什麼地方
探針種類有很多，有醫療類，氣象類，地理類等等，這些都是電子成品為主，下面講一下測試類電子電路類。
測試類電子電路主要有射頻針，BGA，ATE，FCT以及MDA/ICT等等，主要是應用在MDA/ICT/Function等相關主板檢測治具，可在生產過程中將不良主板檢測出來。
射頻就是射頻電流，是一種高頻交流變化電磁波的簡稱，對於GSM、WCDMA、CDMA2000及藍牙（bluetooth）、wifi、wimax等的測試統屬於RF測試，多為無線通訊。
BGA是在封裝體基板的底部製作陣列焊球作為電路的I/O端與印刷線路板（PCB）互接。用LH（台灣錂鋐）半導體探針或模組來檢測讀寫程式設計。
ATE通常為流線測試設備，測試於半導體產業意指積體電路（IC）自動測試機，用於檢測積體電路功能之完整性，為積體電路生產製造之最後流程，以確保積體電路生產製造之品質。
FCT就是功能測試，在ICT測試OK後，就可以進行功能測試，看PCBA是否工作正常，達到設計的功能。主要用於被測物的轉接後測試，簡化人工插拔的動作，提升生產效率。
ICT/MDA主要用於被測物的測貼透過探針轉接後測試，可體測項目如：檢測Open.short，電阻阻值量測，電容容值量測，電感感量量測，二極體量測，電晶體量測，電壓量測，IC量測，路線量測等檢測。
❺ 探針是什麼用於哪些方面
DNA探針，一般是帶有標記基因的DNA鏈，它和待檢的DNA鏈結合來檢測某些基因的存在，用在醫學上可以檢測基因遺傳病（原理簡單，就像拼圖一樣）。
❻ 常用探針有哪些種類，選擇此形狀的原因
目前常用的熒光探針有熒光素類探針、無機離子熒光探針、熒光量子點、分子信標等。熒光探針除應用於核酸和蛋白質的定量分析外，在核酸染色、DNA電泳、核酸分子雜交、定量PCR技術以及DNA測序上都有著廣泛的應用。
目前，檢測熒光探針的方法主要有單點測定和電荷耦合裝置（CCD）熒光成像（包括用於微區分析的激光共聚焦熒光顯微鏡成像）。由於光電倍增管點掃描時間較長，激光照射強度高，很難抓住熒光早期變化。而CCD熒光成像的面陣大，成像視野廣，成像時間可以調節，因而檢測效果比較好。
化學發光檢測的最大特點是設備簡單、操作簡便、分析速度快及靈敏度高。化學發光成像分析(CLI)是將化學發光與成像技術相結合，從而具有解析度高、多樣品同時檢測、光譜響應范圍寬以及靈敏度高等特點[10,11]，已廣泛應用於凝膠、蛋白印記及微陣列晶元中的化學發光信號檢測。本實驗建立了TCPO?咪唑?H2O2?熒光探針化學發光成像體系。由於化學發光不需要任何光源，因而在對熒光探針進行化學發光成像檢測時，不存在熒光檢測或者熒光成像時不可避免的光學背景的干擾，從而可以獲得更低的檢出限。用此體系對5種熒光探針進行定量分析，並研究了用四甲基異硫氰酸羅丹明（TRITC）標記的單克隆羊抗人IgG的化學發光成像，檢出限達10－11mol/L，比相同條件下熒光成像的檢出限低一個數量級。
❼ 哪些地方要用到探針
偉創力，富士康，捷普等EMS工廠都是探針消耗大公司！
如果說籠統一點：電子代加工工廠 最多
❽ 探針行業中有哪些牌子的測試探針和供應測試針的廠家
探針行業中的測試探針有pogopin探針模組、彈片微針模組，還有高頻探針、射頻專探針、大電流探針等等。
凱/智屬/通 微電子擁有彈片微針模組的獨家專利權，彈片微針模組可應用於手機電池、屏幕、攝像頭模組、指紋模組的測試，以及板對板連接器、FPC連接器測試等等。
彈片微針模組是一體成型式的彈片結構，體型輕薄，鍍金後經過加硬處理，可承載的電流最高能達到50A，電流傳輸時流通於同一材料體內，具有更好地連接功能；
在小pitch領域適應性很強，可取值范圍最小可達到0.15mm，性能很穩定；
平均使用壽命可達到20w次以上，在操作、保養、環境都很好的情況下能達到50w次，使用壽命長，無需經常更換。在高頻率的測試中，有著較好的應對能力，可保持穩定的連接。
在手機電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測試時，彈片微針模組可用不同的頭型分別應對連接器公母座，使連接更穩定。測試公座時，可用鋸齒型彈片與連接器公座頂部彈片多點接觸，保證接觸的穩定性；測試母座時，可用尖頭型彈片與連接器母座的彈片兩面一直保持接觸狀態，保證連接的穩定性。母座測試良率可達到99.8%。
❾ 電子探針用途有哪些
可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。該儀器將高度聚焦的電子束聚焦在礦物上內，激發組成礦物元容素的特徵X射線。用分光器或檢波器測定熒光X射線的波長，並將其強度與標准樣品對比，或根據不同強度校正直接計數出組分含量。