電子鏡電路

1. 智能鏡沒裝變壓器試電壞了

電路損壞。
可能是電壓過大造成的電路損壞。需要檢查電路是否完好。
智能眼鏡，也稱智能鏡，是指「像智能手機一樣，具有獨立的操作系統，智能眼鏡可以由用戶安裝軟體、游戲等軟體服務商提供的程序。智能眼鏡可通過語音或動作操控完成添加日程、地圖導航、與好友互動、拍攝照片和視頻、與朋友展開視頻通話等功能，並可以通過移動通訊網路來實現無線網路接入的這樣一類眼鏡的總稱」。

2. 怎麼維修電子電路板

原始的檢測方法大致分為三種：觀察法；靜態測量法；在線測量法

1 觀察法
當我們拿到一塊待維修的電路板時， 首先對它的外觀進行仔細的觀察。如果電路板被燒過， 那麼在給電路板通電前， 一定要仔細檢查電源電路是否正常， 在確保不會引起二次損傷後再通電。觀察法是屬於靜態檢查法的一種，在運用觀察法時，一般遵循以下幾個步驟。
第一步觀察電路板有沒有被人為損壞， 這主要從以下幾個方面來看：
① 看是否電路板被摔過， 導致了板角發生變形，或是板上晶元被摔變形或摔壞的。
② 觀察晶元的插座， 看是否由於沒有專用工具，而被強制撬壞的。
③ 觀察電路板上的晶元，若是帶插座的，首先觀察晶元是否被插錯， 這主要是防止操作者自己維修電路板時將晶元的位置或方向插錯。如果沒有及時把錯誤改正，當給電路板通電時，有可能會燒壞晶元，造成不必要的損失。
④ 如果電路板上帶有短接端子的，觀察短接端子是否被插錯。
電路板的維修需要的是理論上的扎實功底，工作上的仔細認真，通過維修者的仔細觀察，有時在這一步就能判斷出發生問題的原因。
第二步觀察電路板上的元器件有沒有被燒壞的。比如電阻、電容、二極體有沒有發黑、變糊的情況。正常情況下，電阻即使被燒糊了，它的阻值也不會有變化，性能不會改變，不影響正常使用，這時需要使用萬用表輔助測量。但是如果是電容、二極體被燒糊了，他們的性能就會發生改變，在電路中就不能發揮其應有的作用， 將會影響整個電路的正常運行，這時必須更換新的元器件。
第三步觀察電路板上的集成電路， 比如74 系列、CPU、協處理器、AD 等等晶元， 有沒有鼓包、裂口、燒糊、發黑的情況。如果有這樣的情況發生，基本可以確定晶元已經被燒壞，必須更換。
第四步觀察電路板上的走線有沒有起皮、燒糊斷路的情況。沉銅孔有沒有脫離焊盤的。
第五步：觀察電路板上的保險（包括保險管和熱敏電阻），看保險絲是否被熔斷。有時由於保險絲太細，看不清楚，可以藉助輔助工具-萬用表來判斷保險管是否損壞。
以上四種情況的發生， 大都是由於電路中電流過大造成的後果。但是具體是什麼原因造成的電流過大， 就要具體問題具體分析。但查找問題的總體思路是首先要仔細分析電路板的原理圖， 然後根據所燒毀的元器件所在電路，查找它的上級電路，一步一步向上推導，再憑工作中積累的一些經驗，分析最容易發生問題的地方，找出故障發生的原因。

2 靜態測量法
對大部分的電路板來說，通過前面的觀察法，並不能發現問題。只要少部分的電路板會因為一些特殊的原因發生物理變形，輕易的找出故障原因，大部分發生故障的電路板，還是需要藉助萬用表，對電路板上的一些主要元器件、關鍵點進行有序的測量，發現問題，解決問題。
在測量之前， 首先要判斷電路是以模擬信號為主， 還是以數字信號為主。對於有原理圖的電路板來說，通過查看原理圖就能判斷。但是對於沒有原理圖的電路板來說，一般通過以下兩種方法判斷：①觀察電路板上的元器件，看電路板上是否有微處理器，不管是早期的80、51 系列，還是現在廣泛應用的DSP,只要電路板上出現這樣的晶元，就說明板子上有匯流排結構，數字信號必將佔有很大的一部分， 就可以把它當做數字板來處理。②對於沒有微處理器的電路板，觀察板上元器件，看應用5V 電源的晶元多不多。如果5V 電源晶元很多，也可以把它當做數字電路來進行修理。對於數字電路和模擬電路的維修方式是不同的， 一般來說模擬電路維修起來更簡單一些，可以一步一步的向前推導，找出問題。但是對於數字電路來說，由於電路都掛在匯流排上，沒有明確的上下級關系。因此維修起來要更困難一些，下面只著重闡述數字電路的靜態測量法，維修主要遵循以下幾個步驟來進行。
第一步：使用萬用表檢查電源與地之間是否短路。
檢查的方法是：找一個5V 電源供電的晶元，測量對角線上的兩點（比如14 腳的晶元，則測量7 腳與14 腳。
16 腳的晶元，則測量8 腳與16 腳）。如果兩點之間沒有短路，說明電源工作大致正常。若發生短路現象，則需要通過排查法找到原因。
這些步驟只是電源維修的基本思路， 具體到特別復雜的電路板還需要具體問題具體分析。
電源是電路的基礎，只有電源工作正常，才能談到後續電路的應用。因此電源的測量是非常重要的，同時也是特別容易被維修者忽略的一步。
第二步：使用萬用表測量二極體，觀察其工作是否正常。正常情況下，用電阻檔測正負極，正相測量為幾十到幾百歐，反相為一千到幾千歐。一般來說二極體發生損壞的情況，都是由於電路中的電流過大導致二極體被擊穿。
第三步：使用萬用表電阻檔測量電容，看是否有短路、斷路的情況，如果有，則說明這部分電路有問題。下一步就需要確定是元件本身有問題， 還是跟它相連的電路有問題， 方法是將可疑元件的一腳焊下來，看元件是否有斷路、斷路情況。這樣就可以一步確定問題所在。
第四步： 同樣使用萬用表對電路板上的集成電路、三極體、電阻等進行測量，看其是否符合本身的邏輯性能。如果電路板上包括匯流排結構的， 一般在匯流排上，都會有提拉電阻排。電阻排的測量，是非常重要的一步， 通過它的好壞可以初步檢驗掛在匯流排上的晶元的好壞。
通過觀察法和靜態測量法的檢查之後， 電路板維修中出現的大部分問題可以被解決， 值得注意的一點是一定要確保電源的正常， 避免在下一步進行後造成對電路板的二次損傷。

3 在線測量法
在線測量法一般應用在批量生產電路板的廠家，生產廠商為了維修方便，一般會搭建一個比較通用的調試維修平台， 它可以方便的提供電路板所需的電源以及一些必要的初始信號。在線測量法主要解決兩個方面的問題。一是將上兩個步驟中發現的問題細分， 最終鎖定到出現問題的元器件。二是通過上面兩步的檢查，問題並沒有得到解決的，需要通過在線測量找出故障原因。在線測量法主要通過以下幾個步驟來進行。
第一步： 給電路板通電， 在這步中需要注意的是，有些電路板電源並不是單一的，可能需要5V,還會需要正負12V,24V 等等，不要把該加的電源漏加了。電路板通電後，通過手摸電路板上的元器件，看是否有發燙發熱的元件， 重點檢查74 系列晶元，如果元件有燙手的情況， 則說明此元件有可能已經損壞。更換元件後，檢查電路板故障是否已解決。
第二步：用示波器測量電路板上的門電路，觀察其是否符合邏輯關系。若輸出不符合邏輯， 需要分兩種情況分別對待，一種是輸出應該是低電平的，實際測量為高電平，可以直接判斷晶元損壞；另一種是輸出應該是高電平的，實際測量為低的，並不能就此判定晶元已經損壞， 還需要將晶元與後面的電路斷開，再次測量，觀察邏輯是否合理，判定晶元的好壞。
第三步：用示波器測量數字電路里的晶振，看其是否有輸出。若無輸出， 則需要將與晶振相連的晶元盡可能都摘掉後再進行測量。若還無輸出， 則初步判定晶振已經損壞；若有輸出，需要將摘掉的晶元一片一片裝回去，裝一片測一片，找出故障所在。
第四步： 帶匯流排結構的數字電路， 一般包括數字、地址、控制匯流排三路。用示波器測量三路匯流排，對比原理圖，觀察信號是否正常，找出問題。
在線測量法主要用於兩塊好壞電路板的對比，通過對比，發現問題，解決問題。從而完成電路板的維修。

隨著現代技術發展越來越成熟，各種新型儀器、設備不斷涌現，檢測手段也層出不窮，原始的檢測設備、方法越來越不被重視。但是對一個從事電子工程的人員來說，依賴簡單的檢測工具，如萬用表、示波器等進行測量、檢修，仍然是一個電子工程師必備的技能。

而電路板的維修也要注意幾個原則：

原則一:先看後量

對待修的電路板首先應對其進行目測。必要時還要藉助於放大鏡觀察。
主要看：
1.是否有斷線和短路處;尤其是電路板上的印製電路板連接線是否存在斷裂粘連等現象;
2.有關元器件如電阻電容電感二極體三極體等是否存在斷開現象;
3.是否有人修理過?動過哪些元器件?是否存在虛焊漏焊插反插錯等問題。
排除上述狀況後這時候先用萬用表測量電路板電源與地之間的阻值通常電路板的阻值不應小於70Ω。若阻值太小，才幾或十幾歐姆。說明電路板上有元器件被擊穿或部分擊穿就必須採取措施將被擊穿的元器件找出來。具體辦法是給被修板加電(注意!此時一定要搞清該板的工作電壓的電壓值與正負極性不可接錯和加入高於工作電壓值。否則將對待修電路板有傷害!老故障沒排除又增新毛病!!)用點溫計測電路板上各器件的溫度，溫度升的較快較高的視為重點懷疑對象。
若阻值正常後再用萬用表測量板上的阻容器件二、三極體場效應管以及剝段開關等元器件。其目的就是首先要確保被測量過的元器件是正常的。能用一般測試工具(如萬用表等)解決的問題就不要把它復雜化。

原則二:先外後內
如果情況允許最好是有一塊與待修板一樣的好電路板作為參照。然後使用測試儀的雙梆VI曲線掃描功能對兩塊板進行好、壞對比測試。開始的對比測試點可以從電路板的埠開始;然後由表及裡尤其是對電容器的對比測試。這可彌補萬用表在線難以測出電容是否漏電的缺憾。

原則三:先易後難
為提高測試效果在對電路板進行在線功能測試前應對被修板做一些技術處理以盡量削弱各種干擾對測試過程中帶來的影響。具體措施如下:
1.測試前的准備
將晶振短路(注意對四腳的晶振要搞清那兩腳為信號輸出腳可短路此兩腳。記住一般情況下另外兩腳為電源腳千萬不可短接!!)對於大容量的電解電容器也要焊下一腳使其開路。因為大容量電容的充放電同樣也會帶來干擾。
2.採用排除法對器件進行測試
對器件進行在線測試或比較測試過程中凡是測試通過(或比較正常)的器件請直接確認測試結果給以記錄。對測試未通過(或比較超差)的可再測試一遍。若還是未通過也可先確認測試結果。這樣一直測試下去直到將板上的器件測試(或比較)完。然後再來處理那些未通過測試(或比較超差)的器件。
對未通過功能在線測試的器件有些測試儀器還提供了一種不太正規卻又比較實用的處理方法:由於該種測試儀器對電路板的供電還可以通過測試夾施加到器件相應的電源與地線腳上若對器件的電源腳實施刃割則這個器件將脫離電路板供電系統。
這時再對該器件進行在線功能測試;由於電路板上的其他器件將不會得電工作消除了干擾作用。此時的實際測試效果將等同於「准離線測試」測准率將獲得很大提高。

3. 看電子線路板用多大倍數的放大鏡合適

一般的最小線路和線距為2mil、2mil，也就是0.05mm、0.05mm左右，人肉眼的最小分辨能力是0.1mm，如果要看的比較回舒服的話，用答10倍-50倍的放大鏡觀察就好了。
親愛的朋友們，你們好嗎？多謝！

4. 汽車電動倒後鏡的工作原理及電路圖

摘要：隨著電子技術在汽車上的普遍應用，汽車電路圖已成為汽車維修人員必備的技術資料。目前，大部分汽車都裝備有較多的電子控制裝置，其技術含量高，電路復雜，讓人難以掌握。正確識讀汽車電路圖，也需要一定的技巧。電路圖是了解汽車上種類電氣系統工作時使用的重要資料，了解汽車電路的類型及特點，各車系的電路特點及表達方式，各系統電路圖的識讀方法、規律與技巧，指導讀者如何正確識讀、使用電路圖有很重要的作用。
汽車電路實行單線制的並聯電路，這是從總體上看的，在局部電路仍然有串聯、並聯與混聯電路。全車電路其實都是由各種電路疊加而成的，每種電路都可以獨立分列出來，化復雜為簡單。全車電路按照基本用途可以劃分為燈光、信號、儀表、啟動、點火、充電、輔助等電路。每條電路有自己的負載導線與控制開關或保險絲盒相連接。
關鍵詞：電路 單行線制 系統 導線 各種車燈
目錄：（1）全車線路的連接原則
（2）識讀電路圖的基本要求
（3）以東風EQ1090型載貨汽車線路為例全車線路的認讀
a.電源系統線b.起動系統線路c.點火系統線路
d.儀表系統線路e.照明與信號系統線路
(4)全車電路的導線
(5)識讀圖注意事項
論汽車電路的識讀方法
在汽車上，往往一條線束包裹著十幾支甚至幾十支電線，密密麻麻令人難以分清它們的走向，加上電是看不見摸不著，因此汽車電路對於許多人來說，是很復雜的東西。但是任何事物都有它的規律性，汽車電路也不例外。
一般家庭用電是用交流電，實行雙線制的並聯電路，用電器起碼有兩根外接電源線。從汽車電路上看，從負載（用電器）引出的負極線（返回線路）都要直接連接到蓄電池負極接線柱上，如果都採用這樣的接線方法，那麼與蓄電池負極接線柱相連的導線會多達上百根。為了避免這種情況，設計者採用了車體的金屬構架作為電路的負極，例如大梁等。因此，汽車電路與一般家庭用電則有明顯不同：汽車電路全部是直流電，實行單線制的並聯電路，用電器只要有一根外接電源線即可。
蓄電池負極和負載負極都連接到金屬構架上，也就是稱為「接地」。這樣做就使負載引出的負極線能夠就近連接，電流通過金屬構架迴流到蓄電池負極接線。隨著塑料件等非金屬材料在汽車上應用越來越多，現在很多汽車都採用公共接地網路線束來保證接地的可靠性，即將負載的負極線接到接地網路線束上，接地網路線束與蓄電池負極相連。
汽車電路實行單線制的並聯電路，這是從總體上看的，在局部電路仍然有串聯、並聯與混聯電路。全車電路其實都是由各種電路疊加而成的，每種電路都可以獨立分列出來，化復雜為簡單。全車電路按照基本用途可以劃分為燈光、信號、儀表、啟動、點火、充電、輔助等電路。每條電路有自己的負載導線與控制開關或保險絲盒相連接。
燈光照明電路是指控制組合開關、前大燈和小燈的電路系統；信號電路是指控制組合開關、轉彎燈和報警燈的電路系統；儀表電路是指點火開關、儀錶板和感測器電路系統；啟動電路是指點火開關、繼電器、起動機電路系統；充電電路是指調節器、發電機和蓄電池電路系統。以上電路系統是必不可少的，構成全車電路的基本部分。輔助電路是指控制雨刮器、音響等電路系統。隨著汽車用電裝備的增加，例如電動座椅、電動門窗、電動天窗等，各種輔助電路將越來越多。
舊式汽車電路比較簡單，一般情況下，它們的正極線(俗稱火線)分別與保險絲盒相接，負極線(俗稱地線)共用，重要節點有三個，保險絲盒、繼電器和組合開關，絕大部分電路系統的一端接保險絲或開關，另一端聯接繼電器或用電設備。但在現代汽車的用電裝置越來越多的情況下，線束將會越來越多，布線將會越來越復雜。隨著汽車電子技術的發展，現代汽車電路已經與電子技術相結合，採用共用多路控制裝置，而不是象舊式汽車那樣通過單獨的導線來傳送。
使用多路控制裝置，各用電負載發送的輸入信號通過電控單元（ECU）轉換成數字信號，數字信號從發送裝置傳輸到接收裝置，在接收裝置轉換成所需信號對有關元件進行控制。這樣就需在保險絲、開關和用電設備之間的電路上添加一個多路控制裝置（參閱廣州雅閣後霧燈線路簡圖）。採用多路控制線路系統可。
第二部分
第二

5. 電子目鏡怎麼自製

買要根個C介面的攝像頭（有USB直接連電腦的），再搞個監控用的鏡頭（據你的目鏡焦距大致算下用什麼焦距的，用可調焦距的方便後續調節），然後做個金屬套筒（內部發黑處理防止反光，兩頭直徑要剛好套上你的目鏡和監控鏡頭），用個小螺釘把他們鎖緊連接在一起就行了。

說明：如果鏡頭用的不對可能造成你看的圖像是周圍大大的黑圈就中間一點圖像，所以你要反復拆裝鏡頭調節焦距到剛好，做起來好麻煩的啊 ！！！

6. 電子內窺鏡的工作原理

電子內窺鏡的工作原理及用途：
整套電子內窺鏡系統主要由內鏡(endos) 、電視信息系統中心(video information system center) 和電視監視器(television monitor) 三個主要部分組成。另外，CCD耦合腔鏡、腔內冷光照明系統（目前為LED光源）、視頻處理系統、和顯示列印系統是電子內窺鏡的主要結構的組成部分。電子內鏡的構成還配備一些輔助裝置，如錄像機、照相機、吸引器以及用來輸入各種信息的鍵盤和診斷治療所用的各種處置器具等。電子內窺鏡在國內大中型醫院內鏡室的診斷和治療活動中起著十分重要的作用。具有解析度高、易於診斷、管徑細、使用壽命長等優點。主要缺點是易損壞，一般用戶不能修理，廠家維修費用高。
從詳細部件構成上，電子內窺鏡主要包括先端彎曲部、插入部、操作部、電氣接頭部。先端彎曲部是內窺鏡的最前端，由送水/送氣噴嘴、導光束、物鏡、鉗子管道出口、彎曲橡皮等組成。插入部外面是帶刻度的外皮，內部包裹著導光束、導像束、送水/送氣管、鉗子管道和鼓輪鋼絲。操作部是醫生檢查、治療時手持操作的部分，主要包括角度控制轉子、卡鎖、功能按鈕、吸引活塞、送水/送氣活塞、鉗子管道入口等。電氣接頭部是電子內窺鏡連接冷光源和圖像處理系統的部件，由電氣接頭、導光接頭、送水/送氣接頭、吸引接頭組成。而在診治活動中動作最頻繁的部位: 一是操作部，包括有送氣/送水按鈕、吸引按鈕、活撿通道、角度鈕等。二是鏡身，鏡身為一根易彎曲的插入管，由鋼絲網管及蛇型鋼管製成，在小於1cm的管徑內容納有導向束、導光束、活檢/吸引通道、注氣/注水管道及控制角度的鋼絲等。外包有聚胺酯塑料管， 此管具有密封和防腐蝕作用， 以防止水和胃液的進入和腐蝕。這兩個頻繁工作的部件一旦損壞，必須請專業人員用專用工具和專用配件才能進行修復，造價高，時間長。因此，正確地操作和精心的維護保養，對防止和減少電子內窺鏡的故障發生，延長其使用壽命具有重要意義。

7. 什麼叫EBI集成電路掃描電鏡

掃描電鏡是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀

掃描電子顯微鏡

察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是，①有較高的放大倍數，20-200000倍之間連續可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單，目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分重要的科學研究儀器之一。

掃描電子顯微鏡的製造依據是電子與物質的相互作用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

掃描電子顯微鏡的主要功能。同時掃描電子顯微鏡還可以作為顯微操作平台，可接配納米機械手、微機械探針、接配離子槍等裝置，進行離子切割加工，納米操作，微區尺度物理化學性質測量；為適應材料的動態觀察和材料所處環境，可配置特殊樣品台，如機械拉伸台、高溫樣品台、低溫樣品台，樣品分析室充入可與樣品發生物理化學反應的特殊氣體。

8. 光學顯微鏡和電子顯微鏡的原理

光學顯微鏡的組成結構

光學顯微鏡包括光學系統和機械裝置兩大部分，而數碼顯微鏡還包括數碼攝像系統，現分述如下：

（一）機械裝置

1．機架顯微鏡的主體部分，包括底座和彎臂。

2．目鏡筒位於機架上方，靠圓形燕尾槽與機架固定，目鏡插在其上。根據有否攝像功能，可分為雙目鏡筒和三目鏡筒；根據瞳距的調節方式不同，可分為鉸鏈式和平移式。

3．物鏡轉換器它是一個旋轉圓盤，上有3～5個孔，分別裝有低倍或高倍物鏡鏡頭。轉動物鏡轉換器就可讓不同倍率的物鏡進入工作光路。

4．載物台是放置玻片的平台，其中央具有通光孔。台上有一個彈性的標本夾，用來夾住載玻片。右下方有移動手柄，使載物檯面可在XY雙方向進行移動。

5．調焦機構利用調焦手輪可以驅動調焦機構，使載物台作粗調和微調的升降運動，從而使被觀察物體對焦清晰成像。

6．聚光器調節機構聚光器安裝在其上，調節螺旋可以使聚光器升降，用以調節光線的強弱。

（二）光學系統

1．目鏡它是插在目鏡筒頂部的鏡頭，由一組透鏡組成，可以使物鏡成倍地分辨、放大物像，例如10X、15X等。按照所能看到的視場大小，目鏡可分為視場較小的普通目鏡，和視場較大的大視場目鏡(或稱廣角目鏡)兩類。較高檔顯微鏡的目鏡上還裝有視度調節機構，操作者可以方便快捷地對左右眼分別進行視度調整；此外，在這些目鏡上可以加裝測量分劃板，測量分劃板的象總能清晰地調焦在標本的焦面上；並且，為了防止目鏡被取走以及減少運輸中被損壞的可能性，這些目鏡可以被鎖定。

2．物鏡它安裝在轉換器的孔上，也是由一組透鏡組成的，能夠把物體清晰地放大。物鏡上刻有放大倍數，主要有10X、40X、60X、100X等。高倍物鏡中多採用浸液物鏡，即在物鏡的下表面和標本片的上表面之間填充折射率為1.5左右的液體（如杉木油），它能顯著的提高顯微觀察的解析度。

3．光源有鹵素燈、鎢絲燈、汞燈、熒光燈、金屬鹵化物燈等。

4．聚光器包括聚光鏡、孔徑光闌。聚光鏡由透鏡組成，它可以集中透射過來的光線，使更多的光能集中到被觀察的部位。孔徑光闌可控制聚光器的通光范圍，用以調節光的強度。

（三）數碼攝像系統

1．攝像頭

2．圖像採集卡

3．軟體

4．微機

五、光學顯微鏡的分類

光學顯微鏡有多種分類方法：按使用目鏡的數目可分為雙目和單目顯微鏡；按圖像是否有立體感可分為立體視覺和非立體視覺顯微鏡；按觀察對像可分為生物和金相顯微鏡等；按光學原理可分為偏光、相襯和微差干涉對比顯微鏡等；按光源類型可分為普通光、熒光、紫外光、紅外光和激光顯微鏡等；按接收器類型可分為目視、數碼（攝像）顯微鏡等。常用的顯微鏡有雙目體視顯微鏡、金相顯微鏡、偏光顯微鏡、熒光顯微鏡等。

1．雙目體視顯微鏡

雙目體視顯微鏡又稱"實體顯微鏡"或"解剖鏡"，是一種具有正象立體感地目視儀器。在生物、醫學領域廣泛用於切片操作和顯微外科手術；在工業中用於微小零件和集成電路的觀測、裝配、檢查等工作。它具有如下特點：

（1）利用雙通道光路，雙目鏡筒中的左右兩光束不是平行，而是具有一定的夾角--體視角（一般為12度--15度），為左右兩眼提供一個具有立體感的圖像。它實質上是兩個單鏡筒顯微鏡並列放置，兩個鏡筒的光軸構成相當於人們用雙目觀察一個物體時所形成的視角，以此形成三維空間的立體視覺圖像。

（2）象是直立的，便於操作和解剖，這是由於在目鏡下方的棱鏡把象倒轉過來的緣故。

（3）雖然放大率不如常規顯微鏡，但其工作距離很長。

（4）焦深大，便於觀察被檢物體的全層。

（5）視場直徑大。

目前體視鏡的光學結構是：由一個共用的初級物鏡，對物體成象後的兩光束被兩組中間物鏡----變焦鏡分開，並成一體視角再經各自的目鏡成象，它的倍率變化是由改變中間鏡組之間的距離而獲得的，因此又稱為"連續變倍體視顯微鏡"（Zoom-stereomicroscope）。隨著應用的要求，目前體視鏡可選配豐富的選購附件，如熒光，照相，攝象，冷光源等等。

2．金相顯微鏡

金相顯微鏡是專門用於觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，故金相和普通顯微鏡的主要差別在於前者以反射光，而後者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射後再返回物鏡成像。這種反射照明方式也廣泛用於集成電路矽片的檢測工作。

3．偏光顯微鏡（Polarizingmicroscope）

偏光顯微鏡是用於研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。

（1）偏光顯微鏡的特點

將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域，在生物學和植物學也有應用。

（2）偏光顯微鏡的基本原理

偏光顯微鏡的原理比較復雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應力物鏡，旋轉載物台。

（3）偏光鏡檢術的方式

a.正相鏡檢（Orthscope）:又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（BertrandLens）,被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用於檢查物體的雙折射性。

b.錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時產生的干涉圖樣，這種方法用於觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會聚偏振光束照明。

（4）偏光顯微鏡在裝置上的要求

a.光源：最好採用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現象由於波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。

b.目鏡：要帶有十字線的目鏡。

c.聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。

d.伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡後焦平面中形成的平涉圖樣。

（5）偏光鏡檢術的要求

a.載物台的中心與光軸同軸。

b.起偏鏡和檢偏鏡應處於正交位置。

c.製片不宜過薄。

4．熒光顯微鏡

熒光顯微鏡是用短波長的光線照射用熒光素染色過的被檢物體，使之受激發後而產生長波長的熒光，然後觀察。熒光顯微鏡廣泛應用於生物，醫學等領域。

（1）熒光顯微鏡一般分為透射和落射式兩種類型。

a.透射式：激發光來自被檢物體的下方，聚光鏡為暗視野聚光鏡，使激發光不進入物鏡，而使熒光進入物鏡。它在低倍情況下明亮，而高倍則暗，在油浸和調中時，較難操作，尤以低倍的照明範圍難於確定，但能得到很暗的視野背景。透射式不使用於非透明的被檢物體。

b.落射式：透射式目前幾乎被淘汰，新型的熒光顯微鏡多為落射式，光源來自被檢物體的上方，在光路中具有分光鏡，所以對透明和不透明的被檢物體都適用。由於物鏡起了聚光鏡的作用，不僅便於操作，而且從低倍到高倍，可以實現整個視場的均勻照明。

（2）熒光鏡檢術的注意事項

a.激發光長時間的照射，會發生熒光的衰減和淬滅現象，因此盡可能縮短觀察時間，暫時不觀察時，應用擋板遮蓋激發光。

b.作油鏡觀察時，應用"無熒光油"。

c.熒光幾乎都較弱，應在較暗的室內進行。

d.電源最好裝穩壓器，否則電壓不穩不僅會降低汞燈的壽命，也會影響鏡檢的效果。

目前許多新興生物研究領域應用到熒光顯微鏡，如基因原位雜交（FISH）等等。

5．相襯顯微鏡（Phasecontrastmicroscope）

在光學顯微鏡的發展過程中，相襯鏡檢術的發明成功，是近代顯微鏡技術中的重要成就。我們知道，人眼只能區分光波的波長（顏色）和振幅（亮度），對於無色通明的生物標本，當光線通過時，波長和振幅變化不大，在明場觀察時很難觀察到標本。

相襯顯微鏡利用被檢物體的光程之差進行鏡檢，也就是有效地利用光的干涉現象，將人眼不可分辨的相位差變為可分辨的振幅差，即使是無色透明的物質也可成為清晰可見。這大大便利了活體細胞的觀察，因此相襯鏡檢法廣泛應用於倒置顯微鏡中。

相襯鏡檢法在裝置上與明場不同，有一些特殊要求：

a.環狀光闌（Ringslit）:裝在聚光鏡的下方，而與聚光鏡組合為一體---相襯聚光鏡。它是由大小不同的環形光闌裝在一圓盤內，外面標有10X、20X、40X、100X等字樣，與相對應倍數的物鏡配合使用。

b.相板（Phaseplate）:裝在物鏡的後焦平面處，它分為兩部分，一是通過直射光的部分，為半透明的環狀，叫共軛面；另一是通過衍射光的部分，?quot;補償面"。有相板的物鏡稱"相襯物鏡"，外殼上常有"Ph"字樣。

相襯鏡檢法是一種比較復雜的鏡檢方法，想要得到好的觀察效果，顯微鏡的調試非常重要。除此之外還應注意以下幾個方面：

a.光源要強，全部開啟孔徑光闌；

b.使用濾色片，使光波近於單色。

6．微分干涉對比顯微鏡（）

微分干涉對比鏡檢術出現於60年代，它不僅能觀察無色透明的物體，而且圖象呈現出浮雕壯的立體感，並具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點，觀察效果更為逼真。

（1）原理

微分干涉對比鏡檢術是利用特製的渥拉斯頓棱鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動方向相互垂直且強度相等，光束分別在距離很近的兩點上通過被檢物體，在相位上略有差別。由於兩光束的裂距極小，而不出現重影現象，使圖象呈現出立體的三維感覺。

（2）微分干涉對比鏡檢術所需的特殊部件：

a.起偏鏡

b.檢偏鏡

c.渥拉斯頓棱鏡2塊

（3）微分干涉對比鏡檢時的注意事項

a.因微分干涉靈敏度高，製片表面不能有污物和灰塵。

b.具有雙折射性的物質，不能達到微分干涉對比鏡檢的效果。

c.倒置顯微鏡應用微分干涉時，不能用塑料培養皿。

7．倒置顯微鏡（Invertedmicroscope）

倒置顯微鏡是為了適應生物學、醫學等領域中的組織培養、細胞離體培養、浮游生物、環境保護、食品檢驗等顯微觀察。

由於上述樣品特點的限制，被檢物體均放置在培養皿（或培養瓶）中，這樣就要求倒置顯微鏡的物鏡和聚光鏡的工作距離很長，能直接對培養皿中的被檢物體進行顯微觀察和研究。因此，物鏡、聚光鏡和光源的位置都顛倒過來，故稱為"倒置顯微鏡"。

由於工作距離的限制，倒置顯微鏡物鏡的最大放大率為60X。一般研究用倒置顯微鏡都配置有4X、10X、20X、及40X相差物鏡，因為倒置顯微鏡多用於無色透明的活體觀察。如果用戶有特殊需要，也可以選配其它附件，用來完成微分干涉、熒光及簡易偏光等觀察。

目見倒置顯微鏡廣泛應用於patch-clamp,transgeneICSI等領域。

8．數碼顯微鏡

數碼顯微鏡是以攝像頭（即電視攝像靶或電荷耦合器）作為接收元件的顯微鏡。在顯微鏡的實像面處裝入攝像頭取代人眼作為接收器，通過這種光電器件把光學圖像轉換成電信號的圖像，然後對之進行尺寸檢測、顆粒計數等工作。這類顯微鏡可以與計算機聯用，這便於實現檢測和信息處理的自動化，多應用於需要進行大量繁瑣檢測工作的場合。

六、光學顯微鏡的使用規程

（一）實驗時要把顯微鏡放在座前桌面上稍偏左的位置，鏡座應距桌沿6～7cm左右。

（二）打開光源開關，調節光強到合適大小。

（三）轉動物鏡轉換器，使低倍鏡頭正對載物台上的通光孔。先把鏡頭調節至距載物台1～2cm左右處，然後用左眼注視目鏡內，接著調節聚光器的高度，把孔徑光闌調至最大，使光線通過聚光器入射到鏡筒內，這時視野內呈明亮的狀態。

（四）將所要觀察的玻片放在載物台上，使玻片中被觀察的部分位於通光孔的正中央，然後用標本夾夾好載玻片。

（五）先用低倍鏡觀察（物鏡10X、目鏡10x）。觀察之前，先轉動粗動調焦手輪，使載物台上升，物鏡逐漸接近玻片。需要注意，不能使物鏡觸及玻片，以防鏡頭將玻片壓碎。然後，左眼注視目鏡內，同時右眼不要閉合（要養成睜開雙眼用顯微鏡進行觀察的習慣，以便在觀察的同時能用右眼看著繪圖），並轉動粗動調焦手輪，使載物台慢慢下降，不久即可看到玻片中材料的放大物像。

（六）如果在視野內看到的物像不符合實驗要求（物像偏離視野），可慢慢調節載物台移動手柄。調節時應注意玻片移動的方向與視野中看到的物像移動的方向正好相反。如果物像不甚清晰，可以調節微動調焦手輪，直至物像清晰為止。

（七）如果進一步使用高倍物鏡觀察，應在轉換高倍物鏡之前，把物像中需要放大觀察的部分移至視野中央（將低倍物鏡轉換成高倍物鏡觀察時，視野中的物像范圍縮小了很多）。一般具有正常功能的顯微鏡，低倍物鏡和高倍物鏡基本齊焦，在用低倍物鏡觀察清晰時，換高倍物鏡應可以見到物像，但物像不一定很清晰，可以轉動微動調焦手輪進行調節。

（八）在轉換高倍物鏡並且看清物像之後，可以根據需要調節孔徑光闌的大小或聚光器的高低，使光線符合要求（一般將低倍物鏡換成高倍物鏡觀察時，視野要稍變暗一些，所以需要調節光線強弱）。

（九）觀察完畢，應先將物鏡鏡頭從通光孔處移開，然後將孔徑光闌調至最大，再將載物台緩緩落下，並檢查零件有無損傷（特別要注意檢查物鏡是否沾水沾油，如沾了水或油要用鏡頭紙擦凈），檢查處理完畢後即可裝箱。

七、光學顯微鏡的維護

（一）必須熟練掌握並嚴格執行使用規程。

（二）取送顯微鏡時一定要一手握住彎臂，另一手托住底座。顯微鏡不能傾斜，以免目鏡從鏡筒上端滑出。取送顯微鏡時要輕拿輕放。

（三）觀察時，不能隨便移動顯微鏡的位置。

（四）凡是顯微鏡的光學部分，只能用特殊的擦鏡頭紙擦拭，不能亂用他物擦拭，更不能用手指觸摸透鏡，以免汗液玷污透鏡。

（五）保持顯微鏡的乾燥、清潔，避免灰塵、水及化學試劑的玷污。

（六）轉換物鏡鏡頭時，不要搬動物鏡鏡頭，只能轉動轉換器。

（七）切勿隨意轉動調焦手輪。使用微動調焦旋鈕時，用力要輕，轉動要慢，轉不動時不要硬轉。

（八）不得任意拆卸顯微鏡上的零件，嚴禁隨意拆卸物鏡鏡頭，以免損傷轉換器螺口，或螺口松動後使低高倍物鏡轉換時不齊焦。

（九）使用高倍物鏡時，勿用粗動調焦手輪調節焦距，以免移動距離過大，損傷物鏡和玻片。

（十）用畢送還前，必須檢查物鏡鏡頭上是否沾有水或試劑，如有則要擦拭乾凈，並且要把載物台擦拭乾凈，然後將顯微鏡放人箱內，並注意鎖箱。

電子顯微鏡按成象原理不同有透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩類。
透射電鏡成象原理與透射式光學顯微鏡完全相同，只不過是將可見光照明換成電子束照明，將玻璃透鏡換成電磁透鏡，將成象的毛玻璃換成熒光屏。由於成象透鏡總是對通過它的光波有衍射效應（相當於小孔衍射），衍射效應會使象變得模糊，影響透鏡的解析度。可以計算照明源的波長越短，衍射效應的影響越小。電鏡中使用的電子波的波長只是可見光的十萬分之一，這樣電鏡的解析度大大提高了。
掃描電鏡成象就完全不同了，它是利用細聚焦高能電子束在樣品表面掃描激發出各種物理信號，如二次電子、背反射電子等。通過相應的檢測器來檢測這些信號，再將其轉換為視頻信號來調制顯像管的亮度。由於信號的強度與樣品表面的形貌、成分有對應關系，那麼逐點在樣品上掃描一個面積，在顯像管上就相應獲得該面積樣品表面的形貌或成分的一副圖象。掃描的面積越小，放大倍數就越高。

9. 什麼是電子顯微鏡

電子顯微鏡常用的有透射電鏡（transmission electron microscope，TEM）和掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope,SEM）。與光鏡相比電鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡並使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。與光鏡相比電鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡並使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。

成像原理

1． 透射電鏡技術透射電鏡技術
透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像， 投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。 透射電鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～幾十萬倍。透射電鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～幾十萬倍。 由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。 其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。 要在機體死亡後的數分鍾釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特製的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。要在機體死亡後的數分鍾釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特製的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。 稱電子密度高（electron dense）。稱電子密度高（electrondense）。 反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。反之，則稱為電子密度低（electronlucent）。

2． 掃描電鏡術掃描電鏡術
掃描電鏡是用極細的電子束在樣品表面掃描，將產生的二次電子用特製的探測器收集，形成電信號運送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。掃描電鏡是用極細的電子束在樣品表面掃描，將產生的二次電子用特製的探測器收集，形成電信號運送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。 （細胞、組織）表面的立體構像，可攝製成照片。 （細胞、組織）表面的立體構像，可攝製成照片。
掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經脫水和臨界點乾燥後,再於樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數。掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經脫水和臨界點乾燥後,再於樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數。 掃描電鏡能觀察較大的組織表面結構，由於它的景深長，1mm左右的凹凸不平面能清所成像，故放樣品圖像富有立體感。掃描電鏡能觀察較大的組織表面結構，由於它的景深長，1mm左右的凹凸不平面能清所成像，故放樣品圖像富有立體感。

相關知識

1. 光學顯微鏡以可見光為介質，電子顯微鏡為電子束為介質，由於電子束波長遠較可見光小，故電子顯微鏡解析度遠比光學顯微鏡高。 光學顯微鏡以可見光為介質，電子顯微鏡為電子束為介質，由於電子束波長遠較可見光小，故電子顯微鏡解析度遠比光學顯微鏡高。 光學顯微鏡放大倍率最高只有約 1500 倍，掃描式顯微鏡可放大到 10000 倍以上。 光學顯微鏡放大倍率最高只有約 1500 倍，掃描式顯微鏡可放大到 10000 倍以上。

2. 根據 de Broglie 波動理論，電子的波長僅與加速電壓有關： 根據 de Broglie 波動理論，電子的波長僅與加速電壓有關：
λ e ＝ h / mv ＝ h / (2qmV) 1/2 ＝ 12.2 / (V) 1/2 (�0�3) λ e ＝ h / mv ＝ h / (2qmV) 1/2 ＝ 12.2 / (V) 1/2 (�0�3) 在 10 KV 的加速電壓之下，電子的波長僅為 0.12�0�3 ，遠低於可見光的 4000 - 7000�0�3 ，所以電子顯微鏡解析度自然比光學顯微鏡優越許多，但是掃描式電子顯微鏡的電子束直徑大多在 50 - 100�0�3 之間，電子與原子核的彈性散射 (Elastic Scattering) 與非彈性散射 (Inelastic Scattering) 的反應體積又會比原有的電子束直徑增大，因此一般穿透式電子顯微鏡的解析度比掃描式電子顯微鏡高。 在 10 KV 的加速電壓之下，電子的波長僅為 0.12�0�3 ，遠低於可見光的 4000 - 7000�0�3 ，所以電子顯微鏡解析度自然比光學顯微鏡優越許多，但是掃描式電子顯微鏡的電子束直徑大多在 50 - 100�0�3 之間，電子與原子核的彈性散射 (Elastic Scattering) 與非彈性散射 (Inelastic Scattering) 的反應體積又會比原有的電子束直徑增大，因此一般穿透式電子顯微鏡的解析度比掃描式電子顯微鏡高。

3. 掃描式顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深 (depth of field) ，約為光學顯微鏡的 300 倍，使得掃描式顯微鏡比光學顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的試片。 掃描式顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深 (depth of field) ，約為光學顯微鏡的 300 倍，使得掃描式顯微鏡比光學顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的試片。

4. 掃描式電子顯微鏡，其系統設計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦後，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸 (Beam Size) 後，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (Objective Lens) 聚焦，打在試片上，在試片的上側裝有訊號接收器，用以擇取二次電子 (Secondary Electron) 或背向散射電子 (Backscattered Electron) 成像。 掃描式電子顯微鏡，其系統設計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦後，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸 (Beam Size) 後，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (Objective Lens) 聚焦，打在試片上，在試片的上側裝有訊號接收器，用以擇取二次電子 (Secondary Electron ) 或背向散射電子 (Backscattered Electron) 成像。

5. 電子槍的必要特性是亮度要高、電子能量散布 (Energy Spread) 要小，目前常用的種類計有三種，鎢 (W) 燈絲、六硼化鑭 (LaB 6 ) 燈絲、場發射 (Field Emission) ，不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩定度及電子源壽命等均有差異。 電子槍的必要特性是亮度要高、電子能量散布 (Energy Spread) 要小，目前常用的種類計有三種，鎢 (W) 燈絲、六硼化鑭 (LaB 6 ) 燈絲、場發射 (Field Emission) ，不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩定度及電子源壽命等均有差異。 透射電子顯微鏡 透射電子顯微鏡（英文：Transmission electron micros，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～百萬倍， 用於觀察超微結構，即小於0.2�0�8m、光學顯微鏡下無法看清的結構，又稱「亞顯微結構」。 成像原理 透射電子顯微鏡的成像原理可分為三種情況：

吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基於這種原理。
衍射像：電子束被樣品衍射後，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應於樣品中晶體各部分不同的衍射能力，當出現晶體缺陷時，缺陷部分的衍射能力與完整區域不同，從而使衍射缽的振幅分布不均勻，反映出晶體缺陷的分布。
相位像：當樣品薄至100�0�3以下時，電子可以傳過樣品，波的振幅變化可以忽略，成像來自於相位的變化。 組件 電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速後射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。
聚光鏡：將電子束聚集，可用已控制照明強度和孔徑角。
樣品室：放置待觀察的樣品，並裝有傾轉台，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻等設備。
物鏡：為放大率很高的短距透鏡，作用是放大電子像。物鏡是決定透射電子顯微鏡分辨能力和成像質量的關鍵。
中間鏡：為可變倍的弱透鏡，作用是對電子像進行二次放大。通過調節中間鏡的電流，可選擇物體的像或電子衍射圖來進行放大。
透射鏡：為高倍的強透鏡，用來放大中間像後在熒光屏上成像。
此外還有二級真空泵來對樣品室抽真空、照相裝置用以記錄影像。 透射電子顯微鏡結構包括兩大部分：主體部分為照明系統、成像系統和觀察照相室；輔助部分為真空系統和電氣系統。
1、照明系統
該系統分 成兩部分：電子槍和會聚鏡。電子槍由燈絲(陰極)、柵級和陽極組成。加熱燈絲發射電子束。在陽極加電壓，電子加速。陽極與陰極間的電位差為總的加速電壓。經加速而具有能量的電子從陽極板的孔中射出。射出的電子束能量與加速電壓有關，柵極起控制電子束形狀的作用。電子束有一定的發散角，經會聚鏡調節後，可望 得到發散角，很小甚至為0的平行電子束。電子束的電流密度(束流)可通過調節會聚鏡的電流來調節。

樣品上需要照明的區域大小與放大倍數有關．放大倍數愈高，照明區域愈小，相應地要求以更細的電子束照明樣品．由電子槍直接發射出的電子束的束斑尺寸較大，相乾性也較差。為了更有效地利用這些電子，獲得亮度高、相乾性好的照明電子束以滿足透射電鏡在不同放大倍數下的需要，由電子槍子槍發射出來的電子束還需要進 一步會聚，提供束斑尺寸不同、近似平行的照明束．這個任務通常由兩個被叫做聚光鏡的電磁透鏡完成．圖中C1和C2分別表示第一聚光鏡和第二聚光鏡．C1通 常保持不變，其作用是將電子槍的交叉點成一縮小的像，使其尺寸縮小一個數量級以上．此外，在照明系統中還安裝有束傾斜裝置，可以很方便地使電子束在 2°～3°的范圍內傾斜，以便以某些特定的傾斜角度照明樣品。

2、成像系統
該系統包括樣品室、物鏡、中間鏡、反差光欄、衍射光欄、投射鏡以及其它電子光學部件。樣品室有一套機構，保證樣品經常更換時不破壞主體的真空。樣品可在X、Y二方向移動，以便找到所要觀察的位置。經過會聚鏡得到的平行電子束照射到樣品上，穿過樣品後就帶有反映樣品特徵的信息，經物鏡和反差光欄作用形成一次電子圖象，再經中間鏡和投射鏡放大一次後，在熒光屏上得到最後的電子圖象。

照明系統提供了一束相乾性很好的照明電子束，這些電子穿越樣 品後便攜帶樣品的結構信息，沿各自不同的方向傳播(比如，當存在滿足布拉格方程的晶面組時，可能在與入射束交成2θ角的方向上產生衍射束)．物鏡將來自樣 品不同部位、傳播方向相同的電子在其背焦面上會聚為一個斑點，沿不同方向傳播的電子相應地形成不同的斑點，其中散射角為零的直射束被會聚於物鏡的焦點，形成中心斑點．這樣，在物鏡的背焦面上便形成了衍射花樣．而在物鏡的像平面上，這些電子束重新組合相干成像．通過調整中間鏡的透鏡電流，使中間鏡的物平面與 物鏡的背焦面重合，可在熒光屏上得到衍射花樣若使中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合則得到顯微像．通過兩個中間鏡相互配合，可實現在較大范圍內調整相機長度和放大倍數。

透射電子顯微鏡與透射光學顯微鏡光路比較

3、觀察照相室
電子圖像反映在熒光屏上。熒光發光和電子束流成正比。把熒光屏換成電子干板，即可照相。干板的感光能力與其波長有關。
4、真空系統
真 空系統由機械泵、油擴散泵、離子泵、真空測量儀表及真空管道組成。它的作用是排除鏡筒內氣體，使鏡筒真空度至少要在10-5托以上，目前最好的真空度可以 達到10-9—10-10托。如果真空度低的話，電子與氣體分子之間的碰撞引起散射而影響襯度，還會使電子柵極與陽極間高壓電離導致極間放電，殘余的氣體還會腐蝕燈絲，污染樣品。
5、供電控制系統
加速電壓和透鏡磁電流不穩定將會產生嚴重的色差及降低電鏡的分辨本領，所以加速電壓和透 鏡電流的穩定度是衡量電鏡性能好壞的一個重要標准。透射電鏡的電路主要由以下部分組成，高壓直流電源、透鏡勵磁電源、偏轉器線圈電源、電子槍燈絲加熱電源，以及真空系統控制電路、真空泵電源、照相驅動裝置及自動曝光電路等。
另外，許多高性能的電鏡上還裝備有掃描附件、能譜議、電子能量損失譜等儀器。透射電子顯微鏡結構和成像原理 應用 透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最後的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對於液體樣品，通常是掛預處理過的銅網上進行觀察。

10. 什麼是鏡像對稱電路以其實例說明其特點

鏡像電路一般都是分離器件搭建的，主要是三極體或mos管，輸出主要是電流，鏡像電流輸出恆定一般用於電流源，因為輸出管是控制反饋管的鏡像，因此輸出電流在一定負載下不隨負載變化而變化。