❶ 探针是什么呀
probe
定义1：(1)分子生物学和生物化学实验中用于指示特定物质(如核酸、蛋白质、细胞结构等)的性质或物理状态的一类标记分子。(2)一些仪器的探测器。如pH探头、离子探头等。所属学科：生物化学与分子生物学（一级学科）；方法与技术（二级学科）
定义2：用生物素或放射性元素标记的核苷酸片段。所属学科： 水产学（一级学科）；水产生物育种学（二级学科）
定义3：在分子杂交中用来检测互补序列的带有标记的单链DNA或RNA片段。所属学科：细胞生物学（一级学科）；细胞生物学技术（二级学科）
定义4：在分子杂交中用来检测互补序列的带有标记的单链DNA或RNA片段。所属学科：遗传学（一级学科）；分子遗传学（二级学科）
试验探针
1、 试具A探针：ZLT-I01
产品概述：
符合IEC61032图1试具A、GB16842试具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等标准要求。用于防止手背触及的防护检验。
●可订制带50±5N推力。
2、 标准试验指：ZLT-I02
产品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883图1、IEC61032图2试具B、IEC950图2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842试具B、UL507、EN60529图1、UL1278图8.4等标准要求。用于防止手指触及或防触电检验的防护检验。
●可订制带10±1N推力。
3、直径50圆挡板标准试验指：ZLT-I02A
产品概述：
符合GB4706-1：20.2、IEC60335-1：20.2条款要求，挡板为直径50㎜圆挡板，其他尺寸与ZLT-I02相同。
4、直径125大挡板试验指：ZLT-I02B
产品概述：
符合GB4706-30：20.2、IEC60335-2-14：20.2条款要求，挡板为直径125㎜圆挡板，从试验指尖端到挡板距离为100㎜，其他尺寸与ZLT-I02相同。
5、试具C探针：ZLT-I03
产品概述：
符合IEC61032图2试具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842试具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持工具触及的防护检验。
●可订制带3±0.3N推力。
7、 试具D探针：ZLT-I04
产品概述：
符合IEC61032图4试具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842试具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持金属丝触及的防护检验。
●可订制带1±0.1N推力。
8、 试验钢球：ZLT-I05
产品概述：
符合IEC61032图5试具1、IEC60529IP1、GB4208IP1 等标准要求， 直径为50+0.05。用以检验防止直径大于等于50㎜的固异物进入设备内部。
●可订制带手柄。
8、试验钢球：ZLT-I06
产品概述：
符合IEC61032图6试具2、IEC60529IP2、GB4208IP2 等标准要求,直径为12.5+0。2。用以检验防止直径大于等于12.5的固异物进入设备内部。
● 可订制带手柄。
9、试验直指：ZLT-I07/I07A
产品概述：
符合IEC61032图7试具11、GB/T16842试具11、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000、IEC60335、GB4706等标准要求。用于检验防止人体触及部件，也可用于检验外壳的孔或外壳内部挡板的机械强度。
ZLT-I07A带有非圆形限位板，其他尺寸与ZLT-I07相同。
●可订制带10～50N推力，型号：ZLT-TZ1
●可订制带10～75N推力，型号：ZLT-TZ2
●可订制带 5～30N推力，型号：ZLT-TZ3
10、试验长销：ZLT-I08
产品概述：
符合IEC61032图8试具12、GB/T16842试具12等标准要求，用于检验带电部件或机械部件是否被触及。
11、 试验销：ZLT-I09
产品概述：
符合IEC61032图9试具13、GB/T16842试具13、IEC60950图2B、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等标准，用于检验0类设备和Ⅱ类设备中危险的带电部件是否被触及。
12、 试具14探针：TZL-I10
产品概述：
符合IEC61032图10试具14要求，用于检验通过电气插座的防护外罩能否触及内部的危险带电部件，配尼龙手柄。
13、 试具17探针：ZLT-I11
产品概述：
符合IEC61032图11试具17要求，用于检验电动玩具的带电部件是否被触及，配尼龙手柄。
14、 儿童试验指：ZLT-I12
产品概述：
符合IEC61032图12试具18要求，用于模拟大于36个月而小于14岁的儿童是否触及危险部件。
15、 儿童试验指：ZLT-I13
产品概述：
符合IEC61032图13试具19要求，用于模拟36个月及以下的儿童是否触及危险部件。
16、 试具31探针：ZLT-I14
产品概述：
符合IEC61032图14试具31、GB/T16842试具31要求，用于检验残剩余食品处理装置的碾磨系统的危险机械部件是否被触及。
17、 试具32探针：ZTL-I15
产品概述：
符合IEC61032图15试具32、GB/T16842试具32要求，用于检验风扇外罩的防止触及危险机械部件的作用，配尼龙手柄。
18、 试验探针：ZLT-I16
产品概述：
符合IEC61032图16试具41、GB/T16842试具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等标准要求，用于检验灼热部件被触及。
19、 试具43探针：ZLT-I17
产品概述：
符合IEC61032图17试具43、GB/T16842试具43等标准要求，用于检验固定式或便携式可见热辐射取暧器的保护。
20、 试验钩：ZLT-I18
产品概述：
符合GB8898图4、IEC60065图4等标准要求，用于检验危险带电零部件是否被触及。
21、 天线同轴插座机械试验用试验插头：ZLT-I19
产品概述：
符合GB8898图8、IEC60065图8等标准要求，用于检验安装在设备上而且装有将危险带电件与可触及零部件隔离的零部件或元器件的天线同轴插座，其结构应能承受在预期使用时可能会遇到的机械应力。
22、 带推力试验探针：ZLT-I20
产品概述：
符合GB2099-2008图9、IEC60884图9等标准要求，用于检验带保护门的插座的带电部件是否触及。
●尺寸：3×1㎜，长80㎜，20N推力。
23、 带推力试验探针：ZLT-I21
产品概述：
符合GB2099-2008图10、IEC60884图10等标准要求，用于对带保护门的带电部件及有加强保护插座的带电部件的不可触及性的检验。
●尺寸：直径1㎜，长80㎜，1N推力。
24、 试验指甲：ZLT-I22
产品概述：
符合IEC60335图7、GB4706.1图7等标准要求，适用于对电击水或接触运动部件的不可拆卸零件能否经受得住正常使用中出现的机械应力，达到规定防护等级进行测试的设备，可施加10N、20N、30N三种测试力。
25、试验探头：ZLT-I23
产品概述：
符合IEC60950图2C、GB4943图2C、IEC60065、GB8898等标准要求，用于对信息技术设备的TNV电路的裸露部件是否有足够的保护。
26、直径8试验探棒：ZLT-P01
产品概述：
符合IEC60335-2-14：20.102、GB4706-30：20.102等标准条款要求，直径:8㎜，长:80㎜，配手柄。
27、直径75钢球探针：ZLT-P02
产品概述：
符合IEC60335-2-24：21.102条款、GB4703.13:21.102条款要求，用于检验家电产品上的灯是否合格。
●钢球直径：75㎜，可订制带手柄。
28、划痕工具：ZLT-P03
产品概述：
符合IEC60335-2-24图102、GB4706.13图102等标准要求，用于对家电中所有受保护冷却系统的易触及元件表面，包括与受保护冷却系统紧密接触的易触及表面进行刮擦试验。
29、试具探针：ZLT-P04
产品概述：符合IEC60065：9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等标准条款要求。
●尺寸：直径4㎜，长100㎜。
30、直径3试验探针：ZLT-P05
产品概述：
符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706：22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等标准要求，用于对操作微波炉的隐蔽的门联锁装置。
●尺寸：直径3㎜，长100㎜。
❷ 要用测试探针的是什么工厂
测试探针的用途较广，根据电子测试的用途，可将探针分为：
光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路测试探针；
在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的测试探针；
微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC测试探针。
根据测试探针的种类，可分为：
1.ICT探针：主要用于在线电路测试和功能测试，也称ICT测试和FCT测试，是目应用较多的一种探针。
2.界面探针：非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，用于测试机台与测试夹具的接触点和面。
3.微型探针：两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm。
4.开关探针：开关探针单独一支探针有两路电流。
5.高频探针：用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的，还有500MHz不带屏蔽圈的。
6.旋转探针：弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试。
7.高电流探针：探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps。
8.半导体探针：直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic。
9.电池接触探针：一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长。
10.汽车线束测试探针：专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0-3.5mm之间，电流在3-50A。
除了以上几种类型的探针外，还有比较少用的温度探针，Kelvin探针等。
以上提到的需要用到测试治具和需要进行电子测试的都会用到测试探针。大电流弹片微针模组是测试探针的一种，在电子测试中，用于手机电池、屏幕、摄像头等连接器模组测试。
❸ 有哪些公司用探针
地质勘探公司等有关勘探工作的单位使用探针，还有制造勘探仪器的工厂供配套用
❹ 探针有哪些种类可以运用在什么地方
探针种类有很多，有医疗类，气象类，地理类等等，这些都是电子成品为主，下面讲一下测试类电子电路类。
测试类电子电路主要有射频针，BGA，ATE，FCT以及MDA/ICT等等，主要是应用在MDA/ICT/Function等相关主板检测治具，可在生产过程中将不良主板检测出来。
射频就是射频电流，是一种高频交流变化电磁波的简称，对于GSM、WCDMA、CDMA2000及蓝牙（bluetooth）、wifi、wimax等的测试统属于RF测试，多为无线通讯。
BGA是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路板（PCB）互接。用LH（台湾錂鋐）半导体探针或模组来检测读写程式设计。
ATE通常为流线测试设备，测试于半导体产业意指积体电路（IC）自动测试机，用于检测积体电路功能之完整性，为积体电路生产制造之最后流程，以确保积体电路生产制造之品质。
FCT就是功能测试，在ICT测试OK后，就可以进行功能测试，看PCBA是否工作正常，达到设计的功能。主要用于被测物的转接后测试，简化人工插拔的动作，提升生产效率。
ICT/MDA主要用于被测物的测贴透过探针转接后测试，可体测项目如：检测Open.short，电阻阻值量测，电容容值量测，电感感量量测，二极体量测，电晶体量测，电压量测，IC量测，路线量测等检测。
❺ 探针是什么用于哪些方面
DNA探针，一般是带有标记基因的DNA链，它和待检的DNA链结合来检测某些基因的存在，用在医学上可以检测基因遗传病（原理简单，就像拼图一样）。
❻ 常用探针有哪些种类，选择此形状的原因
目前常用的荧光探针有荧光素类探针、无机离子荧光探针、荧光量子点、分子信标等。荧光探针除应用于核酸和蛋白质的定量分析外，在核酸染色、DNA电泳、核酸分子杂交、定量PCR技术以及DNA测序上都有着广泛的应用。
目前，检测荧光探针的方法主要有单点测定和电荷耦合装置（CCD）荧光成像（包括用于微区分析的激光共聚焦荧光显微镜成像）。由于光电倍增管点扫描时间较长，激光照射强度高，很难抓住荧光早期变化。而CCD荧光成像的面阵大，成像视野广，成像时间可以调节，因而检测效果比较好。
化学发光检测的最大特点是设备简单、操作简便、分析速度快及灵敏度高。化学发光成像分析(CLI)是将化学发光与成像技术相结合，从而具有分辨率高、多样品同时检测、光谱响应范围宽以及灵敏度高等特点[10,11]，已广泛应用于凝胶、蛋白印记及微阵列芯片中的化学发光信号检测。本实验建立了TCPO?咪唑?H2O2?荧光探针化学发光成像体系。由于化学发光不需要任何光源，因而在对荧光探针进行化学发光成像检测时，不存在荧光检测或者荧光成像时不可避免的光学背景的干扰，从而可以获得更低的检出限。用此体系对5种荧光探针进行定量分析，并研究了用四甲基异硫氰酸罗丹明（TRITC）标记的单克隆羊抗人IgG的化学发光成像，检出限达10－11mol/L，比相同条件下荧光成像的检出限低一个数量级。
❼ 哪些地方要用到探针
伟创力，富士康，捷普等EMS工厂都是探针消耗大公司！
如果说笼统一点：电子代加工工厂 最多
❽ 探针行业中有哪些牌子的测试探针和供应测试针的厂家
探针行业中的测试探针有pogopin探针模组、弹片微针模组，还有高频探针、射频专探针、大电流探针等等。
凯/智属/通 微电子拥有弹片微针模组的独家专利权，弹片微针模组可应用于手机电池、屏幕、摄像头模组、指纹模组的测试，以及板对板连接器、FPC连接器测试等等。
弹片微针模组是一体成型式的弹片结构，体型轻薄，镀金后经过加硬处理，可承载的电流最高能达到50A，电流传输时流通于同一材料体内，具有更好地连接功能；
在小pitch领域适应性很强，可取值范围最小可达到0.15mm，性能很稳定；
平均使用寿命可达到20w次以上，在操作、保养、环境都很好的情况下能达到50w次，使用寿命长，无需经常更换。在高频率的测试中，有着较好的应对能力，可保持稳定的连接。
在手机电池、屏幕、摄像头等连接器模组测试时，弹片微针模组可用不同的头型分别应对连接器公母座，使连接更稳定。测试公座时，可用锯齿型弹片与连接器公座顶部弹片多点接触，保证接触的稳定性；测试母座时，可用尖头型弹片与连接器母座的弹片两面一直保持接触状态，保证连接的稳定性。母座测试良率可达到99.8%。
❾ 电子探针用途有哪些
可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。该仪器将高度聚焦的电子束聚焦在矿物上内，激发组成矿物元容素的特征X射线。用分光器或检波器测定荧光X射线的波长，并将其强度与标准样品对比，或根据不同强度校正直接计数出组分含量。