数字电路参数_关于集成电路参数的问题

㈠数字电路的基本参数是什么

在数字电子技术中，被传递、加工和处理的信号时数字信号，这类信号的特点是
在时间上专和幅值上都是属断续变化的离散信号。其高电平和低电平常用0和1来表示。用于传递、加工和处理数字信号的电路，称作数字电路。
数字电路可分为分立元件电路和集成元件电路两大类。
是一个比较笼统的概念，要有针对性的元件才会有基本参数！

㈡数字电路做时钟要图要参数

图

㈢逻辑值0,1如何在数字电路中体现，用74芯片参数列表为例解释一下

在数字电路中是用输入/输出的电压高低来体现的，通常叫电平。
当电压低于1V时，称为低电平，表示逻辑0。
当电压高于2V时，称为高电平，表示逻辑1。
这个电平也称为TTL电平。

㈣什么是数字电路，什么是模拟电路，区别在哪里

简单地说就是：数字电路的输入和输出电压值要么与电源电压接近，要么与0V接近，只有这两种情况。而模拟电路的输入和输出会在电源电压和0V之前连续变化。

㈤数字逻辑芯片中经常有这两个参数如下,分别代表什么意思呢

LSTTL 是低功耗TTL的意思，TTL是一种逻辑门电路
Loads 是负载的意思，是Load的复数形式

第一个就是有10个LSTTL类型的负载
第二个就是有15个LSTTL类型的负载

㈥数字集成电路测试中的直流参数测试项目包括哪些

包括 1. 开路/短路测试(输入箝（同钳，qian)位电压VIK的测试）
开短路测试（又称OPEN/SHORT 测试，O/S测试，continuity test 或contact test），主要是用于测试电子器件的连接情况，顾名思义，开短路测试就是测试开路与短路，具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路，如果不应该连接的地方连接了就是短路。通常都会被放测试程序的最前面。
2.输出高低电平（VOH/VOL)测试
VOH/VOL测试的目的是检查器件在指定电压下输出电流的能力。输入端在施加规定的电平信号下，使输出端位逻辑高/低电平时的电压。VCC通常位规定范围的最小值，测试使用IFVM（加恒流测电压）方式，对于VOH测试，在输出端抽取规定范围的IOH，其余输出端开路，同时测量该输出端的电压VOH。同理对于测量VOL时候，抽取IOL，测量到的电压就为VOL。这两个参数的测试主要时检查器件的抗干扰能力。
3.输入高/低(IIH/IIL)电流测试
输入端在输入规定的电压值VIH/VIL时候，测量到流入输入端的电流值IIH/IIL。目的是检查DUT的输入负载特性。这个参数主要时验证器件接受逻辑值1和0的能力。
4.输入漏电流II测试
所谓泄漏电流是指在没有故障施加电压的情况下，电气中带相互绝缘的金属零件之间，或带电零件与接地零件之间，通过其周围介质或绝缘表面所形成的电流称为泄漏电流。输入端在输入最大电压VL时流入被测试器件的电流。VCC设定为规范中的最大值。和测量输入高低电流方法一样，只是加压和测量的电流值不一样。其余输入端加规定电平。输出端开路。IL用于检查器件的扇入负载的特性。泄漏电流实际上就是电气线路或设备在没有故障和施加电压的作用下，流经绝缘部分的电流。因此，它是衡量电器绝缘性好坏的重要标志之一，是产品安全性能的主要指标。检测的意义在于判断产品耐高压的安全性。
5.输出短路电路IOS测试（output short circuit current test)
输出短路电流（IOS），顾名思义，就是输出端口处于短路状态时的电流。
6.输出高阻电流（IOZH/IOZL）
IOZL指的是一个低电平施加在一个处于高阻态的输出管脚上，管脚上产生的漏电流，与之类似，IOZH指的是一个高电平施加在一个处于高阻态的输出管脚上，管脚上产生的漏电流。
7.电源电流测试
电源电流测试包括IDD总电流测试（IDD Gross Current），IDD静态电流测试（IDD static Current），IDDQ测试，动态IDD测试（Dynamic Current）。在输入端施加规定的电平使输出端为逻辑高高电平，此时流经器件电源输入端的电流为ICCH，同理当输出端表现为逻辑低电平时，对应为ICCL。此测量用于检查器件的功耗。

㈦电路的基本参数

模拟电路参数种类众多

1 数据采集器

实践表明，采用机内测试技术能较大程度提高设备的可靠性和可维修性。

目前，一些有高可靠性要求的模拟电路也开始采用BIT技术。由于数据采集器中包含大量模拟电路和数字电路，使得在这类设备上采用BIT技术具有一定的难度。以边界扫描BS(Boundary-Scan)为主的BIT设计技术在数字电路的检测方面已经非常成熟，但其模拟电路的测试还不是很完善，因为模拟电路故障诊断存在以下一些难题：

(1) 模拟电路参数种类众多，而且元件参数存在容差，使得许多诊断方法失去了准确性和稳定性。

(2) 模拟电路的多样性以及电参数模拟困难造成模拟的模型适应性有限。

(3) 为保证模拟电路的精度，通常只有少量可及端口和节点可以测量，故障诊断的信息量不够，造成故障定位的不确定性和模糊性。

(4) 模拟电路故障种类众多，原因复杂，易出现新类型未记录的故障。

数据采集器的模拟电路在检测过程中除了需要考虑上述的因素外，还要关注其放大器的增益精度、输入噪声水平、零点飘移、共模抑制比、建起时间、频率响应等采集器的性能参数。

2 数据采集器模拟部分自检测原理

2.1 数据采集器模拟部分的结构和易发故障分析

数据采集器是对多路模拟电压信号进行测量、转换的电子设备，是模拟、数字电路的混合产品。其模拟部分的基本组成可分为：多路开关、可编程放大器(PGA)、共模抑制电路、低通滤波电路和A／D转换等几个部分。其中可编程放大器容易出现的故障有零点漂移、增益误差、共模抑制比下降等。随着时间和工作环境的变化，电路元件自身的一些特性也会发生变化，可能导致上述故障的出现，而这些故障对数据采集器的测量精度会造成很大影响。

滤波器的元件参数变化会导致滤波器频率特性发生变化，同时在时域上也会对电路的建起时间产生不利的影响，从而影响了数据采集器的精度。因此为了保证测量数据的精度应及时对这些故障进行检测。

㈧常用模拟电路的主要技术参数

㈨关于集成电路参数的问题

常用4000系列数字电路的中文名称资料
型号器件名称厂牌备注
CD4000 双3输入端或非门+单非门 TI
CD4001 四2输入端或非门 HIT/NSC/TI/GOL
CD4002 双4输入端或非门 NSC
CD4006 18位串入/串出移位寄存器 NSC
CD4007 双互补对加反相器 NSC
CD4008 4位超前进位全加器 NSC
CD4009 六反相缓冲/变换器 NSC
CD4010 六同相缓冲/变换器 NSC
CD4011 四2输入端与非门 HIT/TI
CD4012 双4输入端与非门 NSC
CD4013 双主-从D型触发器 FSC/NSC/TOS
CD4014 8位串入/并入-串出移位寄存器 NSC
CD4015 双4位串入/并出移位寄存器 TI
CD4016 四传输门 FSC/TI
CD4017 十进制计数/分配器 FSC/TI/MOT
CD4018 可预制1/N计数器 NSC/MOT
CD4019 四与或选择器 PHI
CD4020 14级串行二进制计数/分频器 FSC
CD4021 08位串入/并入-串出移位寄存器 PHI/NSC
CD4022 八进制计数/分配器 NSC/MOT
CD4023 三3输入端与非门 NSC/MOT/TI
CD4024 7级二进制串行计数/分频器 NSC/MOT/TI
CD4025 三3输入端或非门 NSC/MOT/TI
CD4026 十进制计数/7段译码器 NSC/MOT/TI
CD4027 双J-K触发器 NSC/MOT/TI
CD4028 BCD码十进制译码器 NSC/MOT/TI
CD4029 可预置可逆计数器 NSC/MOT/TI
CD4030 四异或门 NSC/MOT/TI/GOL
CD4031 64位串入/串出移位存储器 NSC/MOT/TI
CD4032 三串行加法器 NSC/TI
CD4033 十进制计数/7段译码器 NSC/TI
CD4034 8位通用总线寄存器 NSC/MOT/TI
CD4035 4位并入/串入-并出/串出移位寄存 NSC/MOT/TI
CD4038 三串行加法器 NSC/TI
CD4040 12级二进制串行计数/分频器 NSC/MOT/TI
CD4041 四同相/反相缓冲器 NSC/MOT/TI
CD4042 四锁存D型触发器 NSC/MOT/TI
CD4043 4三态R-S锁存触发器("1"触发) NSC/MOT/TI
CD4044 四三态R-S锁存触发器("0"触发) NSC/MOT/TI
CD4046 锁相环 NSC/MOT/TI/PHI
CD4047 无稳态/单稳态多谐振荡器 NSC/MOT/TI
CD4048 4输入端可扩展多功能门 NSC/HIT/TI
CD4049 六反相缓冲/变换器 NSC/HIT/TI
CD4050 六同相缓冲/变换器 NSC/MOT/TI
CD4051 八选一模拟开关 NSC/MOT/TI
CD4052 双4选1模拟开关 NSC/MOT/TI
CD4053 三组二路模拟开关 NSC/MOT/TI
CD4054 液晶显示驱动器 NSC/HIT/TI
CD4055 BCD-7段译码/液晶驱动器 NSC/HIT/TI
CD4056 液晶显示驱动器 NSC/HIT/TI
CD4059 “N”分频计数器 NSC/TI
CD4060 14级二进制串行计数/分频器 NSC/TI/MOT
CD4063 四位数字比较器 NSC/HIT/TI
CD4066 四传输门 NSC/TI/MOT
CD4067 16选1模拟开关 NSC/TI
CD4068 八输入端与非门/与门 NSC/HIT/TI
CD4069 六反相器 NSC/HIT/TI
CD4070 四异或门 NSC/HIT/TI
CD4071 四2输入端或门 NSC/TI
CD4072 双4输入端或门 NSC/TI
CD4073 三3输入端与门 NSC/TI
CD4089 二进制比例乘法器
CD4093 四2输入端施密特触发器 NSC/MOT/ST
CD4094 8位移位存储总线寄存器 NSC/TI/PHI
CD4095 3输入端J-K触发器
CD4096 3输入端J-K触发器
CD4097 双路八选一模拟开关
CD4098 双单稳态触发器 NSC/MOT/TI
CD4099 8位可寻址锁存器 NSC/MOT/ST
CD40100 32位左/右移位寄存器
型号器件名称厂牌备注
CD40101 9位奇偶较验器
CD40102 8位可预置同步BCD减法计数器
CD40103 8位可预置同步二进制减法计数器
CD40104 4位双向移位寄存器
CD40105 先入先出FI-FD寄存器
CD40106 六施密特触发器 NSC\TI
CD40107 双2输入端与非缓冲/驱动器 HAR\TI
CD40108 4字×4位多通道寄存器
CD40109 四低-高电平位移器
CD40110 十进制加/减,计数,锁存,译码驱动 ST
CD40147 10-4线编码器 NSC\MOT
CD40160 可预置BCD加计数器 NSC\MOT
CD40161 可预置4位二进制加计数器 NSC\MOT
CD40162 BCD加法计数器 NSC\MOT
CD40163 4位二进制同步计数器 NSC\MOT
CD40174 六锁存D型触发器 NSC\TI\MOT
CD40175 四D型触发器 NSC\TI\MOT
CD40181 4位算术逻辑单元/函数发生器
CD40182 超前位发生器
CD40192 可预置BCD加/减计数器(双时钟) NSC\TI
CD40193 可预置4位二进制加/减计数器 NSC\TI
CD40194 4位并入/串入-并出/串出移位寄存 NSC\MOT
CD40195 4位并入/串入-并出/串出移位寄存 NSC\MOT
CD40208 4×4多端口寄存器
CD4501 4输入端双与门及2输入端或非门
CD4502 可选通三态输出六反相/缓冲器
CD4503 六同相三态缓冲器
CD4504 六电压转换器
CD4506 双二组2输入可扩展或非门
CD4508 双4位锁存D型触发器
CD4510 可预置BCD码加/减计数器
CD4511 BCD锁存,7段译码,驱动器
CD4512 八路数据选择器
CD4513 BCD锁存,7段译码,驱动器(消隐)
CD4514 4位锁存,4线-16线译码器
CD4515 4位锁存,4线-16线译码器
CD4516 可预置4位二进制加/减计数器
CD4517 双64位静态移位寄存器
CD4518 双BCD同步加计数器
CD4519 四位与或选择器
CD4520 双4位二进制同步加计数器
CD4521 24级分频器
CD4522 可预置BCD同步1/N计数器
CD4526 可预置4位二进制同步1/N计数器
CD4527 BCD比例乘法器
CD4528 双单稳态触发器
CD4529 双四路/单八路模拟开关
CD4530 双5输入端优势逻辑门
CD4531 12位奇偶校验器
CD4532 8位优先编码器
CD4536 可编程定时器
CD4538 精密双单稳
CD4539 双四路数据选择器
CD4541 可编程序振荡/计时器
CD4543 BCD七段锁存译码,驱动器
CD4544 BCD七段锁存译码,驱动器
CD4547 BCD七段译码/大电流驱动器
CD4549 函数近似寄存器
CD4551 四2通道模拟开关
CD4553 三位BCD计数器
CD4555 双二进制四选一译码器/分离器
CD4556 双二进制四选一译码器/分离器
CD4558 BCD八段译码器
CD4560 "N"BCD加法器
CD4561 "9"求补器
CD4573 四可编程运算放大器
CD4574 四可编程电压比较器
CD4575 双可编程运放/比较器
CD4583 双施密特触发器
CD4584 六施密特触发器
CD4585 4位数值比较器
CD4599 8位可寻址锁存器
CD22100 4×4×1交*点开关

江苏XX供电公司马德明

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